Name: probing surface electrochemical activity of nanomaterials using a hybrid atomic force microscope-scanning electrochemical microscope (afm-secm)
Uploaded: 2021-02-10T12:30:00
Description: Watch this Scientific Journal Video about Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope AFM-SECM at JoVE.com

Detta arbete finansieras av national science foundation (Award Number: 1756444) via Biological & Environmental Interfaces of Nano Materials, USDA National Institute of Food and Agriculture, AFRI project [2018-07549] och Assistance Agreement Nr. 83945101-0 som tilldelats av U.S. Environmental Protection Agency till New Jersey Institute of Technology. Det har inte formellt granskats av EPA. De åsikter som uttrycks i detta dokument är enbart upphovsmäns åsikter och återspeglar inte nödvändigtvis byråns åsikter. EPA stöder inte några produkter eller kommersiella tjänster som nämns i denna publikation. Författarna tackar också Undergraduate Research and Innovation program (URI) Phase-1 & Phase-2 vid New Jersey Institute of Technology.

1. Provberedning
<ol><li>
Beredning av fasade Cu2O nanopartiklar och nedfall på kiselsubstrat
	<ol>
<li>Lös upp 0,175 g CuCl2▼2H2O (99,9%) i 100 ml avjoniserat (DI) vatten för att generera en vattenlösning på 10 mM CuCl2.</li>
		<li>Tillsätt 10,0 ml 2,0 M NaOH och 10 ml 0,6 M askorbinsyra droppvis i CuCl2-lösningen.</li>
		<li>Värm lösningen i en 250 ml rundkolv under konstant omrörning i ett 55 °C vattenbad i 3 timmar.</li>
		<li>Saml...

En kombinerad AFM-SECM-teknik som möjliggör högupplöst multimodal avbildning har beskrivits i detta protokoll. Denna teknik gör det möjligt att mappa topografin samtidigt med SECM-strömmen som samlas in eller mappas på enstaka nanopartiklar eller nanobubblor. Experiment utfördes med hjälp av kommersiella sonder. Dessa sonder utformades för att ge kemisk kompatibilitet med ett brett spektrum av elektrokemiska miljöer, elektrokemisk prestanda, mekanisk stabilitet och flercykelhantering18...

