本文介绍了使用氮孔隙法表征金属有机框架,以 UiO-66 为代表材料。
金属有机框架 (MOF) 的表面积和孔体积可以深入了解其结构和潜在应用。这两个参数通常使用氮吸附实验的数据来确定;用于执行这些测量的商用仪器也随处可见。这些仪器将计算结构参数,但必须了解如何选择输入数据以及计算方法何时适用于样品MOF。本文概述了使用 Brunauer-Emmett-Teller (BET) 方法和 Barrett-Joyner-Halenda (BJH) 方法分别计算表面积和孔隙体积。示例计算是在具有代表性的 MOF UiO-66 上执行的。虽然广泛适用于MOF,但除了适当的样品制备外,样品材料和吸附数据还必须满足某些标准,才能使计算结果被认为是准确的。还讨论了这些方法的假设和局限性,以及MOF孔隙空间表征的替代和补充技术。
表面积和孔隙体积的相关性
多孔材料的准确表征对于了解其潜在应用至关重要。表面积和孔隙体积是重要的定量指标,可深入了解各种应用中的金属有机框架 (MOF) 性能,包括气体吸附、分离、催化和传感1。
MOF的表面积是一个参数,用于量化可用于与客体分子相互作用的表面量,并可能影响其在各种应用中的性能2,3。在气体吸附应用中,MOF的表面积反映了结合位点的可用性和亲和力,这与其分离性能直接相关4。在催化应用中,MOF表面积会影响活性位点的数量及其对反应物分子的可及性,从而影响其催化活性5。活性位点的数量和可及性在传感应用中也很重要,因为与活性位点的更多访客互动会导致灵敏度(和潜在的选择性)的提高6。表面积也会影响MOF在极端条件下的稳定性,因为表面积越大,表面缺陷的数量就越多7。
MOF的孔隙体积是量化多孔结构内空隙空间量的参数。它被定义为MOF中孔隙的总体积,其中包括开放(可触及)和闭合(不可接近)的孔隙。MOF的孔体积会影响其在各种应用中的性能,包括气体吸附、分离和催化。与表面积一样,MOF的孔隙体积与其气体吸收和储存能力以及允许客体分子到达吸附或催化位点的能力直接相关8。
使用氮吸附确定表面积和孔隙体积
表面积和孔隙体积通常使用气体吸附技术进行测量,最常见的是氮吸附。在Brunauer-Emmett-Teller(BET)分析中,氮被选为吸附物,因为它具有四极矩,其中氮分子的取向取决于吸附剂的表面化学性质,从而形成单层。氮吸收与压力的关系图可用于获得有关MOF表面和孔径的信息。材料表面积和总孔容可以使用吸附数据9计算。这里详述的方法的总体目标是获得氮吸附数据,并使用该数据来计算MOF表面积和孔隙体积。
BET方法10 是一种广泛使用的用于确定多孔材料比表面积的技术,其原理是气体在固体表面上的吸附是表面积、气体分子的性质和系统的函数。在给定的压力范围内,将已知量的吸附气体(如氮气)引入样品材料中,并在每个压力增量下测量吸附到表面上的气体量。该数据用于通过关联吸附物吸收、压力和单层容量来计算比表面积,由 BET 方程9 表示:
(等式1;式1)
哪里:
p = 吸附物的平衡压力 (Pa)
p0 = 吸附物饱和压力 (Pa)
n = 吸附物吸收量 (m3/g)
nm = 单层容量 (m3/g)
C = BET 常数(无单位)
单层容量与总表面积的关系如下:
(等式 2;式 2)
哪里:
St = MOF总表面积(m2)
nm = 单层容量 (m3/g)
NAv = 阿伏伽德罗数(分子/摩尔)
scs = 吸附物分子的横截面积 (m2/分子)
V摩尔 = 吸附物摩尔体积 (m3/mol)
