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Method Article
在这里, 我们提出了时间分辨红外振动光谱和电子衍射差分检测分析的协议, 使对 photoexcited 分子在柱状体周围局部结构变形的观测液晶, 对这种感光材料的结构与动力学的关系给出了一个原子视角。
本文讨论了用时间分辨红外 (IR) 振动光谱和时间分辨电子衍射对液晶 (LC) 相中分子的实验测量。液晶相是固体和液相之间存在的重要物质状态, 在自然系统以及有机电子学中是常见的。液晶是 orientationally 有序的, 但松散的包装, 因此, 可通过外部刺激修改 LCs 分子成分的内部构象和对齐。尽管先进的时间分辨衍射技术已经揭示了单晶体和多晶体的皮秒尺度分子动力学, 但对填料结构的直接观测和软材料的超快动力学却受到模糊衍射图案。在这里, 我们报告时间分辨红外振动光谱学和电子衍射获取一个柱状 LC 材料轴承感光核心基团的超快快照。时间分辨红外振动光谱与电子衍射相结合的差分检测分析是软材料结构表征和光致动力学的有力工具。
液晶 (LCs) 具有多种功能, 广泛应用于科技应用领域1,2,3,4,5,6。LCs 的行为可以归结为他们的取向排序以及他们的分子的高机动性。lc 材料的分子结构通常以基团芯和长柔性碳链为特征, 保证 lc 分子的高流动性。在外部刺激下7,8,9,10,11,12,13,14,15, 如光、电场、温度变化或机械压力, LC 分子的小内和分子间运动会导致系统结构重新排列, 从而导致其功能行为。为了了解 lc 材料的作用, 确定 lc 相的分子尺度结构, 确定分子构象和填料变形的关键运动是重要的。
x 射线衍射 (XRD) 通常被用来作为一个强大的工具来确定 LC 材料的结构16,17,18。然而, 由功能刺激反应的核心产生的衍射模式常常被长碳链中的宽晕模式所掩盖。通过时间分辨衍射分析, 可以有效地解决这一问题, 通过 photoexcitation 对分子动力学进行直接观察。该技术利用 photoexcitation 前后衍射模式的差异, 提取 photoresponsive 芳香基团的结构信息。这些差异提供了消除背景噪声和直接观察兴趣结构变化的手段。对差分衍射模式的分析仅揭示了感光基团的调制信号, 从而排除了非 photoresponsive 碳链的有害衍射。在哈达、m et al19中提供了这种微分衍射分析方法的描述。
时间分辨衍射测量可以提供关于在材料的相变过程中发生的原子重排的结构信息20,21,22,23,24,25,26,27,28,29和分子之间的化学反应30,31,32,33,34。考虑到这些应用, ultrabright 和超短脉冲 X 射线35、36和电子37、38、39的开发取得了显著进展。,40源。然而, 时间分辨衍射只适用于简单的, 孤立的分子或单或多晶, 其中高度有序的无机晶格或有机分子产生良好的解析衍射模式提供结构信息。相比之下, 较复杂的软材料的超快结构分析由于它们的有序阶段较少而受到阻碍。在本研究中, 我们演示了利用时间分辨电子衍射以及瞬态吸收光谱和时间分辨红外 (IR) 振动光谱学来表征感光 LC 材料的结构动力学, 使用此衍射提取方法19。
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1. 时间分辨红外振动光谱学
2. 时间分辨电子衍射
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我们选择了一个鞍形π-小床骨架43,44作为 LC 分子的感光核心单元, 因为它形成了一个明确定义的柱状堆叠结构, 因为中央八-元的小床环预计会显示一个由于激发态芳香19,45, 光致构象变为扁平形式。此材料的合成过程在以前的出版物19中提供。合成 LC 分子由π形芯单元?...
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在时间分辨电子衍射测量过程中, 关键步骤是保持高电压 (75 凯文) 而不存在电流波动, 因为光阴极与阳极板之间的距离只有10毫米。如果电流在实验之前或过程中波动超过0.1 µA 的范围, 则增加90凯文的加速度电压, 并将其再次设置为75凯文。这个调节过程必须要做, 直到电流在0.1 µA 的范围内波动。正确设计具有足够的电介质强度的电子源是研制这种机器的最重要的一点。
一般?...
