Abstract
Engineering
कार्बनिक सामग्री फोटोवोल्टिक (ओपीवी) स्वाभाविक nanometer पैमाने पर inhomogeneous हैं. ओपीवी सामग्री नेनो पैमाने inhomogeneity उपकरणों फोटोवोल्टिक के प्रदर्शन को प्रभावित करता है. इस प्रकार, रचना के रूप में के रूप में अच्छी तरह से ओपीवी सामग्री के बिजली के गुणों में स्थानिक बदलाव की समझ PV प्रौद्योगिकी को आगे बढ़ने के लिए सर्वोपरि महत्व के इस पत्र में 1,2 है, हम साथ उप ओपीवी सामग्री की विद्युत और यांत्रिक गुणों के मात्रात्मक मापन के लिए एक प्रोटोकॉल का वर्णन -100 एनएम संकल्प. वर्तमान में, सामग्री संपत्तियों माप व्यावसायिक रूप से उपलब्ध AFM तकनीक पर आधारित (PeakForce, प्रवाहकीय AFM) का उपयोग आम तौर पर केवल गुणात्मक जानकारी प्रदान प्रदर्शन किया. के रूप में के रूप में अच्छी तरह से प्रतिरोध यंग मापांक prototypical इतो / PEDOT हमारे विधि का उपयोग करके मापा के लिए मान: PSS/P3HT: पीसी 61 बी.एम. प्रणाली साहित्य डेटा के साथ अच्छी तरह से अनुरूप हैं. P3HT: पीसी 61 बी.एम. मिश्रण 61 पीसी पर अलग बी.एम. अमीर और P3HT अमीर domaiएनएस. पीसी 61 बी.एम. अमीर और P3HT अमीर डोमेन मैकेनिकल गुण अलग कर रहे हैं, जो फिल्म की सतह के पर डोमेन रोपण के लिए अनुमति देता है. महत्वपूर्ण बात है, यांत्रिक और बिजली के डेटा के संयोजन बिजली के गुणों फिल्म की मोटाई के माध्यम से मापा भिन्नता के साथ फिल्म की सतह पर डोमेन संरचना के संबंध के लिए अनुमति देता है.
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