ضوء المحسن حمض الهيدروفلوريك التخميل: تقنية حساسة للكشف عن العيوب السيليكون السائبة
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
9.2K Views
•
09:15 min
•
January 4th, 2016
DOI :
January 4th, 2016
•Explore More Videos
Chapters in this video
0:05
Title
1:02
Cleaning and Etching the Silicon Wafers
4:08
Silicon Wafer Passivation and Photoconductive (PC) Measurement
7:08
Results: Silicon Wafer Photoconductive Measurement after Surface Passivation
8:10
Conclusion
Related Videos
11:08
تصنيع وتوصيف الدليل الموجي الكريستال الضوئية الخفيفة بطيئة وتجاويف
18.8K Views
09:45
الاتصال أحادي الطبقة المنشطات من السيليكون السطوح والأسلاك المتناهية الصغر عن طريق المركبات الفوسفورية العضوية
7.6K Views
08:48
انتقائية المساحة تعديل السيليكون بلل السطح بواسطة الليزر النبضي للأشعة فوق البنفسجية تشعيع في البيئة السائلة
8.2K Views
11:14
توصيف شامل العيوب الممتدة في المواد أشباه الموصلات من خلال مجهر المسح الإلكتروني
13.6K Views
07:15
طريقة جديدة ل
9.1K Views
09:59
تلفيق من أجهزة الاستشعار صورة مرنة تستند إلى فوتوترانسيستورس نيبن الأفقي
7.7K Views
08:53
توليف، الروغان، وتوصيف جسيمات نانوية مسامية السليكون فوسوجينيك لإيصال اليغنوكليوتيد
7.5K Views
08:02
تقديم SiO2/ Si Surfaces Omniphobic بواسطة نحت مواد دقيقة متشابكة بالغاز تتألف من Reentrant وDoubli Reentrant Cavities أو الأعمدة
8.8K Views
09:18
الطباعة النانوية الكهروكيميائية بمساعدة المعادن لرقائق السيليكون المسامية والصلبة
3.9K Views
13:49
تخطيط الاشعه الايونيه المركزة لحفر نانو-البنيات في ميكرواقطاب
6.6K Views
Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. All rights reserved