Sondering Overflade elektrokemisk aktivitet af nanomaterialer ved hjælp af en Hybrid Atomic Force Mikroskop-Scanning elektrokemiske mikroskop (AFM-SECM)
Results: Topography and Current Imaging of ONBs and Cu2O NPs by AFM-SECM
7:33
Conclusion
Transcript
Denne protokol medarbejdere en kraftfuld og innovativ teknologi såkaldte Atomic Force Mikroskop kombineret med Elektro-kemikalier Scanning Mikroskop, som er AFM-SECM at scanne morfologiske og elektrokemiske oplysninger om facetter nanomaterialer o
Sign in or start your free trial to access this content
Atomkraftmikroskopi (AFM) kombineret med scanning af elektrokemisk mikroskopi (SECM), nemlig AFM-SECM, kan bruges til samtidig at erhverve topografiske og elektrokemiske oplysninger i høj opløsning på materialeoverflader på nanoskala. Sådanne oplysninger er afgørende for at forstå heterogene egenskaber (f.eks. reaktivitet, defekter og reaktionssteder) på lokale overflader af nanomaterialer, elektroder og biomaterialer.