Results: Topography and Current Imaging of ONBs and Cu2O NPs by AFM-SECM
7:33
Conclusion
Transcript
Dit protocol bevat een krachtige en innovatieve technologie, de zogenaamde Atomic Force Microscope, gekoppeld aan de Electro-chemicals Scanning Microscope, afm-SECM om de morfologische en elektrochemische informatie over gefacetteerd nanomateriaal
Sign in or start your free trial to access this content
Atoomkrachtmicroscopie (AFM) in combinatie met scanning elektrochemische microscopie (SECM), namelijk AFM-SECM, kan worden gebruikt om tegelijkertijd topografische en elektrochemische informatie met hoge resolutie te verkrijgen op materiaaloppervlakken op nanoschaal. Dergelijke informatie is van cruciaal belang voor het begrijpen van heterogene eigenschappen (bijv. reactiviteit, defecten en reactieplaatsen) op lokale oppervlakken van nanomaterialen, elektroden en biomaterialen.