מיקרוסקופ אלקטרוני סורק הפרוטוקולים (SEM) עבור בעייתי הצמח, Oomycete, וכן דוגמאות פטרייתיים

Summary

Problems in the processing of biological samples for scanning electron microscopy observation include cell collapse, treatment of samples from wet microenvironments and cell destruction. Low-cost and relatively rapid protocols suited for preparing challenging samples such as floral meristems, oomycete cysts, and fungi (Agaricales) are compiled and detailed here.

Abstract

בעיות נפוצות בעיבוד של דגימות ביולוגיות לתצפיות עם מיקרוסקופ אלקטרונים סורק (SEM) כוללים קריסת התא, טיפול של דגימות microenvironments רטוב והרס התא. באמצעות רקמות פרחים צעירות, ציסטות oomycete, נבגי פטריות (Agaricales) כדוגמות, פרוטוקולים ספציפיים לעבד דגימות עדינות מתוארות כאן כי להתגבר על כמה מן האתגרים העיקריים טיפול מדגם עבור לכידת תמונה תחת SEM.

meristems הפרחוני קבוע עם ה- FAA (פורמלין-אצטית-אלכוהול) ומעובד עם שיער הנקודה הקריטי (CPD) לא גילה קרס קירות הסלולר או איברים מעוותים. תוצאות אלה הן קריטיות לבנייה מחדש של פיתוח פרחוני. טיפול דומה מבוסס CPD של דגימות microenvironments הרטוב, כגון ציסטות oomycete הקבועה glutaraldehyde, הוא אופטימלי כדי לבחון את גדילת ההפרש של מאפייני אבחון (למשל, קוצי ציסטה) על סוגים שונים של substrates. הרס של תא אחות מצורף נבגי פטריות נמנע לאחר התייבשות, התייבשות, ואת טיפול CPD, צעד חשוב עבור מחקרים תפקודיים נוסף של תאים אלה.

הפרוטוקולים המפורטים כאן מייצגים בעלות נמוכה וחלופות מהירות לרכישת תמונות באיכות טובה לשחזר תהליכי גדילה ללמוד את מאפייני אבחון.

Introduction

בביולוגיה, השימוש במיקרוסקופ אלקטרונים סורק (SEM) הוארך ללימודי האבולוציה מבניים, מורפולוגיה השוואתי, פיתוח איברים, ואפיון של אוכלוסיות או מינים ^1. עם הנוף שלה דו ממדים של מבנים מיקרוסקופים, בתחומים כגון micromorphology ו סיסטמטיקה הרוויחו מן התקדמות טכניקת SEM מאז המחצית השנייה של המאה ^ה -20. לדוגמא, את ההקדמה של המתודולוגיה ציפוי גמגום בשנתי ה -1970 ערך מדידות אפשריות של חומרים עדינים כגון apices לירות ופרחי שיפור ההדמיה של שאינו מוליך רקמות ^{2, 3.} SEM משתמשת האלקטרונים הנפלטים מן השטח של הדגימה כדי לשחזר את הטופוגרפיה בסביבה גבוהה ואקום ^4.

מחקרים שכללו SEM מתמקדים בשני היקש תווים מבניים מחדש של growtתהליכי h. תווים מבניים חדשים רלוונטיים הטקסונומיה סיסטמטיקה של מגוון רחב של אורגניזמים התגלו מתצפיות SEM. לדוגמא, תכונות צמח בשימוש לאבחון מינים או סיווגי supraspecific, כגון בורות vestured של עץ ^_5, הסטיגמה מגוון ^6, מורפולוגיה nectary וצמחית ^{7, 8,} פרטים יונקים ^9, ו גרגרי אבקה ^{10, 11,} לא יכול להיות דמיינו כמו שצריך בלי SEM. תצפיות מוצלחות עם קונבנציונלי SEM הושגו גם עבור אורגניזמים קבועים בפורמלין זמן ארוך ¹² ו העשבייה צמח דגימות ^13.