Barrett-Joyner-Halenda (BJH) 方法11 是一种利用解吸数据来计算总孔隙体积的常用方法。与BET方法一样,将已知量的吸附气体(通常是氮气)引入样品中。然后逐渐降低吸附物的分压,并测量每个步骤中解吸的气体体积。假设每个孔隙中的解吸首先发生在毛细管体积中,然后是吸附层厚度的减小,BJH 方程将解吸的体积与吸附层厚度、孔径和孔隙体积相关联。这种关系可以用 BJH 孔径分布图来表示,该图绘制了孔径与孔隙体积的关系图。分布与孔径相积分,以确定总孔隙体积。BJH 方程12 写为:
(等式3;式3)
哪里:
n = 解吸步骤(无单元)
vn = 排空毛细管冷凝水的孔隙体积 (m3)
ΔVn = 从孔隙中去除的吸附物体积 (m3)
Δtn = 吸附层厚度的变化 (m)
A = 参与解吸的孔隙的表面积 (m2)
Rn = BJH 常数取决于平均孔径(无单位)
c = BJH 常数,取决于平均吸附层厚度(无单位)
1. 样品制备
2. 实验文件设置
3. 进行吸附测量
4.氮气吸附测量
5. 数据分析
遵循协议后,可以分析获得的等温线,并推导出关键的材料特性。氮吸附实验的结果为给定吸附剂的表面积、孔隙体积和孔隙结构提供了关键信息。该实验的目的是研究使用氮吸附来测量纳米多孔MOF(UiO-66)的表面积和孔体积。UiO-66 是一种典型的锆基 MOF,具有高比表面积和显着的稳定性。虽然许多MOF具有较弱的热稳定性、机械稳定性和化学稳定性,但由于氧化锆立方八面体金属节点,UiO-66非常坚固,允许在BDC连接子配位中具有12个延伸点。该结构由 7.5 Å 四面体保持架和 12 Å 八面体保持架14,15 组成。
无缺陷的 UiO-66 表现出 1 型等温线形状16。1 型等温线表示具有相对较小的外表面的微孔固体。在1型等温线中吸附的量迅速接近极限值,表明氮的吸收由吸附物可触及的微孔体积控制,而不是由内表面积控制。低 P/P0 时的急剧吸收表明吸附剂和吸附物17 之间的窄微孔中存在强烈的相互作用。滞后环在 1 型等温线中并不常见,因为它们出现在多层物理吸附范围内,并且与孔隙中的毛细管冷凝有关。在低 P/P0 范围内,吸附剂上氮的单层形成与吸附剂的表面积有关,而接近统一的 P/P0 处的孔隙填充与材料的总孔隙体积17 有关。
BET方法的应用通常是在吸附仪器软件中完成的。但是,分析和计算可以很容易地手动完成,也可以使用其他计算程序和方法进行,这些程序和方法可以适应以给出关键结果。要将BET模型应用于获得的氮等温线,有两个关键步骤。首先,必须将氮等温线转化为 BET 图,并从中推导出 BET 单层容量。接下来,根据单层容量和通过选择分子横截面积17的适当值来计算BET表面积。这通常在氮气吸附仪器软件中完成。 图 2 显示了 UiO-66 获得的氮等温线。等温线为 1 型,表示微孔结构和氮单层形成。在高相对压力下的急剧台阶,导致轻微的 2 型等温线,表明 UiO-66 中由于缺陷工程而形成多层以及较大的介孔或大孔。在高相对压力下观察到的滞后表明较大的介孔和大孔形成。 表 1 显示了从 BET 分析中获得的值。
使用 BET 方法时,Rouquerol 标准必须成立。Rouquerol 标准规定,必须获得对变换后的 BET 数据的线性拟合,如果方法在适当的分析范围内,则 C 值应始终为正,Rouquerol 变换必须随着相对压力的增加而增加,并且单层容量必须在用于 BET 参数的数据范围内18.要将 BET 方法应用于给定的等温线,必须取膝关节的线性范围。对于介孔材料,这通常在 0.05-0.30 的 P/P0 范围内,而对于许多微孔材料,它通常取自 0.005-0.03 的 P/P0 范围。然而,实际的线性范围通常受到更多限制,因为它取决于材料和分析温度。