Karakterisering av elektrokemiskt (EG) beteende kan ge kritiska insikter i kinetik och mekanismer för interfacial reaktioner inom olika områden, såsombiologi 1,2,energi3,4, materialsyntes5,6,7, och kemisk process8,9. Traditionella EG-mätningar inklusive elektrokemisk impedansspektroskopi10,elektrokemiskabullermetoder 11,galvanostatisk intermittent titrering12och cyklisk voltammetri13 utförs vanligtvis i makroskopisk skala och ger ett ytgenomsnittligt svar. Således är det svårt att extrahera information om hur elektrokemisk aktivitet fördelas över en yta, men lokala ytegenskaper i nanoskala är särskilt viktiga där nanomaterial används i stor utsträckning. Därför är nya tekniker som samtidigt kan fånga både flerdimensionell information i nanoskala och elektrokemi mycket önskvärda.
Scanning elektrokemisk mikroskopi (SECM) är en allmänt använd teknik för att mäta den lokaliserade elektrokemiska aktiviteten hos material i mikro- och nanoskalor14. Vanligtvis använder SECM en ultramikroelektrod som en sond för att upptäcka elektroaktiva kemiska arter när den skannar en provyta för att rumsligt lösa lokala elektrokemiska egenskaper15. Den uppmätta strömmen vid sonden produceras genom reduktion (eller oxidation) av medlare, och denna ström är en indikator på den elektrokemiska reaktiviteten vid provets yta. SECM har utvecklats avsevärt efter sin första start 198916,17 men det utmanas fortfarande av två huvudbegränsningar. Eftersom EG-signaler vanligtvis är känsliga för interaktionsegenskaper för spetssubstrat är en begränsning av SECM att om sonden håller sig på en konstant höjd förhindras en direkt korrelation mellan elektrokemisk aktivitet och ytlandskapet, på grund av invecklad topografi med den insamlade EG-informationen18. För det andra är det svårt för ett kommersiellt SECM-system att erhålla bildupplösning under mikrometer (μm) eftersom den rumsliga upplösningen delvis bestäms av sonddimensionerna, som ligger på mikrometerskalan19. Därför används nanoelektroder, elektroderna med en diameter i nanometerområdet, alltmer i SECM för att uppnå en upplösning under submikrometerskalan20,21,22,23.
För att ge en konstant spets-substratavståndskontroll och få en högre rumslig elektrokemisk upplösning har flera hybridtekniker för SECM använts, såsom jonledningspositionering24,shearkraftpositionering25, växelström SECM26, och positionering av atomkraftmikroskopi (AFM). Bland dessa instrument har SECM som integrerar AFM-positionering (AFM-SECM) blivit ett mycket lovande tillvägagångssätt. Eftersom AFM kan ge fasta spetssubstratavstånd möjliggör den integrerade AFM-SECM-tekniken samtidig förvärv av strukturell och elektrokemisk information i nanoskala genom kartläggning eller provsopning med de skarpa AFM-spetsarna. Sedan macpherson och Unwins första framgångsrika drift av AFM-SECM 199627har betydande förbättringar uppnåtts när det gäller sonddesign och tillverkning samt dess tillämpningar inom olika forskningsområden som elektrokemi i kemiska och biologiska processer. Till exempel har AFM-SECM implementerats för avbildning av kompositmaterialytor, såsom ädelmetallnanopartiklar28, funktionaliserade eller dimensionsstabila elektroder29,30och elektroniska enheter31. AFM-SECM kan kartlägga de elektrokemiskt aktiva platserna från spetsströmbilden.
Samtidiga topografiska och elektrokemiska mätningar kan också uppnås med andra tekniker som ledande AFM32,33,34,35,elektrokemisk AFM (EC-AFM)36,37,38,39, skanning konduktivitet mikroskopi-scanning elektrokemisk mikroskopi (SICM-SECM)24,40, och scanning elektrokemiska cellmikroskopi (SECCM)41,42 Jämförelsen mellan dessa tekniker har diskuterats i en översyn papper1. Syftet med det nuvarande arbetet var att använda SECM-AFM för att demonstrera den elektrokemiska kartläggningen och mätningen av faselektronadda kristallina cuprousoxid nanomaterial och nanobubblor i vatten. Facetterade nanomaterial syntetiseras i stor utsträckning för metalloxidkatalysatorer i rena energitillämpningar eftersom fasetter med distinkta kristallografiska egenskaper har distinkta ytatomära strukturer och ytterligare dominerar deras katalytiska egenskaper. Dessutom mätte och jämförde vi också det elektrokemiska beteendet vid vätske-/gasgränssnitten för ytnanobubblor (NBs) på guldsubstrat. NBs är bubblor med en diameter på <1 μm (även känd som ultrafinabubblor) 43, och de framkallar många spännande egenskaper44,45, inklusive långa uppehållstider ilösningarna 46,47 och hög effektivitet av gasmassöverföring46,48. Dessutom skapar kollapsen av NBs chockvågor och bildandet av hydroxylradikaler (•OH)49,50,51,52. Vi mätte den elektrokemiska reaktiviteten hos syre-NBs i lösningen för att bättre förstå de grundläggande kemiska egenskaperna hos NBs.