מצד השני, מחקרי שיקום של תהליכי צמיחה באמצעות SEM מדגימים מגוון רחב של נושאים, כגון פיתוח איבר ^14, infections המושרה על ידי חיידקים ^15, פיזיולוגית שורש צמח ^16, מנגנונים מצורפים טפיל-מארח ^{17, 18,} שפעות תרופה על טפילים ^19, mycoparasitism ו אנטיביוזה ^{20, 21,} מום צמיחה ^22, פיתוח השוואתי של אנשים פרועים מוטציה ^23, ומחזורי חיים שלמים ^24. למרות מיקרוסקופי אלקטרונים סורקים סביבתי (ESEM) ²⁵ יכולים להיות יתרונות חשובים עבור התצפית של דגימות ביולוגיות רטובות בתהליכי צמיחה, חומר עדין עדיין עלול לסכן אפילו במצב הוואקום הנמוך של ESEM), וצריך להיות מעובד כראוי כדי למנוע אובדן תצפית מורפולוגיים של ערך.

במאמר זה, סקירה של פרוטוקולים ספציפיים להסתכלות SEM של שלושה diffסוגי erent של דגימות מוצגים: meristems פרחוני, oomycetes (Saprolegnia), וחומר פטרייתי. פרוטוקולים אלה לקמפל את החוויה של המחקרים SEM המבוססים הקודמים שלנו ^{26, 27, 28, 29, 30, 31, 32, 33,} שם קשיים ספציפיים פתרונות חלופיים נמצאו. במקרה של התפתחות צמח השוואתית מחקרים מבניים, השימוש SEM נכתב בשנתי ה -1970 ^{34, 35,} ומאז, חוקרים גילו כי תכונות פרחוניות מסוימות הן יותר יציבות מאשר סבר עד כה ^36. שחזור הפיתוח פרחוני כרוך לכידתו של כל השלבים בין meristems הפרחוני הצעיר anthesis. כדי להגיע למטרה זו, זה essential כי הטופוגרפיה מדגם ואת שלמות דופן התא אינם בסכנה לאחר קיבוע והתייבשות שלאחר מכן. Meristems הפרחוני הקטן פגיע במיוחד כדי התמוטטות דופן תא (1a הדמוי, 1b). בדומה לכך, מבנים עדינים כגון nectaries, עלי כותרת, סטיגמות sporangia דורשים פרוטוקולים יעילים undamaging. סקירה זו מסכמת פרוטוקול אופטימלי לשמור רקמות צעירות ועדינות תילן הדמית SEM.

במקרה של oomycetes (Stramenopiles) -One של קבוצות המגוונות והנפוצות ביותר של טפילים, עם מארחים החל חיידקים וצמחים חסרי חוליות ובעלי חוליות ³⁷ - יש נבגים כי לגדול ולהתפתח בסביבה רטובה. מצב זה מהווה אתגר עבור תצפית SEM כי הנבגים צריכים מצע הולם לא מתאים פרוטוקולי SEM סטנדרטיים. בין oomycetes, מינים של Saprolegnia הם בעלי עניין מיוחד, כי הם can לגרום ירידות קשות aquacultures, דיג, ואוכלוסיות דוחות ^38. מאפיינים Micromorphological, כגון קוצים מעוקלים של ציסטות, כבר מצאו להיות שימושי כדי לזהות מינים של Saprolegnia, שהוא היסוד להקים שולטת זיהום טיפולים פוטנציאליים ^39. הנה, יש פרוטוקול הניסוי להשוות את דפוסי הצמיחה עמוד השדרה של ציסטות על מצעים שונים כדי לתפעל את המדגם עבור מייבש נקודה קריטית (CPD) הכנה והתבוננות SEM שלאחר מכן.

במקרה שלישי, ישנם ממצאים מעניינים שעלו אחרי בדיקה של נבגים של f herculanea פטריות Phellorinia. f stellata. נובה (Agaricales) ^31. יחד עם הנבגים, קבוצת תאי משתלה לא צפויים זוהתה תחת SEM. עם פרוטוקולים מסורתיים קודמים וחומר שלא טופל, התאים נכנסו אחות out קרסה לחלוטין (איור 1 ג '). מסקנות נוספות על רקמות מסוימות בקשר אל הנבגים יכולות להתבצע עם השינויים פשוטים אך חיוניים הגישות הסטנדרטיות המתואר כאן (1D איור).

