Распространенной проблемой при подготовке образцов для криоэлектронной микроскопии является локализация частиц на границе раздела воздух-вода, в результате чего частицы принимают предпочтительную ориентацию и денатурируются. Вместо этого лучше, чт
Sign in or start your free trial to access this content