<table>
	<tbody>
		<tr>
			<td>Equipment</td>
			<td></td>
			<td></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Atomic force microsopy</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>Dimenison Icon</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Bipotentiostat</td>
			<td>CH Instruments, Inc.</td>
			<td>CHI 700E</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Materials</td>
			<td></td>
			<td></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Silicon wafer</td>
			<td>TED PELLA, Inc.</td>
			<td>16013</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Fresh gold plates</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>model 119-017-307</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>PF-SECM-AFM probes</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>990-050138</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>PF-SECM strain-release module</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>840-012-724</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>PF-SECM Probe Holder</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>900-050121</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>PF-SECM Chuck</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>PF-SECM Chuck</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>PF-SECM O-ring</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>598-000-106</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>PF-SECM cover glass, SECM Cell</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>900-050137</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>EC Cell Assy</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>932-017-300</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>ESD Field Service</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>490-000-066</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>PF-SECM Boot</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>900-050136</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Spring connector block</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>900-050524</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>PFSECM Tweezers</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Cable, SECM Tip module</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>468-050171</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Ag wire</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>249-000-056</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Pt wire</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>248-000-004</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Hard sharp wire</td>
			<td>Bruker, CA</td>
			<td>TT-ECM10</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Tubular ceramic membrane</td>
			<td>Refracton</td>
			<td>WFA0.1</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Chemicals</td>
			<td></td>
			<td></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Copper(II) chloride dihydrate</td>
			<td>ACROS Organics</td>
			<td>AC315281000</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Sodium Hydroxide</td>
			<td>Fisher Chemical</td>
			<td>S318-100</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Ascorbic Acid</td>
			<td>Fisher Chemical</td>
			<td>A61-25</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Epoxy</td>
			<td>Loctite</td>
			<td>Instant Mix</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Potassium Chloride</td>
			<td>Fisher Chemical</td>
			<td>P217-500</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Hexaammineruthenium(III) chloride</td>
			<td>ACROS Organics</td>
			<td>AC363342500</td>
			<td></td>
		</tr>
	</tbody>
</table>

probing surface electrochemical activity of nanomaterials using a hybrid atomic force microscope-scanning electrochemical microscope (afm-secm)

Scanning elektrokemisk mikroskopi (SECM) används för att mäta det lokala elektrokemiska beteendet hos flytande / fast, flytande / gas och flytande / flytande gränssnitt. Atomkraftmikroskopi (AFM) är ett mångsidigt verktyg för att karakterisera mikro- och nanostruktur när det gäller topografi och mekaniska egenskaper. Konventionella SECM eller AFM ger dock begränsad i lydnadsbegränsad information om elektriska eller elektrokemiska egenskaper i nanoskala. Till exempel är aktiviteten hos en nanomaterialyta på kristall fasetnivåer svår att lösa med konventionella elektrokemiska metoder. Detta dokument rapporterar tillämpningen av en kombination av AFM och SECM, nämligen AFM-SECM, för att undersöka nanoskalans ytelektrokemiska aktivitet samtidigt som högupplösta topografiska data förvärvas. Sådana mätningar är avgörande för att förstå sambandet mellan nanostruktur och reaktionsaktivitet, vilket är relevant för ett brett spektrum av tillämpningar inom materialvetenskap, life science och kemiska processer. Mångsidigheten hos den kombinerade AFM-SECM visas genom kartläggning av topografiska och elektrokemiska egenskaper hos fasonerade nanopartiklar (NPs) respektive nanobubblor. Jämfört med tidigare rapporterade SECM-avbildningar av nanostrukturer möjliggör denna AFM-SECM kvantitativ bedömning av lokal ytaktivitet eller reaktivitet med högre upplösning av ytkartläggning.

Topografi och aktuell avbildning av ONB av AFM-SECM
Tidigare studier som karakteriserade NBs med AFM rapporterade endast topografi bilder för att avslöja storleken och fördelningen av NBs immobilized på ett fast substrat56,57. Experimenten här visade både morfologisk och elektrokemisk information. Enskilda syrenanobubblor (ONB) kan tydligt identifieras i figur 9, som ger topografi sa...