בסקירה זו, ישנם פרוטוקולים מפורטים SEM, שניתן להשתמש בהם כדי להתמודד עם בעיות שונות הקשורות תצפית SEM, מכוסי הזרע, oomycetes, ו Agaricales, כגון קריסה התא מתכווץ רקמות meristematic, שאינו אופטימלי לצמיחה של הקוצים ציסטה, והרס של רקמות חלוף, בהתאמה.

איור 1: השוואה בין דגימות מטופלים ללא (א, ג) ועם (ב, ד) ה- FAA-אתנול-CPD פרוטוקול. (א - ב) ניצנים פרחוניים של clavatus קַחֲוִינָה, פיתוח האמצע. באד שטופל tetroxide אוסמיום ^{46 <}/ sup> (א) ובאד שטופלו בפרוטוקול ה- FAA-CPD (ב). (ג - ד) אחות תאים עם נבגים של herculanea f Phellorinia. stellata. יבשי דגימות ללא (ג) טיפול ועם הפרוטוקול כאן תאר Agaricales (ד). נבגים בכתום. סולמות: (ab) 100 מיקרומטר, (CD) 50 מיקרומטר. התמונות צולמו על ידי י 'רואיז-ליאון. אנא לחץ כאן כדי לצפות בגרסה גדולה יותר של דמות זו.

Protocol

הערה: פרוטוקול זה כולל שישה חלקים עיקריים, שלושה מוקדשי אורגניזמים ספציפיים (סעיפים 1-3), ושלוש המתארים את ההליכים נפוצים לכל (4-6). כוכביות (*) מצביעות צעדים שונים על ידי הנסיינים.

