Зондирование поверхностной электрохимической активности наноматериалов с помощью гибридного атомно-силового микроскопа-сканирующего электрохимического микроскопа (AFM-SECM)

Атомно-силовая микроскопия (АСМ) в сочетании со сканирующей электрохимической микроскопией (ТСЭМ), а именно АСМ-ТСЭМ, может использоваться для одновременного получения топографической и электрохимической информации высокого разрешения на поверхностях материалов на наноуровне. Такая информация имеет решающее значение для понимания гетерогенных свойств (например, реакционной способности, дефектов и мест реакций) на локальных поверхностях наноматериалов, электродов и биоматериалов.