Watch this Scientific Journal Video about Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope AFM-SECM at JoVE.com

Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope AFM-SECM

Atomkraftmikroskopi (AFM) i kombination med scanning av elektrokemisk mikroskopi (SECM), nämligen AFM-SECM, kan användas för att samtidigt förvärva högupplöst topografisk och elektrokemisk information om materialytor i nanoskala. Sådan information är avgörande för att förstå heterogena egenskaper (t.ex. reaktivitet, defekter och reaktionsplatser) på lokala ytor av nanomaterial, elektroder och biomaterial.

Sondering av ytelektrokemisk aktivitet hos nanomaterial med hjälp av ett hybridmikroskopscanningselkemiskt mikroskop (AFM-SECM)

Scanning electrochemical microscopy (SECM) is used to measure the local electrochemical behavior of liquid/solid, liquid/gas and liquid/liquid interfaces. ...

Detta protokoll har en kraftfull och innovativ teknik som kallas Atomic Force Microscope i kombination med elektrokemikalier Scanning Microscope som är AFM-SECM för att skanna morfologiska och elektrokemiska information om fasetrerade nanomaterial och nanobubblor i vatten. AFM-SECM kan kartlägga elektrokemiskt reaktiv yta baserat på spetsströmsbilder och även möjliggöra samtidig förvärv av ytstrukturer i nanoskala och elektrokemisk information om provmaterial. Provberedningen för denna metod kräver att de fasta partiklarna immobiliseras helt på substratet och bindningarna mellan prover och substrat säkerställer elektrisk ledningsförmåga.Valet av Redox Medlare är också kritiskt. Dessutom är demonstration nödvändig för att verkligen visa att den hölls under en dedikerad, separat operation i detta protokoll, till exempel provberedningssystem som sker under bildprocessen. Deponera 10 mikroliter epoxi på en rengjord kiselskiva med en pipettspets och klinka den med en ren glasrutschbana.Efter cirka fem minuter, släpp 10 mikroliter av kopparoxidnanopartiklars suspension på epoxibelagda kiselplattor substrat. Dammsug sedan substratet vid 40 grader Celsius eller sex timmar. För att förbereda syre nanobubbles injicera direkt komprimerat syre genom ett rörformigt keramiskt membran i avjoniserat vatten.Deponera 1,8 milliliter nanobubble suspension på ett guldsubstrat i den elektrokemiska provcellen och stabilisera den i 10 minuter. Ersätt det befintliga exempelsegmentet med SECM-segmentet. Skruva sedan fast den med två M3, 6 mm hylshuvudlockskruvar och en 2,5 millimeters sexkantsnyckel.Montera utspänningsmodulen på AFM-skannern och anslut den till den fungerande elektrodkontakten på fjäderkontaktblocket med en förlängningskabel. Dubbelklicka på de två programvaruikonerna för att initiera AFM-systemet och kontrollgränssnittet by potentiostat. Förbered det elektrostatiska urladdningsfältet, ytförpackningen inklusive en antistatisk dyna, elektrostatiskt urladdningsskyddande sondstativ, bärbara antistatiska handskar och handledsrem.Använd en skyddsstart under AFM-SECM-testning för att förhindra att AFM-skannern utsätts för vätska. Sätt sondhållaren på det elektrostatiska urladdningsskyddets skyddsprobstativt stativ och använd ett par pincett av plast för att fästa skyddskängan på spetshållaren. Rikta sedan in det lilla skuret i skyddsskon mot skåran i sondhållaren.