1. מחקרים של פיתוח ומבני צמח מגובש

1. איסוף קיבוע
   1. אם חומר האיסוף: במקום ללא גישה אל ארון קטר, להציג לטבול בחומר באתנול 70% צינורות צנטריפוגות. באופן אידיאלי, לטבול את החומר לאחר 48 שעות FAA (שלבים 1.1.1-1.1.3) כדי למנוע התייבשות מוגזמת של אתנול. אם ארון קטר נגישה חומר צמחי, התעלם משלב זה ולהמשיך עם 1.1.1.
   2. הכן את מקבע פורמלין-אצטית-אלכוהול (FAA) בתוך ארון קטר מצויד עם מסנן אלדהיד. להוסיף 85 חלקים של 70% אתנול מפוגל, 10 חלקים של פתרון פורמלדהיד 60%, ו -5 חלקים של חומצה אצטית קרחונית. הכן את FAAרק לפני תיקון החומר, כמו האחסון לטווח הארוך שלה אינו מומלץ ^40.
   3. מתחת לארון קטר, יוצקים את המניה של FAA לתוך הפה רחב הפרט ובקבוקי פלסטיק הוכחה דליפה. השתמש בכמה בקבוקים כפי שיש דגימות זמינות, וליצור תוויות זיהוי מדגם.
   4. בחר את meristems הפרחוני או וגטטיבי לתקן, על מנת להבטיח שהם אינם פגומים על ידי חרקים, פטריות, או תנאי מזג אוויר קיצוניים. חותך את הענפים, הסרת חומר בלתי רצוי, וכן להפקיד המדגם מייד בפתרון ה- FAA.
   5. לאחר 72-96 שעות, ויוצק את FAA לתוך מיכל פלסטיק לסילוק כימי. מיד, לשטוף את דגימות שלוש פעמים עם אתנול 70% טרי כדי להסיר כל FAA שיורית. חומר קבוע ניתן לאחסן לזמן בלתי מוגבל באתנול 70%.
2. Dissection והתייבשות
   1. לנתח את החומר קבוע באתנול 70% תחת סטראו באמצעות פינצטה בסדר אולטרה, needles, מלקחיים, מברשות, ואת-אזמלים מיקרו (הגודל המרבי של הרקמה צריך להיות סביב 1 ס"מ ^3, או 2 ס"מ חומר שטוח). לנתח דגימות לתוך צלחת פטרי מכוסה אתנול למנוע הרקמות מפני התייבשות. השתמש בצלחת פטרי עם הבסיס מכוסה סיליקון שחור יבש לראות רקמות הלבנות מנוגדים טובים יותר.
   2. שים את החומר גזור מכלי הדגימות עבור מייבש נקודה קריטית (CPD, איור 2 א). בשלב זה, לטבול את המכולות לתוך צלחת פטרי עם 70% אתנול, וכולל את תוויות זיהוי המדגם (עשה עם נייר ועיפרון). לייבוש יעיל יותר עבור מניפולציה נוספת, למנוע ערבוב הדגימות הצעירות ובוגרות באותה האריזה. *
   3. שים את המכסים על המכולות להפקיד אותם צינורות צנטריפוגה פלסטיק עם שפע של אתנול 70%. אחסן את צינור לילה אם החומר אינו מעובד מייד.
   4. העביר את החומר הגזור דרך סרייה אתנול הבאהים בצנצנות הרמטיות או צינורות צנטריפוגה: 70%, 90%, 100% ו -100%. השאר את הדגימות בכל פתרון 1 שעות לפחות. שמור את דגימות לילה בתמיסה אתנול 100%.
   5. ולהעביר את המכולות עם חומר אל CPD (סעיף 4).
3. הרכבה והכנת רקמות הצמח להסתכלות SEM
   1. כתוב את מספר הזיהוי מדגם מתחת מחזיקי מדגם SEM (כלומר, בדלי אלומיניום). מכסה את החלק העליון של הבדלים עם דבק דו-צדדי. מניחים את הספחים לתוך מחזיק הדגימה (איור 2b).
   2. תחת סטראו, לפתוח בזהירות את המכולות נושא הדגימות הצעירות ועדינות המיובשות כבר CPD. יש לזכור כי לאחר טיפול CPD, הדגימות להיות קלות יותר ורגישים אלקטרוסטטיקה. סגור את מיכלי פעם הדגימות נלקחו מתוך להימנע אבק או זיהומים.
   3. שים את הדגימות על המשטח הדביק של הספחים, תכנון מראש רצויעמדה (פעם הדגימות לגעת במשטח, זה מאוד קשה להסיר אותם). אל תנסה לבצע דיסקציה גדולה בשלב זה; פשוט להסיר רקמות לא רצויות כי הוא קל להרים. עבור מחקרים palynological, לנתח את המאבקים ולפתוח אותם לחשוף את האבקה על הספחים.
   4. דגימות ארוכות שימו (למשל, 2 סנטימטר) כגון תפרחות במצב האופקי. במידת האפשר, דגימות אוריינט של אותו מבנה עבור קוטב, בצד, ונוף התחתונה. השאר מספיק מקום בין דגימות על הבדל.
   5. אם הדגימות לא ניתן לעבד מיד, לשמור אותם מוגנים לילה במיכל הרמטית עם ג'ל סיליקה כדי למנוע התייבשות (איור 2 ג) *. מעיל דגימות באמצעות coater גמגום ולהעבירם אל SEM (סעיפים 5 ו -6).

איור 2: כלי manipulati מדגםעל ועיבוד לפני תצפית SEM. (א) מיכל דגימה מתוצרת פלדה עם קירות מסתתרים לחילופי אתנול / CO ₂ בתא CPD. (ב) בדלי פלדה בתוך החזיק דגימת פלסטיק. (ג) זכוכית מכל משמש כדי לשמור על הדגימות מפני לחות ואבק. בבסיס, יש תא עבור ג'ל סיליקה. (ד) Critical פוינט שיער. בחלק הקדמי, יש (משמאל לימין) את מד הלחץ, את מתג ההפעלה, מערכת בקרת טמפרטורה, ואת תצוגת טמפרטורה. לחץ עבודה כרגיל עבור מחלף -ethanol CO ₂ הוא 60 ברים (800 psi). בחלק העליון, יש ארבעה שסתומים (כניסה, ניקוז, אוורור, בקרות פליטה) משני צדי תא המדגם המרכזי. התמונות צולמו על ידי י 'רואיז-לאון MA בלו. אנא לחץ כאן כדי לצפות בגרסה גדולה יותר של דמות זו.