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作者没有什么可透露的。
我们感谢东京技术学院的田中博士, 该研究所的时间分辨红外振动光谱学测量和奥哈拉教授和 k. 松博士在名古屋大学进行 XRD 测量。我们还感谢在名古屋大学的美国山口教授, 基尔大学的 Herges 教授和 r.j.d. 教授在普朗克斯学院的结构和动力学的重要讨论。
这项工作得到了日本科技 (JST) 的支持, 这项工程为 "分子技术和新功能的创造" (JPMJPR13KD、JPMJPR12K5 和 JPMJPR16P6) 和 "光能的化学转换" 提供了资金。此工作还部分由 jsp 授权编号 JP15H02103、JP17K17893、JP15H05482、JP17H05258、JP26107004 和 JP17H06375 支持。
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Name | Company | Catalog Number | Comments |
Chirped pulse amplifier | Spectra Physics Inc. | Spitfire ACE | For time-resolved IR vibration spectroscopy |
Chirped pulse amplifier | Spectra Physics Inc. | Spitfire XP | For time-resolved electron diffractometry |
Femtosecond laser | Spectra Physics Inc. | Tsunami | For time-resolved IR vibration spectroscopy |
Femtosecond laser | Spectra Physics Inc. | Tsunami | For time-resolved electron diffractometry |
Optical parametric amplifier | Light Conversion Ltd. | TOPAS prime | |
64-channel mercury cadmium tellurium IR detector array | Infrared Systems Development Corporation | FPAS-6416-D | |
FT-IR spectrometer | Shimadzu Corporation | IR Prestige-21 | |
High voltage supply | Matsusada precision | HER-100N0.1 | |
Rotary pump | Edwards | RV12 | |
Molecular turbo pumps | Agilent Technologies Japan, Ltd. | Twis Torr 304FS | |
Vacuum gauges | Pfeiffer vacuum systems gmbh | PKR251 | For ICF70 flange |
Vacuum monitors | Pfeiffer vacuum systems gmbh | TPG261 | |
Fiber coupled CCD camera | Andor Technology Ltd. | iKon-L HF | |
BaF2 and CaF2 substrates | Pier optics | Thickness 3 mm | |
AgGaS2 crystal | Phototechnica Corporation | Custom-order | |
BBO crystals | Tokyo Instruments, Inc. | SHG θ=29.2 deg THG θ=44.3 deg | |
calcite crystals | Tokyo Instruments, Inc. | Thickness 1mm | |
Optical mirrors | Thorlabs | PF10-03-F01 PF10-03-M01 UM10-45A | Al coat mirrors Au coat mirrors Ultrafast mirrors |
Optical mirrors | HIKARI,Inc. | Broadband mirrors | |
Dichroic mirrors | HIKARI,Inc. | Custom-order Reflection: 266 nm Transmission: 400, 800 nm | |
Optical chopper | Newport Corporation | 3501 optical chopper | |
Optical shutters | Thorlabs Inc. | SH05/M SC10 | |
Optical shutters | SURUGA SEIKI CO.,LTD. | F116-1 | |
Beam splitters | Thorlabs Inc. | BSS11R | |
Fused-silica lenses | Thorlabs Inc. | LA4663 LA4184 | |
BaF2 lens | Thorlabs Inc. | LA0606-E | |
Polarized mirrors | Sigmakoki Co.,Ltd | Custom-order Designed for 800 nm Reflection: s-polarized light Transmission : p-polarized light | |
Half waveplate | Thorlabs Inc. | WPH05M-808 | |
Mirror mounts | Thorlabs Inc. | POLARIS-K1 KM100 | Kinematic mirror mounts |
Mirror mounts | Sigmakoki Co.,Ltd | MHAN-30M MHAN-30S | Gimbal mirror mounts |
Mirror mounts | Newport Corporation | ACG-3K-NL | Gimbal mirror mounts |
Variable ND filters | Thorlabs Inc. | NDC-25C-2M | |
Beam splitter mounts | Thorlabs Inc. | KM100S | |
Lens mounts | Thorlabs Inc. | LMR1/M | |
Rotational mounts | Thorlabs Inc. | RSP1/M | |
Retroreflector | Edmund Optics | 63.5MM X 30" EN-AL | |
spectrometers | ocean photonics | USB-4000 | |
Power meter | Ophir | 30A-SH | Used for intensity monitor of CPA |
Power meter | Thorlabs Inc. | S120VC PM100USB | Used for intensity measurements of pump pulse |
Photodiodes | Thorlabs Inc. | DET36A/M DET25K/M | |
DC power supply | TEXIO | PW18-1.8AQ | Used for magnetic lens |
Magnetic lens | Nissei ETC Co.,Ltd | Custom-order | |
Stages | Newport Corporation | M-MVN80V6 LTAHLPPV6 | Used for magnetic lens |
Stage controller | Newport Corporation | SMC100 | |
Stages | Sigmakoki Co.,Ltd | SGSP20-35(X) SGSP20-85(X) | Used for sample position |
Stages | Sigmakoki Co.,Ltd | SGSP26-200(X) OSMS26-300(X) | Used for delay time generator |
Stage controller | Sigmakoki Co.,Ltd | SHOT-304GS | |
Picoammeter | Laboratory built | ||
spin coater | MIKASA Co.,Ltd | 1H-D7 | |
hot plate | IKA® | C-MAG HP7 | |
SiN wafer | Silson Ltd | Custom-order | |
KOH aqueous solution (50%) | Hiroshima Wako Co.,Ltd. | 168-20455 | |
Chloroform | Hiroshima Wako Co.,Ltd. | 038-18495 | |
Dichloromethane | Hiroshima Wako Co.,Ltd. | 132-02456 | |
Personal computers for the controlling programs | Epson Corporate | Endeavor MR7300E-L | 32-bit operation system |
Program for the control the equipment | National Instruments Corporation | Labview2016 | |
Program for the data analysis | The MathWorks, Inc. | Matlab2015b |
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