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Le tecniche FIB (Cryogenic Focused Ion Beam) e SEM (Scanning Electron Microscopy) possono fornire informazioni chiave sulla chimica e la morfologia delle interfacce solido-liquido intatte. I metodi per la preparazione di mappe spettroscopiche a raggi X a dispersione di energia (EDX) di alta qualità di tali interfacce sono dettagliati, con particolare attenzione ai dispositivi di accumulo di energia.
I processi fisici e chimici alle interfacce solido-liquido svolgono un ruolo cruciale in molti fenomeni naturali e tecnologici, tra cui la catalisi, l'energia solare e la generazione di combustibile e lo stoccaggio di energia elettrochimica. La caratterizzazione su scala nanometrica di tali interfacce è stata recentemente ottenuta utilizzando la microscopia elettronica criogenica, fornendo così un nuovo percorso per far progredire la nostra comprensione fondamentale dei processi di interfaccia.
Questo contributo fornisce una guida pratica alla mappatura della struttura e della chimica delle interfacce solido-liquido in materiali e dispositivi utilizzando un approccio integrato di microscopia elettronica criogenica. In questo approccio, abbiniamo la preparazione del campione criogenico che consente la stabilizzazione di interfacce solido-liquido con la fresatura criogenica a fascio ionico focalizzato (crio-FIB) per creare sezioni trasversali attraverso queste complesse strutture sepolte. Le tecniche di microscopia elettronica a scansione criogenica (cryo-SEM) eseguite in un FIB/SEM a doppio fascio consentono l'imaging diretto e la mappatura chimica su scala nanometrica. Discutiamo di sfide pratiche, strategie per superarle e protocolli per ottenere risultati ottimali. Mentre ci concentriamo nella nostra discussione sulle interfacce nei dispositivi di accumulo di energia, i metodi delineati sono ampiamente applicabili a una serie di campi in cui l'interfaccia solido-liquido svolge un ruolo chiave.
Le interfacce tra solidi e liquidi svolgono un ruolo vitale nella funzione dei materiali energetici come batterie, celle a combustibile e supercondensatori 1,2,3. Mentre caratterizzare la chimica e la morfologia di queste interfacce potrebbe svolgere un ruolo centrale nel miglioramento dei dispositivi funzionali, farlo ha presentato una sfida sostanziale 1,3,4. I liquidi sono incompatibili con gli ambienti ad alto vuoto necessari per molte tecniche di caratterizzazione comuni, come l....
1. Preparare il campione e trasferirlo nella camera SEM
Questo metodo è stato sviluppato su un doppio sistema FIB/SEM dotato di uno stadio criogenico disponibile in commercio, anticontaminatore e camera di preparazione. Per i dettagli, vedere la tabella dei materiali. Abbiamo testato questo metodo principalmente su batterie al litio metallico con un numero di elettroliti diversi, ma il metodo è applicabile a qualsiasi interfaccia solido-liquido che sopporterà la quantità di dose applicata durante la mappatura EDX.
La Figura.......
Il metodo di preparazione criogenica qui descritto è importante e deve essere fatto correttamente affinché la chimica e la morfologia siano preservate8. La preoccupazione principale è congelare rapidamente il campione poiché questo è ciò che consente di vetrificare il liquido8. Se il campione si raffredda troppo lentamente, i liquidi possono cristallizzarsi con conseguente cambiamento nella morfologia6. Per prevenire la cristallizzazione, in qu.......
Gli autori non hanno nulla da rivelare.
Riconosciamo vivamente i contributi di Shuang-Yan Lang e Héctor D. Abruña che hanno fornito campioni per la nostra ricerca. Questo lavoro è stato sostenuto dalla National Science Foundation (NSF) (DMR-1654596) e ha fatto uso del Cornell Center for Materials Research Facilities supportato dal NSF con il numero di premio DMR-1719875.
....Name | Company | Catalog Number | Comments |
INCA EDS | Oxford instruments | Control software for X-max 80 | |
PP3010T Cryo-preparation system | Quorum Technologies, Inc. | FIB/SEM cryogenic preparation system. Includes pumping station, transfer rod system, preparation (prep) chamber, cryogenic stages, sample shuttles | |
Strata 400 DualBeam System | FEI Co. (now Thermo Fisher Scientific) | Dual beam FIB/SEM | |
X-Max 80 | Oxford Instruments | 80mm2 EDX detector | |
xT Microscope Control | FEI Co. (now Thermo Fisher Scientific) | Software for controlling FEI Strata |
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