Probing overflate elektrokjemisk aktivitet av nanomaterialer ved hjelp av en hybrid atomkraft mikroskop-skanning elektrokjemisk mikroskop (AFM-SECM)

Atomkraftmikroskopi (AFM) kombinert med skanning av elektrokjemisk mikroskopi (SECM), nemlig AFM-SECM, kan brukes til samtidig å skaffe seg topografisk og elektrokjemisk informasjon med høy oppløsning på materialoverflater ved nanoskala. Slik informasjon er avgjørende for å forstå heterogene egenskaper (f.eks. reaktivitet, defekter og reaksjonssteder) på lokale overflater av nanomaterialer, elektroder og biomaterialer.