Hibrit Atomik Kuvvet Mikroskobu-Taramalı Elektrokimyasal Mikroskop (AFM-SECM) Kullanarak Nanomalzemelerin Yüzey Elektrokimyasal Aktivitesinin Yoklandırılması
Results: Topography and Current Imaging of ONBs and Cu2O NPs by AFM-SECM
7:33
Conclusion
Transcript
Bu protokol, sudaki çok yönlü nanomalzemeler ve nanobubbles üzerindeki morfolojik ve elektrokimyasal bilgileri taramak için AFM-SECM olan Elektro-kimyasallar Tarama Mikroskobu ile birlikte Atomik Kuvvet Mikroskobu adı verilen güçlü ve yenilikçi bi
Sign in or start your free trial to access this content
Atomik kuvvet mikroskopisi (AFM), taramalı elektrokimyasal mikroskopi (SECM) ile birlikte, yani AFM-SECM, nano ölçekte malzeme yüzeylerinde aynı anda yüksek çözünürlüklü topoğrafik ve elektrokimyasal bilgiler elde etmek için kullanılabilir. Bu tür bilgiler, nanomalzemelerin, elektrotların ve biyomalzemelerin yerel yüzeylerindeki heterojen özellikleri (örneğin, reaktivite, kusurlar ve reaksiyon bölgeleri) anlamak için kritik öneme sahiptir.