Yerinde İletim Elektron Mikroskobu Kullanılarak Tamamen Katı Hal Pili için Kaplamaların Taranması

2.3K Views

07:20 min

January 20th, 2023

DOI :

10.3791/64316-v

January 20th, 2023


Transkript

Daha Fazla Video Keşfet

Kimya

Bu videodaki bölümler

0:04

Introduction

1:00

Preparation of Half‐Cut TEM Grids with Coated Si Nanoparticles for Checking the Suitability of ALD‐Deposited Titanium Dioxide Coatings

1:53

Preparing the Tungsten Needle

2:37

Loading the Drop‐Casted TEM Grid and Lithium Loaded Tungsten Needle into the In Situ TEM Holder

3:15

Inserting the Assembled In Situ Holder into the TEM

4:02

Performing the In Situ Biasing Experiment in the TEM and Analyzing the TEM Images

5:37

Results: Screening Method of Potential Coatings for All‐Solid‐State Batteries Using In Situ Transmission Electron Microscopy

6:28

Conclusion

İlgili Videolar

JoVE Logo

Gizlilik

Kullanım Şartları

İlkeler

Araştırma

Eğitim

JoVE Hakkında

Telif Hakkı © 2020 MyJove Corporation. Tüm hakları saklıdır