< p class = "jove_title"> 2. מחקר של התנהגות ציסטה של Saprolegnia (Oomycetes) על משטחים שונים

1. גידול ותיקון ציסטות
   1. הכן peptone וגלוקוז (PG-יב) מדיה ⁴¹ באמצעות D - (+) - גלוקוז (6 גרם) peptone mycological (3 גרם) *. להוסיף עד 900 מיליליטר של מים ברז חיטוי 40 דקות ב 121 מעלות צלזיוס. יוצקים 50 מ"ל של פתרון autoclaved בעבר (לאא _{2 4} PO, 0.13 מ ') ו -50 מ"ל של B פתרון (Na _{2 4} HPO, 0.13 מ').
   2. מתרבויות המניות של זנים של Saprolegnia parasitica שמרו על peptone, גלוקוז, התקשורת אגר (PGA, אשר מוכנים כמו PG-l אבל הוספת 10 גרם של אגר האירופי בקטריולוגית אל גלוקוז ואת peptone לפני החיטוי), לגדול מושבות mycelia ב 0.5 מ"ל PG-l של טיפות במשך 24-48 שעות ב 20 ° C בצלחות פטרי. להשרות נביגה ידי שטיפת mycelia במי ברז autoclaved שלוש פעמים דוגרים אותם במשך 15 שעות ב 20 ° C= "Xref"> ^{42, 43.}
   3. אסוף את zoospores משני שפורסם על ידי pipetting את החלק העליון בעדינות של ההשעיה וברכה אותם 1 חלקי מיליליטר. להתסיס במרץ zoospores למשך 30 שניות על ידי vortexing לייצר ציסטות משני ^44.
   4. כדי לבחון את הגדילה ההפרש של עמוד השדרה של ציסטות, על הפרדת כלים פטרי (P60), לשים 0.5 מ"ל של ההשעיה ציסטה משנית על גבי משטחים שונים (כלומר, פחמן, זהב, ורשתות TEM נחושת; סלמון וקשקשת הייק דגים (בעבר מולבן); ופליטות הזכוכית המכסה) *. דגירה ציסטות בטמפרטורה של 20 מעלות צלזיוס למשך 70 דקות, אשר מעדיפה את הקובץ המצורף של ציסטות על פני השטח.
   5. הסר את הנוזל ולהוסיף 0.5 מ"ל של glutaraldehyde 2% לכל משטח קיבעון של ציסטות. שמור את הדגימות בטמפרטורת חדר מתחת לשידת קטר במשך 1 שעה.
   6. הסר את glutaraldehyde ו מייבש את המדגם דרך סדרת אתנול (30%, 40%, 50%, 60%, 70%, 80% , 90%, 100% ו -100%), הוספת 5 מ"ל של כל פתרון אתנול במשך 15 דקות. לאחר בפתרון 100% אתנול האחרון, המדגם ניתן לאחסן עד חודש בצלחת פטרי אטום. בשלב זה, הדגימות מוכנות להיות מיובש CPD.
   7. להעביר בזהירות את רשתות המאזניים מצלחת פטרי לבעל מתאים CPD (סעיף 4). לצעד זה, השתמש בעל רשת CPD או בעל דגימת ערמה, אשר לשמור דגימות מופרדות אחד מהשני. קח את הרשתות וקשקשת עם פינצטה, תוך התחשבות כי ציסטות צריך לפנות כלפי מעלה על הרשתות כל הזמן. *
2. הרכבה והכנת דגימות ציסטה להסתכלות SEM
   1. הר רשתות המאזניים על ספחי האלומיניום שכוסו בעבר עם קלטת פחמן דו צדדית ומסומן מתחת.
   2. העברת דגימות אל coater גמגום (סעיף 5).
   3. שימו לב דגימות תחת SEM (סעיף 6).

