Results: Topography and Current Imaging of ONBs and Cu2O NPs by AFM-SECM
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Conclusion
Transcript
Este protocolo possui uma tecnologia poderosa e inovadora chamada Microscópio da Força Atômica, juntamente com o microscópio de varredura eletroquímico que é o AFM-SECM para digitalizar as informações morfológicas e eletroquímicas sobre nanomateri
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A microscopia de força atômica (AFM) combinada com a microscopia eletroquímica de varredura (SECM), ou seja, AFM-SECM, pode ser usada para adquirir simultaneamente informações topográficas e eletroquímicas de alta resolução em superfícies materiais em nanoescala. Tais informações são fundamentais para a compreensão de propriedades heterogêneas (por exemplo, reatividade, defeitos e locais de reação) em superfícies locais de nanomateriais, eletrodos e biomateriais.