光干渉断層撮影法(OCT画像解析)を開始するには、システムソフトウェアを開きます。測定ツールセクションに移動し、View B-Scansアイコンをクリックします。次に、測定ツール内で、 距離 病変の最大上皮および上皮下の厚さの値を測定します。
これを行うには、前上皮境界上の初期点を選択します。次に、上皮層と上皮下層の間の目に見える分離まで垂直に移動します。最大面積の測定データを上皮の厚さとして保存します。
次に、上皮層と上皮下層の間の目に見える分離上のアンカーポイントを選択し、病変の後縁(通常は強膜の前方境界)まで垂直に進みます。最大面積の測定データを上皮下の厚さとして保存します。スナップショットツールアイコンを使用して、測定レポート画面のJPG画像をエクスポートします。