透過型電子顕微鏡ワークフロー、結果分析、データ管理へのマシンビジョンアプローチ

透過型電子顕微鏡(TEM)により、ユーザーは基本的な原子スケールで材料を研究できます。複雑な実験では、時間と複雑な分析を必要とする多数のパラメータを持つ何千もの画像が日常的に生成されます。AXONシンクロニシティは、TEM研究に固有の問題点に対処するために設計されたマシンビジョン同期(MVS)ソフトウェアソリューションです。顕微鏡にインストールすると、実験中に顕微鏡、検出器、in situシステムによって生成された画像とメタデータの継続的な同期が可能になります。この接続性により、空間補正、ビーム補正、デジタル補正を組み合わせて適用し、視野内の関心領域を中央に配置および追跡し、即時の画像安定化を提供するマシンビジョンアルゴリズムの適用が可能になります。このような安定化によってもたらされる解像度の大幅な向上に加えて、メタデータ同期は、画像間の変数を計算する計算および画像分析アルゴリズムの適用を可能にします。この計算されたメタデータを使用して、傾向を分析したり、データセット内の重要な関心領域を特定したりして、新しい洞察と将来のより高度なマシンビジョン機能の開発につなげることができます。この計算されたメタデータに基づいて構築されたそのようなモジュールの1つは、線量の校正と管理です。線量モジュールは、ピクセルごとにサンプルの特定の領域に送達される電子フルエンス(e^-/Å2·^s-1)と累積線量(e^-/^Å2)の両方の最先端の校正、追跡、および管理を提供します。これにより、電子ビームとサンプル間の相互作用の包括的な概要が可能になります。実験分析は、画像と対応するメタデータで構成されるデータセットを簡単に視覚化、並べ替え、フィルタリング、およびエクスポートできる専用の分析ソフトウェアによって合理化されます。これらのツールを組み合わせることで、効率的なコラボレーションと実験分析を促進し、データマイニングを促進し、顕微鏡検査の経験を向上させることができます。