优化磁力显微镜分辨率和灵敏度，以可视化纳米级磁畴

磁力显微镜（MFM）采用垂直磁化原子力显微镜探头以纳米级分辨率测量样品形貌和局部磁场强度。通过平衡降低的提升高度与增加的驱动或振荡幅度，可以优化MFM空间分辨率和灵敏度。人造自旋冰的自旋波计算应用依赖于纳米元素磁化纹理的知识，因为它们决定了磁振子响应。

高分辨率MFM能够识别冰冷的全局磁化状态。演示该程序的将是Olivia Maryon，博伊西州立大学材料科学与工程博士生，我实验室的前本科AFM研究员。首先，打开 AFM 控制软件，然后在电磁提升模式实验类别和组下选择 MFM 工作区。

小心地将探头支架放在安装块上，然后将探头装载到探头支架上，对齐探头并用弹簧夹将其固定到位，将带有磁性涂层的AFM探头安装在适当的探头支架上。通过在光学显微镜下检查，确保探头与所有边缘平行，并且不接触支架通道的背面。根据需要用镊子轻轻操作探头。

使用强力永磁体垂直磁化探针 2 到 5 秒，使探针尖端的磁偶极子方向垂直于样品。小心地卸下 AFM 头，同时小心地通过触摸 AFM 外壳来排出任何静电积聚物。通过将探头支架上的孔与探头上的接触销对齐来安装探头和探头支架。

将磁头重新安装到AFM上并将其固定到位。将激光对准MFM探头悬臂的中心并进入位置敏感检测器。为了获得最佳灵敏度，将悬臂背面的激光对准与悬臂远端尖端后退相对应的位置。

最大化PSD上的总和信号，同时最小化左右偏转和上下偏转，使反射的激光束在探测器上居中。将样品放在AFM卡盘真空端口上。避免使用磁性样品架，因为这可能会影响样品和/或干扰MFM测量。

打开卡盘真空，将样品固定到AFM载物台上。返回AFM控制软件，转到设置并选择所选的探头类型。使用基于所选探头的已知尖端退缩，将悬臂对准光学显微镜视图中的十字准线对准，以定位在尖端所在的MFM探头悬臂背面。

打开导航窗口并定位AFM载物台和样品，使感兴趣区域直接位于AFM尖端下方。降低AFM头，直到样品表面在光学视图中聚焦。返回“设置”，选择“手动调谐”，然后通过选择开始和结束频率来执行悬臂调谐，该频率将扫过所选区域，以跨越所选探头的预期共振频率。

选择驱动频率偏移和目标幅度。然后调谐悬臂并设置所需的振幅设定点。在样品表面上啮合，并根据样品和感兴趣的特征设置所需的扫描尺寸。

以一到两纳米的增量增加振幅设定值，直到尖端与样品表面失去接触，如迹线和回溯线在高度传感器通道中无法相互跟踪所见。然后将振幅设定值降低两到四纳米，使尖端刚好与样品表面接触。通过调整比例和积分增益来优化它们，使其足够高，以迫使反馈系统跟踪样品表面形貌，同时将噪声降至最低。

优化AFM形貌成像参数后，从表面退出一小段距离并返回探头调谐菜单。执行第二个悬臂调谐以用于获取交错提升模式 MFM 线，确保将此调谐的结果与以前的主线参数断开链接。在交错提升模式调谐中，将峰值偏移设置为 0%选择开始和结束频率，这些频率将扫过跨越探头共振频率的区域的干频率。

将交错提升模式目标振幅调整为主线目标振幅。这将实现高灵敏度MFM成像，而不会在利用低提升高度获得最佳横向分辨率时撞击表面。离开悬臂调谐窗口以重新接合在表面上。

要优化成像参数，请将初始提升扫描高度设置为 25 纳米，然后以 2 到 5 纳米的增量逐渐减小。一旦探头开始撞击表面，立即增加扫描高度，以保护探头尖端并防止引入地形伪影。以对应于2到5纳米振荡幅度的小增量增加驱动幅度，直到交错驱动幅度超过主线驱动幅度或探头开始接触表面。

然后稍微降低驱动幅度，以便在MFM相位通道中看不到尖峰。通过逐渐减小的增量进行调整，继续迭代优化提升扫描高度和驱动幅度，直到获得没有地形伪影的高分辨率MFM图像。磁力显微镜用于对孪生边界进行成像，并跟踪它们响应施加的磁场或力的运动。

抛光的单晶镍锰镓样品的磁性相位图像显示了跨越孪生边界的特征阶梯磁取向。在样品的3D形貌顶部叠加为彩色皮肤的磁性相位图像显示了磁畴在形貌特征处切换的长方向。优化MFM空间分辨率和灵敏度得益于在惰性大气手套箱中运行，并且需要在降低提升高度与增加驱动或振荡幅度之间取得平衡。

高分辨率、高灵敏度MFM对于研究人工自旋冰状态下的潜在磁化构型至关重要，也可以推动快速发展的自旋波计算领域。