Method Article
The methodology to perform friction force microscopy experiments for contacting brushes is presented: Two polymer brushes that are grafted from (a) substrates and (b) colloidal probes are slid to show that, by using two contacting immiscible brush systems, friction in sliding contacts is reduced compared to miscible brush systems.
溶剂化的聚合物刷是公知的润滑高压触点,因为它们能够维持正正常负载,同时保持低摩擦界面处。然而,这些系统可以是敏感穿由于相对的电刷交错结合。在最近的出版物中,我们已经通过分子动力学模拟和原子力显微术实验显示,在使用不混溶的聚合物刷系统终止所述基板和滑块的表面,分别可以消除这种交错结合。因此,穿在接触被减少。此外,该摩擦力是两个数量级低相比传统混溶聚合物刷的系统。因此,这一新提议的系统保持着在行业中的应用潜力巨大。这里,该方法来构建两种不同的刷子各由自己的优选的溶剂溶剂化的不混溶的聚合物刷系统呈现。如何嫁接P程序OLY(N- -isopropylacrylamide)从一个原子力显微镜(AFM)的胶体探针(PNIPAM)从一个平坦表面和聚(甲基丙烯酸甲酯)(PMMA)进行说明。 PNIPAM被溶解在水和PMMA中苯乙酮。通过摩擦力AFM测量,它表明,用于该系统的摩擦力确实由两个数量级减少相比的PMMA聚甲基丙烯酸甲酯的可混溶体系溶解在苯乙酮。
完美润滑剂减少摩擦和磨损在即使当正常负载高的相对运动的固体。为了实现这一目标,润滑剂应该在滑动和在休息留在接触。然而,一个正正常负荷下,简单,低粘度液体被快速挤出来的接触面积和更高粘度的油最终被排出。然而,生物接触,例如 ,在人的关节,保持润滑用的低粘度流体在任何时候。自然实现了使用连接到固体表面1的糖链效率等的润滑。亲水糖链保持含水液体中提供的正常压力不超过的溶剂2中的渗透压的接触。因此,大量的努力已针对通过接枝形成所谓的聚合物刷3-12的聚合物固体表面模仿生物润滑剂。
当两个对立的聚合物电刷接触,在一侧上的聚合物链段可在相反侧移动到刷子链段。这种效应被称为交错结合13。当刷子处于相对滑动运动,交错结合是磨损14和摩擦15-17的主要来源。事实上,最近,滑动聚合物刷摩擦速度的关系已经得到18。这些缩放法是基于交错结合以及由此引发的拉伸和聚合物的后滑动弯曲。其主要特点同意的表面力装置的实验结果19和分子动力学(MD)的仿真20。在后者的重叠程度可以直接定量。此外,它表明,聚电解质刷子之间的重叠可以通过施加电场21被调谐。因此,如果交错结合可以回避,摩擦磨损在这些系统将是significanTLY减少。
在最近出版的22,我们通过MD模拟两个不相混溶溶剂化聚合物刷系统,防止刷之间的重叠显示。此外,当滑动的电刷,我们发现了降低摩擦力的由两个数量级相比传统混溶刷系统,在与我们的原子力显微镜(AFM)测量非常吻合。在这里,我们详细介绍一下如何设置参考的AFM实验。 22.基本原理是描绘在图1中。在两个反向的表面,两个不同的刷子,各由自己的优选的溶剂溶剂化的,也是需要的。在这种结构中,每个刷子保持在其自己的溶剂中进行。因此,从一个刷聚合物链段不渗入其他刷。聚(甲基丙烯酸甲酯)(PMMA)是从AFM胶体探针接枝和刷由苯乙酮溶剂化。从平坦表面聚(N- -isopropylacrylamide)(PNIPAM)被嫁接和溶解在水中。为了比较本发明的系统与传统的系统可混溶,第二平坦对置表面带有一个聚甲基丙烯酸甲酯刷溶解在苯乙酮制成。当上滑动PNIPAM PMMA的不混溶体系所测量摩擦力为聚甲基丙烯酸甲酯的聚甲基丙烯酸甲酯的可混溶体系的摩擦力大约1%。需要注意的是,使用这些特定刷系统的仅是一个例子。该方法是通用的,适用由于在不同的刷子的溶剂的优选的吸光度。因此,多种类型的刷子的预计是适用的,只要所选择的溶剂脱混合的两个电刷。该效果是通过使用两个非混合溶剂(如苯乙酮和水),使得一个额外的滑溜的流体上的流体滑动界面创建22,23放大。
注: 图2示出了样品制备过程。聚合物刷从硅接枝(Si)的衬底(路径(一)),来自金涂覆的基材(100纳米金蒸发在Si晶片具有10纳米的铬粘合层,路径(B)),并从金胶体AFM探针(6微米的直径,路径(C))通过表面引发原子转移自由基聚合(SI-ATRP)24。原子力显微镜测量在一多模AFM进行与低噪声头,垂直接合扫描仪和一个液体细胞。
1.样品制备
2.测量AFM
图4示出在滑动两者混溶和不混溶的聚合物刷系统代表的AFM力痕迹。摩擦力F是由摩擦力归在稳态滑动˚F 符号为对称的,可混溶体系。刷的高度在这些实验肿是1010纳米的PMMA和532纳米的PNIPAM。力痕迹按照议定书节中描述的步骤后抓获。在这些实验中,表面被来回移动用80微米/秒的速度v,同时施加30 NN正常负载。在为可混溶(左图)摩擦力和不混溶的(右面板)刷系统的差异可以清楚地观察到。在左侧面板中的稳态摩擦力比右侧面板中的稳态摩擦力90X高。对于不混溶的系统测得的摩擦力通常所测量的摩擦力F的0.5-2%或混溶体系。虽然确切的摩擦减少取决于接枝密度,聚合度,溶剂的量,和(弱)上的正常负载和滑动速度,它始终是围绕两个数量级。若增加用于通过一个因子5(以400微米/秒)以上所描述的系统中的滑动速度,摩擦减少了2%降低。如果我们增加了正常负荷由10倍(300 NN),摩擦减少3%下降。
