क्रायो स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी द्वारा रुक-खंडित पत्ता ऊतकों के भीतर संश्लेषक झिल्ली के Supramolecular संगठन का अध्ययन

फ्रीज खंडित नमूनों की क्रायो स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (SEM) के पास मूल निवासी की स्थिति में जैविक संरचनाओं की जांच की अनुमति देता है। यहाँ, हम पत्ती के नमूने के भीतर संश्लेषक (thylakoid) झिल्ली के supramolecular संगठन के अध्ययन के लिए एक तकनीक का वर्णन है। यह पत्ता ऊतकों के उच्च दबाव ठंड, फ्रीज fracturing, डबल परत कोटिंग और अंत में क्रायो SEM इमेजिंग द्वारा हासिल की है। (> 100,000X) जमे हुए हाइड्रेटेड नमूने लिए कम से कम नुकसान किरण के साथ ही कम से कम चार्ज प्रभाव के साथ छवियों को दोहरी परत कोटिंग विधि के प्रयोग के उच्च वृद्धि प्राप्त करने की अनुमति देता है। वर्णित प्रक्रियाओं का प्रयोग हम photosystem और प्रकाश कटाई एंटीना प्रोटीन परिसरों कि पुनरुत्थान संयंत्र Craterostigma pumilum के निर्जलीकरण के दौरान जगह ले, सीटू के supramolecular वितरण में परिवर्तन की जांच की।