透射电子显微镜工作流程、结果分析和数据管理的机器视觉方法

透射电子显微镜（TEM）使用户能够在基本的原子尺度上研究材料。复杂的实验通常会生成数千张具有大量参数的图像，这些参数需要耗时且复杂的分析。AXON同步性是一种机器视觉同步（MVS）软件解决方案，旨在解决TEM研究固有的痛点。一旦安装在显微镜上，它就可以在实验过程中连续同步显微镜、检测器和原位系统生成的图像和元数据。这种连接性支持机器视觉算法的应用，这些算法应用空间、光束和数字校正的组合来居中和跟踪视野内的感兴趣区域，并提供即时的图像稳定。除了这种稳定带来的分辨率的实质性改进之外，元数据同步还支持应用计算和图像分析算法来计算图像之间的变量。这种计算出的元数据可用于分析趋势或识别数据集中的关键感兴趣区域，从而在未来产生新的见解和更复杂的机器视觉功能的开发。基于此计算元数据构建的一个此类模块是剂量校准和管理。剂量模块提供最先进的校准、跟踪和管理电子能量（e^-/Å 2·^s-1）和累积剂量（e^-/Ų），以逐像素的方式输送到样品的特定区域。这样可以全面了解电子束和样品之间的相互作用。通过专用分析软件简化实验分析，其中由图像和相应元数据组成的数据集可以轻松可视化、排序、过滤和导出。这些工具相结合，促进了高效的协作和实验分析，鼓励了数据挖掘并增强了显微镜体验。