因此,线性范围的选择将需要定性评估,类似于 表1 中显示的参数(正C和接近统一的相关系数表示适当的分析范围)。同样,线性范围内必须有足够数量的实验数据点(至少 10 个)才能进行可靠的分析。这些考虑因素也表明了BET方法的固有局限性。C 是一个常数,与形成单层的相对压力有关。C 是一个度量,用于定义单层未覆盖的表面部分,因为 BET 方法假设统计单层形成。因此,C值越大,表面覆盖度越高,单层形成越均匀。当 C 值小于 2 时,等温线为 3 型或 5 型,BET 不适用。当 C 小于 50 时,单层和多层形成有明显的重叠。系数 C 至少为 80 表示单层吸附完成并开始多层吸附的尖锐等温线拐点。参数C大于150通常与狭窄微孔的填充或高能表面位点17的吸附有关。
UiO-66 是一种微孔 MOF,通常表现出缺陷,可以增加表面积并改善某些所需的吸附性能,但会导致较低的稳定性和结晶度15。有缺陷的 UiO-66 框架可以具有 1000-1800 m2/g 的 BET 表面积和 0.40-0.90 cm3/g 的孔隙体积,具体取决于缺陷工程的程度15,16。
对于测得的 UiO-66,当使用线性 P/P0 范围 0.01-0.05 时,BET 表面积为 1211 m2/g,C 值为 457。模拟的无缺陷 UiO-66 的理论表面积为 1200 m2/g14。在 1 型等温线中,如 UiO-66 所示,BET 表面积应被视为表观表面积,因为 BET 模型不能确认 BET 单层容量17 的有效性。测得的表面积落在UiO-66的预期范围内,与C值相结合,表明微孔结构具有均匀的单层形成和孔隙填充。
通常以 0.80-0.95 的 P/P0 分析材料的孔隙体积。如果材料中存在大孔,则氮吸附等温线在P/P0 接近统一时不会几乎水平,因此无法评估总孔隙体积17。在这种情况下测量的孔隙体积仅是微孔和中孔的孔隙体积。
在P/P0 为0.80时测得的UiO-66的孔隙体积为0.86 cm3/g。UiO-66的理论孔隙体积为0.77 cm3/g15。测得的 UiO-66 样品的孔隙体积较高,很可能是由于 UiO-66 结构中存在缺陷。存在缺陷,而不是只有微孔,导致更大的中孔或大孔,从而产生更大的孔隙体积。氮等温线的形状证实了这一点,在高相对压力下,氮等温线急剧增加和滞后,以及 1-2 型等温线形状。
通常,测得的给定材料的BET表面积和孔隙体积将在给定范围内。研究表明,氮吸附等温线和表面积测量的重复性在文献中差异很大19.这是由于所选 BET 范围的变化、材料缺陷、放弃重复实验以及模型的内在特征。BET表面识别(BETSI)程序等工具可用于根据扩展选择标准自动选择线性范围,从而明确评估BET表面积。尽管BET模型是材料表征的标准,但它并不是为了在微孔材料中吸附而开发的。这是由于单层覆盖和理想化吸附行为的思想13。BET模型假设吸附均匀,表面均匀。这些假设可能不适用于具有非均质表面或非常小孔的材料,因此,必须针对每种给定材料评估 BET 模型的应用。
氮吸附实验和分析结果表明,成功形成了具有轻微缺陷的UiO-66微孔晶体结构。计算出的表面积和孔体积落在文献15,19 中报道的范围内,从而得出结论,如果给定的假设和条件适用,BET 模型可以应用于 MOF UiO-66,并且可以转化为其他纳米多孔材料。
图1:吸附仪器示意图。 密封的样品管连接到压力传感器、真空和自由空间/分析气源。 请点击这里查看此图的较大版本.
图 2:UiO-66 在 77 K 下的氮吸附和解吸等温线。 MOF UiO-66在77 K下的氮等温线,其中BET表面积为1211 m2/g,孔体积为0.86 cm3/g。 请 点击这里查看此图的较大版本.
