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Abstract
Engineering
多相聚合物系统包含局部域,其尺寸可以从几十纳米到几微米不等。它们的成分通常使用红外光谱法进行评估,红外光谱法提供了探测体积中所含各种材料的平均指纹。但是,这种方法没有提供有关材料中相位安排的任何细节。两种聚合物相之间的界面区域(通常在纳米级范围内)也难以进入。光热纳米级红外光谱通过原子力显微镜(AFM)的灵敏探针监测红外光激发的材料的局部响应。虽然该技术适用于研究小特征,例如原始金表面上的单个蛋白质,但三维多组分材料的表征更加难以捉摸。这是由于与AFM尖端探测的纳米级区域相比,发生光热膨胀的材料相对较大,由激光聚焦到样品上和聚合物成分的热特性定义。使用聚苯乙烯 (PS) 珠和聚乙烯醇 (PVA) 薄膜,我们评估了用于表面分析的光热纳米级红外光谱的空间足迹,作为 PS 在 PVA 薄膜中位置的函数。研究了特征位置对纳米级红外图像的影响,并获得了光谱。考虑到具有嵌入聚合物结构的复杂系统的表征,对光热纳米级红外光谱领域的未来进展提出了一些看法。
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