图1的安装的示意图草图。左面板显示混溶体系,其中相同的聚合物是由在表面和胶体接枝。电刷被溶解在单相液体。右侧面板示出了两个不同的聚合物刷的不混溶体系。每刷溶解在自己首选的液体。在传统混溶系统相反电刷的聚合物重叠。对于不混溶体系,相对刷不互相交叉,使得摩擦和滑动操作时的磨损。
如在协议部分中描述的样品的制备过程的图2示意图草图。从左至右示出了刷子的准备通过引发剂沉积和表面引发的原子转移自由基聚合(ATRP SI)的过程。路径(A)描述了从硅表面嫁接的画笔,(B)从刷镀金硅表面和(C)刷子从胶体金上的原子力显微镜探针嫁接。 请点击此处查看人arger版本,这个数字。
聚甲基丙烯酸甲酯(蓝色)和PNIPAM(绿色)的图3 FTIR光谱刷上硅(粗线)和金(细线),数据取自增刊。垫。的参考。 22. PMMA波数(厘米- 1):3,050-2,990(CH伸缩振动),1730 C = O(双键的伸缩振动),1450(CH 3和CH 2变形振动),1,260-1,040(COC单键伸缩振动),880-960(COC单键变形振动)。在1730厘米- 1的C = O基的特征伸缩振动峰是显而易见PNIPAM波数(厘米-1):3289(NH对称和非对称伸缩振动),3078,2971,2933,2874(非对称和对称CH伸缩。振动-CH <子> 2 - ),1635(C = O伸缩振动),1535(酰胺Ⅱ),1458(CH不对称弯曲变形),1386(CH对称弯曲变形),1,366-1,170(CN不对称伸缩振动)。在1635和1535厘米- 1的酰胺基团的特征伸缩振动峰是显而易见的。
图4.平均,过滤并在滑动混溶(左)和不混溶的(右)系统平滑力痕迹(来自参考文献的调整。22),表面被来回移动40微米,在一扫描速率为1Hz和30 NN正常负荷。
所呈现的结果表明,该摩擦,对于单独溶剂化刷子不混溶体系,强烈降低相比于两个相同的溶剂化电刷传统混溶系统。在两个刷子的不同溶剂的优选吸收防止交错电刷和磨损和耗散在聚合物刷摩擦的结果的主要来源被消除。因此所提出的方法是从疏水性刷子,其中,所述摩擦将由刷特异性相互作用27来确定滑动干燥亲水根本的不同。事实上,在无溶剂的PNIPAM(折叠高度166纳米)剪切PMMA,我们发现,该摩擦是高出50%,较干燥的PMMA聚甲基丙烯酸甲酯(折叠高度236米)。
前面已经指出,短期内,在"协议"部分的笔记,有一对夫妇需要牢记执行,而关键点这些特殊的实验:首先,苯乙酮是一种用于PNIPAM比水更好的溶剂。因此,应注意的苯乙酮不被润湿PNIPAM刷用大量的水进入PNIPAM刷。由于苯乙酮和水不混合,苯乙酮,现在不能进入PNIPAM刷。这就是为什么我们并没有完全沉浸在我们的系统中苯乙酮,而是创造了一个苯乙酮毛细管的混溶体系。另一个原因是不完全的浸泡是完全沉浸结果太强大了流体力学,这样我们只测量胶体和悬臂斯托克斯阻力。其次,在AFM实验的扭转及正常弹簧常数耦合。悬臂具有低正常弹簧常数也将具有相对较低的扭转弹簧常数,反之亦然。这限制了最低可测量摩擦系数> 10 -3。因此,为了测量的充分减小摩擦时,摩擦的误埚系统需要是高的。这是通过使用长的高密度刷子和通常为100米/秒的相对高的剪切速度来实现的。此外,电刷之间的毛细管也增加了摩擦力。我们测得的最低摩擦系数,对于不混溶的系统22中,μ= 0.003在200千帕的估计正常应力。使用相同的实验条件下,我们发现,μ= 0.15的混溶体系。
注意,该实验是在受控的实验室环境中进行的,并且在工业中使用的表面并不在所呈现的实验中所用的理想的。最表面具有不均匀的凹凸分布28并且因此许多不同的形状和大小的凹凸。在两个电刷承载凹凸的碰撞,摩擦是由出不同耗散通道29。旁边稳态散热机制,如interdigita化和溶剂流,将有在形状30滞后效应是由于聚合物和溶剂的缓慢弛豫时间。此外,毛细管形成和破裂。在传统上使用的可混溶刷系统,短暂交错结合31放大形状-和毛细管迟滞。与这里介绍的不混溶系统,瞬间交错结合被淘汰了。此外,毛细管滞后可以通过应用程序的两个不相混溶的溶剂进行规避。因此,也为更常见粗糙表面,摩擦和磨损将使用不混溶的刷系统22减小。摩擦的主要来源,剩下的就是刷变形。锚固polyzwitterionic聚合物,它们是众所周知的固有低摩擦32,上表面中的一个可以最大限度地减少了后者。在这样的系统中所用溶剂的渗透压高,导致高的正常负载下的小刷子变形。
该不混溶的刷系统的方法能够在几乎所有的系统,其中低摩擦期望被应用。该方法的功能以及在高压下。然而,应注意,该温度保持周围室温。高温损坏的聚合物,这会导致液体流出接触,因此高的摩擦。潜在的应用的实例是:针筒,活塞系统,车轴轴承和铰链。
The authors have nothing to disclose.
