Iniciar sesión

Corte ultrafino para microscopía correlativa de luz y electrónica posterior a la inclusión de epon (CLEM)

85 Views

00:53 min

January 12th, 2024

DOI :

10.3791/201225-v

January 12th, 2024


* Estos autores han contribuido por igual

Transcribir

Explorar más videos

Ultrathin Sectioning

De la serie

Nuevo protocolo para la conservación simultánea de fluorescencia y ultraestructura
JoVE Logo

Privacidad

Condiciones de uso

Políticas

Investigación

Educación

ACERCA DE JoVE

Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Todos los derechos reservados