Öppna lådan med AFM-SECM-sonder med en spets pincett och ta sonden från båda sidor av spåren. Använd skivhandtaget för att hålla sondhållaren på stativet och placera sondtråden i stativhålet. Skjut sedan in sonden i sondhållarens spår.När sonden är inne i öppningen, använd den plana änden av pincetten för att trycka in den. Fäst hela sondhållaren på skannern och använd PTFE-spets pincetten för att ta tag i tråden precis under kopparringen och anslut den till modulen. Sätt sedan tillbaka skannern till dovetailen.Placera den tidigare monterade elektrokemiska provcellen med provexemplanet på den centrala punkten i SECM-segmentet. Anslut sedan pseudoreferenselektroden och motelektroden till fjäderkontaktblocket. I AFM-SECM-programvaran väljer du SECM PeakForce QNM för att ladda arbetsytan.I installationen läser du in SECM-sonden och justerar sedan en laser mot spetsen med hjälp av en justeringsstation. Gå till Navigering och flytta skannern nedåt långsamt för att fokusera på provytan. Justera positionen för de elektrokemiska provcellerna något för att se till att skannern inte vidrör provcellens glasskydd när du rör dig.När du har fokuserat på exemplet klickar du på Uppdatera blind engageposition. Klicka på Flytta till lägg till vätskeposition och lägg till cirka 1,8 milliliter buffertlösning i provcellen. Se till att lösningens nivå är lägre än glasskyddet och att kablarna är nedsänkta i lösningen, använd en pipett för att agitera lösningen för att ta bort eventuella bubblor och vänta i fem minuter.Klicka på Flytta till blind engageposition som gör att spetsen flyttas tillbaka till buffertlösningen. Justera lasern något för att se till att lasern är i linje med spetsen. Öppna den elektrokemiska arbetsstationsprogramvaran och klicka på teknikkommandot i verktygsfältet för att öppna teknikväljaren.Välj Potentiell tid för öppen krets och använd standardinställningen för att köra OCP-mätningen som ska vara nästan noll och stabil. Klicka på teknikkommandot igen och välj cyklisk voltammetri och ange sedan parametrarna för cyklisk voltammetri och fortsätt med SECM-avbildning. Gå tillbaka till AFM-SECM-programvaran och klicka på Engage.Välj sedan kronoamperometri och ställ in kronoamperometriparametrarna med initialt som minus 0,4 volt pulsbredden som 1000 sekunder och samma känslighet som CV-skanningen. När programmet körs, gå tillbaka till AFM-SECM-programvaran kontrollera realtidsläsningen på strippdiagrammet och klicka på start. Spara bilderna i AFM-SECM-programvaran.Använd den elektriska kemiska provcellen som en behållare för rent vatten, flytta spetsen in och ut ur vätskan med Blind Engage Functions i navigationspanelen och växla vattnet tre gånger. Använd sedan rena våtservetter för att försiktigt ta bort restvatten från sondhållaren och lägg tillbaka sonden i sondlådan. Detta protokoll användes för att karakterisera enskilda syre nanobubbles, avslöjar både morfologiska och elektrokemiska information.Jämförelsen av topografin och den aktuella bilden visar korrelationen mellan platserna för nanobubblorna och de nuvarande fläckarna. Topografin och aktuella bilder av kopparoxidnanopartiklar visas här. Tipsströmbilden anger att nanopartikeln som syns i topografibilden är förknippad med en uppenbar elektrisk strömfläck.Medan bakgrundsströmmen motsvarar det platta kiselsubstratet. Här är fem representativa cykliska voltammetrikurvor i AFM-SECM-spetsen på ungefär en millimeter från substratet. Diffusionsbegränsad spetsström minskade inte med tiden.Ändringarna av spetsströmmen när spetsen närmar sig provytan ritas här. AFM-SECM-spetsen närmade sig substratytan i Z-riktningen tills den nådde en börpunkt som indikerar den fysiska spetssubstratkontakten eller böjningen. När detta protokoll ser till att den fasta partikeln immobiliseras som substrat är de helt med elektrisk ledningsförmåga och det finns inga bubblor i lösningen i provcellen.Provberedningsmetoden är relevant för ett bredare spektrum av applikationer som involverar nanomaterial, särskilt för nanomaterialkarakterisering. AFM-SECM-tekniken kan användas för att förvärva samtidig topografi och elektrokemisk bild på nanoskalan som är viktig för utveckling och tillämpning av nanomaterial inom forskningsområden som materialvetenskap, kemi och life science.