= "Jove_title"> 3. לחקר העשבייה פטרייתיים נבגים של Phellorinia herculanea תחת SEM

1. התייבשות התייבשות של נבגים
   1. עוטפים כל דגימה בזהירות עם נייר סינון, ויצרו מעטפות שכותרתו עיפרון ~ 0.5-1 ס"מ ^2, נזהרת שלא לרמוס אותם. חותם את נייר הסינון עם מהדקי נייר. העברת הדגימות הארוזות לצלחת פטרי לטבול אותם 10 מיליליטר של מי רעננותם רקמות סביב הנבגים.
   2. מייד לשים את הדגימות במיקרוגל (600 ואט במשך כ 20 שניות). הסר את החומר כאשר המים מתחילים להתאדות, ולאפשר לו להתקרר בטמפרטורת חדר.
   3. להעביר את הדגימות דרך סדרת אתנול הבאה: 30%, 50%, 70%, 80%, 90%, 95%, 100% ו -100%. בהתאם לכמות של דגימות, השתמש צינורות מבחנה או צנטריפוגות במשך שלב זה. השאר את הדגימות במשך 15 דקות כל אחד מפתרונות.
   4. מניחים את דגימות CPD (סעיף 4).
2. התקנת preparing נבגים להסתכלות SEM
   1. פתח את המעטפות. יוצקים את הנבגים על בדל בעבר סיים עם דבק דו-צדדי. לחלופין, לאסוף את הנבגים עם המשטח הדביק של הספחים, נזהר שלא לרמוס אותם *.
   2. אם הדגימות מכילות כמה נבגים, בנוסף לשלב הקודם, לחתוך חתיכה קטנה של המעטפה (~ 1 מ"מ ²⁾ ומניחים אותו על * בדל חדש.
   3. מניחים את הרקמות לתוך coater גמגום (סעיף 5).
   4. שימו לב תחת SEM (סעיף 6).

4. ייבוש החומר בעזרת מייבש נקודה קריטית (CPD, איור 2)

1. השתמש CPD באזור מאוורר ולוודא שכל השסתומים של המכונה סגורות. בדקו אם קאמרי המדגם ריק ונקי.
2. הפעל את המכונית ולוודא כי בדיקת מערכת בקרת הטמפרטורה מתבצעת באופן אוטומטי. אם CPD יש מערכת אמבט קירור חיצונית, בדוק את מפלס המים לפני מעבר it על.
3. פעל על פי הוראות היצרן של CPD הספציפי המשמש אתנול מחלף ₂ CO. מטעמי בטיחות, לשאת על הצעד הזה בהשגחת אדם שאומן לשימושם של המכונה. זכור כי היא חשופה לשינויים בלחץ מהירים, זה יכול לכבות באלימות.
4. להוציא דגימות המשך לשלב 1.3 אם עבודה עם רקמות הצמח, שלב 2.2 אם עובדים עם ציסטות oomycetes, ודורך 3.2 אם עובדים עם נבגי פטריות.

5. ציפוי דוגמאות עם זהב שימוש Coater גמגום (איור 3 א)

1. בדוק את coater הגמגום. ודא כי יעד זהב הקתודה הוא במצב טוב. השתמש במטלית נטולת מוך ספוג 90% אתנול לנקות את הקירות של החדר הריק והמכסה הקאמרית במידת צורך.
2. סמן את בעל גמגום עם מספרים ליד כל חור בדל עבור זיהוי נוסף של דגימות תחת המיקרוסקופ. בזהירות, מניח את הספחים עמוסים samples ולאבטח אותם. השתמש בשלב דגימה פלנטרית סיבובי כדי להבטיח ציפוי אחיד על דגימות עם משטחים לא סדירים.
3. פעל על פי הוראות היצרן כדי להתאים את ההגדרות כגון מרחק העבודה, לחץ גז פעולה (למשל, 5 x 10 ^-1 - 7 x 10 ^-1 mbar) (למשל, 30 מ"מימ.), הזמן המקרטע (למשל, 50 שניות), עובי שכבת זהב (למשל, 12 ננומטר) הזרם (למשל, 15 mA) והיחס בין ההיצע מתח (למשל, 600 V) ^45.
4. הסר את הספחים ולקחת אותם אל SEM (סעיף 6). לחלופין, למקם את הספחים לתוך מיכל אטום עם ג'ל סיליקה (איור 2 ג).

איור 3: גמגום coater (א) ו- מיקרוסקופ אלקטרונים סורק (ב). (א) מבט מלפנים של תא ואקום (משמאל), valv גזדואר, טיימר, ואקום, ובקרות נוכחיות. (ב) מבט צד של המרכיבים העיקריים SEM (משמאל לימין): בעמודת הוואקום עם תא המדגם, מסך המחשב עם הבקרות, ועל הצג של התא. התמונות צולמו על ידי י 'רואיז-ליאון. אנא לחץ כאן כדי לצפות בגרסה גדולה יותר של דמות זו.