BET专区 | 1211 米2/克 |
坡 | 0.0035 克/厘米3 STP |
Y-截距 | 0.000008 克/厘米3 STP |
C | 457 |
单层容量 | 278 厘米3/克 STP |
分子横截面积 | 0.1620纳米2 |
相关系数 | 0.9999 |
表 1:表格显示了在 77 K 下对 UiO-66 进行 BET 分析获得的值。 该表包括从BET分析中获得的MOF UiO-66的P/P 0 范围为0.01-0.05的关键值的摘要。正 C 和 y 截距以及 0.9999 的相关系数表明选择了可接受的线性区域进行 BET 分析。
适用性和局限性
BET方法需要几个关键假设:(1)表面是平面和均匀的,(2)表面是均匀的,所有吸附位点在能量上都是相同的(3)吸附物形成单层。因此,BET可能不适用于无孔材料、表面结构复杂(表面部位类型不同、表面形貌不规则、能量差异较大的部位)或不表现出单层吸附行为的材料。与假设条件的较大偏差可能会影响比表面积计算的准确性。与BET一样,BJH方法也假设均匀吸附和均匀的表面,以及刚性的圆柱形孔隙。因此,它也可能不适用于具有复杂表面或透气结构的材料20。此外,由于孔隙度测量需要访问孔隙空间,因此计算值将不考虑闭合孔隙体积。
BET 和 BJH 方法都应谨慎使用微孔材料。BJH不考虑流体-表面相互作用或孔隙内吸附物分子之间的相互作用,这两者在较小的孔隙中变得更加明显。因此,BJH仅限于介孔和小大孔。由于微孔通常表现出孔隙填充行为,因此很难找到执行 BET 计算所需的等温线的线性区域21。
这两种方法的另一个限制是它们对样品制备方法的敏感性。样品需要以分割形式存在,例如粉末或薄膜,这可能很难均匀制备。这可能会在测量中引入误差,并使可重复性变得困难。表面积和孔隙体积也可能受到样品制备方法和条件的影响,例如材料合成技术、活化方法/条件或干燥温度/时间22。
替代方法的意义
氮是 BET 和 BJH 数据的标准吸附剂,因为它具有四极矩 - 其中氮分子的取向取决于吸附剂的表面化学性质,允许形成单层 - 并且成本低17.然而,氩气和二氧化碳23 也可以利用,特别是对于微孔结构。氩气具有化学惰性,是一种对称的单原子分子;然而,77 K 低于其三相点,因此体参比状态值得怀疑,并且氩单层的结构在很大程度上取决于吸附剂17 的表面化学性质。
由于BET和BJH并非普遍适用,因此应考虑其他测量表面积和孔隙体积的方法。Langmuir 图、t 图或 Horvath-Kawazoe 方法可用于分别确定微孔表面积、孔体积和孔径分布。非局部密度泛函理论 (NLDFT) 建模也是孔径分布的一种选择,对于微孔特别有利,因为它考虑了流体密度相对于孔径的变化。汞孔隙度法可用于确定孔隙率和孔隙体积,但必须考虑该技术的可及范围,因为它不能渗透到微孔中。计算方法可用于计算理论表征指标,并提供与实验结果的比较点,这对于具有闭合孔隙的材料很有用。尽管BJH产生孔径分布,但它不能解释不均匀的分布或完全表征孔隙之间的连通性。其他表征,如SEM、TEM24或XRD,可用于更全面地了解多孔材料的结构。即使材料不能完全用BET或BJH表示,它们仍然可以用作材料之间的定性比较。氮气孔隙率法与其他技术相结合,是一种非常有用的工具。12
提交人没有相互竞争的经济利益。
这项工作得到了酸气诱导能源材料演变理解与控制中心(UNCAGE-ME)的支持,该中心是由美国能源部科学办公室基础能源科学资助的能源前沿研究中心,获得 #DE-SC0012577奖。J.S. 承认,本材料基于美国国家科学基金会研究生研究奖学金(Grant No.DGE-2039655 中。本材料中表达的任何意见、发现、结论或建议均为作者的观点,并不一定反映美国国家科学基金会的观点。
Name | Company | Catalog Number | Comments |
Adsorption Instrument | Micromeritics | TriStar II Plus | |
Adsorption Software | Micromeritics | TriStar II Plus Version 3.03 | |
Balance | |||
Dewar | Liquid N2 Dewar | ||
Dimethyl Formamide (DMF) | Fisher Scientific | D119-1 | |
Helium | Airgas | HE UHP300 | Ultra-High Purity |
Nitrogen | Airgas | NI 230LT22 | Industrial Grade Liquid N2 |
Nitrogen | Airgas | NI UHP300 | Ultra-High Purity Gaseous N2 |
Sample Holder | Micromeritics | 302-61001-02 | Glass Sample Holder |
Sample Preparation System | Micromeritics | 061-00030-00 | VacPrep 061 |
Terephthalic Acid (H2BDC) | Sigma Aldrich | 185361 | |
ZrCl4 | Sigma Aldrich | 221880 | Zirconium(IV) chloride, ≥99.5% trace metals basis |
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