Research

JoVE Journal

Chemistry

Probing Surface Electrochemical Activity of Nanomaterials using a Hybrid Atomic Force Microscope-Scanning Electrochemical Microscope (AFM-SECM)

Dynamic Electrochemical Measurement of Chloride Ions

Dynamisk elektrokemisk mätning av kloridjoner

This protocol describes the dynamic measurement of chloride ions using the transition time of a silver silver chloride (Ag/AgCl) electrode. Silver silver ...

A Protocol for Electrochemical Evaluations and State of Charge Diagnostics of a Symmetric Organic Redox Flow Battery

Ett protokoll för Elektro Utvärderingar och laddningstillstånd Diagnostik av en Symmetrisk Organic Redox Flow Batteri

Redox flow batteries have been considered as one of the most promising stationary energy storage solutions for improving the reliability of the power grid ...

Electrochemical Impedance Spectroscopy as a Tool for Electrochemical Rate Constant Estimation

Elektroimpedansspektroskopi som ett verktyg för elektrokemisk hastighet konstant uppskattning

Electrochemical impedance spectroscopy (EIS) was used for advanced characterization of organic electroactive compounds along with cyclic voltammetry (CV). ...

Phthalic Acid Ester-Binding DNA Aptamer Selection, Characterization, and Application to an Electrochemical Aptasensor

Ftalsyra Ester-bindande DNA Aptamer urval, karakterisering och för att en elektrokemisk Aptasensor

Phthalic acid esters (PAEs) areone of the major groups of persistent organic pollutants. The group-specific detection of PAEs is highly desired due to the ...

Synthesis and Performance Characterizations of Transition Metal Single Atom Catalyst for Electrochemical CO2 Reduction

Synthesis and Performance Characterizations of Transition Metal Single Atom Catalyst for Electrochemical CO2 Reduction

Syntes och prestanda karakteriseringar av övergång metall enda Atom katalysator för elektrokemisk CO2 minskning

This protocol presents both the synthesis method of the Ni single atom catalyst, and the electrochemical testing of its catalytic activity and selectivity ...

An Electrochemical Cholesteric Liquid Crystalline Device for Quick and Low-Voltage Color Modulation

En elektrokemisk Cholesteric flytande kristallin anordning för snabb och låg spänning färg modulering

We demonstrate a method for fabricating a prototype reflective display device that contains cholesteric liquid crystal (LC) as an active component. The ...

Electrochemical Roughening of Thin-Film Platinum Macro and Microelectrodes

Elektrokemisk grov bearbetning av thin-film Platinum makro och Mikroelektroder

This protocol demonstrates a method for electrochemical roughening of thin-film platinum electrodes without preferential dissolution at grain boundaries ...

Asymmetric Thermoelectrochemical Cell for Harvesting Low-grade Heat under Isothermal Operation

Asymmetrisk termoelektrokemisk cell för skörd lågvärdig värme under Isothermal Operation

Low-grade heat is abundantly available in the environment as waste heat. The efficient conversion of low-grade heat into electricity is very difficult. We ...

Atomic Force Microscopy Combined with Infrared Spectroscopy as a Tool to Probe Single Bacterium Chemistry

Atomic Force mikroskopi kombinerat med infraröd spektroskopi som verktyg för att sondera en bakteriekemi

Atomic Force Microscopy-Infrared Spectroscopy (AFM-IR) is a novel combinatory technique, enabling simultaneous characterization of physical properties and ...

Electrochemical Preparation of Poly(3,4-Ethylenedioxythiophene) Layers on Gold Microelectrodes for Uric Acid-Sensing Applications

Electrochemical Preparation of Poly3,4-Ethylenedioxythiophene Layers on Gold Microelectrodes for Uric Acid-Sensing Applications

Elektrokemisk beredning av poly(3,4-etylendioxitiofen) skikt på guldmikroelektroder för urinsyraavkänningsapplikationer

Two different methods for the synthesis of poly(3,4-ethylenedioxythiophene) (PEDOT) on gold electrodes are described, using electropolymerization of ...