我们感谢M. Hempenius和E.贝内蒂的富有成果的讨论,Y.玉仔细检查了配方,M. Vlot的图1,C.帕德伯格和K.斯密特的形象设计的技术支持。 EK承认荷兰科学研究组织(NWO,TOP格兰特700.56.322,高分子纳米技术与刺激响应聚合物)的资金支持。深发展已经由基金会基础研究物质(FOM),这是经济由荷兰科学研究组织(NWO)支持支持。
Name | Company | Catalog Number | Comments |
Methyl methacrylate | Sigma-Aldrich | M55909 | Monomer for PMMA synthesis, cleaned by pressing through a basic alumina column |
(3-aminopropyl)triethoxysilane | Sigma-Aldrich | 440140 | vapor deposited silane monolayer |
triethylamine | Sigma-Aldrich | T0886 | Reagent for the ATRP initiator moiety coupling. |
2-bromo-2-methylpropionyl | Sigma-Aldrich | 252271 | ATRP initiator moiety. |
toluene | Biosolve | 20150501 | Coupling medium for ATRP moiety |
CuBr | Sigma-Aldrich | 212865 | ATRP catalyst. |
2,2′-Bipyridyl | Sigma-Aldrich | 14453 | Cu complexing ligand for ATRP of MMA |
N,N,N′,N",N"-Pentamethyldiethylenetriamine | Sigma-Aldrich | 369497 | Cu complexing ligand for ATRP of NIPAM |
acetic acid 98-100% | Merck | 8187551000 | For cleaning CuBr. |
Sulfuric acid | Sigma-Aldrich | 320501 | For the preparation of Piranha solution |
Hydrogen peroxide 33% | Merck | 1.07210.1000 | For the preparation of Piranha solution |
Ethanol | Merck | 1.00983.1000 | For cleaning substrates. |
Basic aluminum oxide 60 | Merck | For cleaning monomers. | |
Chloroform | Biosolve | 3080501 | For monolayer deposition and substrate cleaning. |
Methanol | Biosolve | 13680501 | For polymerization medium. |
Acetophenone | Acros Organics | 102410010 | For AFM measurement environment. |
N-isopropyl acrylamide | Acros Organics | 412780250 | Monomer for PNIPAM synthesis, recrystallized from toluene/hexane |
Poly(ethylene glycol) methacrylate | Sigma-Aldrich | 409529 | Monomer for Si-POEGMA synthesis, cleaned by pressing through a basic alumina column. |
MilliQ water | MilliQ Advantage A 10 purification system | ATRP medium, AFM measurement environment and for substrate cleaning. | |
Silicon substrates | |||
Gold coated substrates | |||
AFM probe, CP-FM-Au | SQube | AFM measurement | |
[header] | |||
dithiodiundecane-11,1-diybis[2-bromo-2-methlpropanoate] (DTPR) | Initiator, for Si-ATRP on gold surfaces. Synthesized according to Macromolecules, 33, 597-605 (2000). | ||
Atomic Frorce Microscope | Bruker Multimode V controller |
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