6. תצפית תחת סריקת מיקרוסקופ אלקטרוני (SEM, איור 3B)

1. SEM סטרט
   1. פעל על פי הוראות היצרן כדי להתחיל ולהגדיר את SEM, התאמת גובה מדגם קוטר הצמצם המטרה (למשל, עבור צמחים 2 מיקרומטר ועבור פטריות oomycetes 4 מיקרומטר), מתח ההפעלה (למשל, 15 kV).
   2. בדוק את היישור הנכון של מערכת אלומת האלקטרונים ולהגדיר את היישור הצירי ואת stigmators פי אינדיקציות יצרנים. התאם tהוא עובד מרחוק על מנת לקבל עומק נאות של שדה.
2. לכידת תמונה
   1. קבל תמונה ממוקדת של המדגם ולהשתמש בו כנקודת התחלה. ההגדלה הקרובה ההגדלה לרמה המקסימלית ולמקד את התמונה שוב. בחר באזורים עם חריגות משטח כגון חורים. אסטיגמציה נכון ולהתאים את הניגודיות ובהירות האופטימליות.
   2. ללכוד את תמונת SEM עם הרזולוציה הגבוהה. השתמש גלאי BSE אם התמונה מראה כי הדגימות נזקפות. אחרת, מפעיל את גלאי SE. שנה את הגלאי בעקבות הוראות היצרן.

תוצאות

פיתוח פרחוני קיבוע של פיתוח ומבני צמח מגובש

באמצעות הפרוטוקול-CPD FAA המתואר כאן, רקמות צמח צעירות ובוגרות שתוקנו באופן המיטבי מיובש הדמית SEM. תהליכים כגון פיתוח פרחוני ניתן לשחזר בגלל הטופוגרפיה ?...

Discussion

עם כל כבוד פרוטוקולי SEM רגילים, את שיטות העבודה שהוצגו כאן כוללות יחסית מהירות, קל לעקוב, ומתודולוגיות בעלות נמוכה. בהתאם לכמות של דגימות על מנת להקל על עיבוד, זה לוקח ארבעה עד חמישה ימים כדי לרכוש תמונות באיכות טובה. כוללים אמצעי בטיחות נאות עבור מבצע CPD ו SEM, הנהלים הם ?...

Materials

Name	Company	Catalog Number	Comments
Acetic acid	No specific supplier		Skin irritation, eye irritation
aluminium stubs	Ted Pella, Inc.	16221	www.tedpella.com
Centrifuge tubes	No specific supplier
Critical Point Dryer	Polaron Quatum Technologies	CPD7501
D-(+)-Glucose	Merck	1,083,421,000
Double sided sellotape	No specific supplier
Ethanol absolute	No specific supplier		Flammable
European bacteriological agar	Conda	1800.00	www.condalab.com
Filter paper	No specific supplier
Forceps	No specific supplier
Formalin 4%	No specific supplier		Harmful, acute toxicity, skin sensitisation, carcinogenicity. Flammable
Glass cover slips	No specific supplier
Glass hermetic container	No specific supplier
Glutaraldehyde 25% DC 253857.1611  (L)	Dismadel S.L.	3336	www.dismadel.com
Mycological peptone	Conda	1922.00	www.condalab.com
needles	No specific supplier
Petri dishes	No specific supplier
Plastic containers	No specific supplier
Sample holder with lid  for the critical point dryer	Ted Pella, Inc.	4591	www.tedpella.com
scalpels	No specific supplier
Scanning Electron Microscope	Hitachi	S3000N
Software for SEM
Solution A: NaH2PO4
Solution B: Na2HPO4
Specimen holders	No specific supplier
Sputter coater	Balzers	SCD 004
Stereomicroscope	No specific supplier
Transmission Electron Microscope (TEM) grids	Electron Microscopy Sciences	G200 (Square Mesh)	www.emsdiassum.com
Tweezers	No specific supplier