This work was supported in part by the Washington Space Grant Consortium under Award NNX10AK64H.

1. Planificación de Experimentos <ol><li> Llevar a cabo una revisión de la literatura para evaluar el trabajo previo realizado utilizando el medio de láser de interés, que para este experimento es CH 2 F 2. Identificar todas las emisiones láser conocidos, junto con toda la información acerca de las líneas como su longitud de onda y frecuencia. Varias encuestas de emisiones láser conocidos están disponibles 13,31 - 37. </li><li> Compilar todas las investigaciones espectroscópicas de la molécula utilizada como medio de láser con un enfoque de Fourier antes transforman 34 y optoacústica estudios 38,39. </li></ol> 2. Emisiones Generación de infrarrojo lejano Láser <ol><li> Información general de seguridad. <ol><li> Desarrollar un procedimiento operativo estándar para el laboratorio que incluye la protección ocular adecuada cuando se trabaja con el CO 2 y sistemas de láser infrarrojo lejano. </li></ol></li><li> Alineación y calibración. <ol><li> Calibrar cada CO 2 laser usando un analizador de espectro a base de rejilla diseñado para el láser de CO 2 de acuerdo con el protocolo del fabricante. </li><li> Alinear los espejos finales y el espejo de acoplamiento en la cavidad láser de infrarrojo lejano usando un láser de He-Ne de manera que su radiación se enfoca sobre el detector de diodo MIM. </li><li> Dirigir la radiación desde el láser de bombeo CO 2 en la cavidad láser de infrarrojo lejano a través de una ventana de cloruro de sodio en un ángulo de aproximadamente 72 o con respecto al eje de la cavidad. </li><li> Dirigir la radiación a partir de los dos láseres CO 2 de referencia o bien a su respectiva celda de referencia de fluorescencia de baja presión o co-linealmente sobre el detector de diodo MIM usando divisores de haz y espejos adicionales. </li></ol></li><li> La detección de la radiación láser de infrarrojo lejano. <ol><li> Pulir la base Níquel cada varios días usando un pulidor de metales estándar. </li><li> Crimp un alambre de tungsteno de 25 micras en un puesto de cobre y doblar el cable en el configuración muestra en la Figura 3. </li><li> Ajustar la longitud del alambre de modo que sea entre 10 a 20 longitudes de onda de la radiación que se mide. </li><li> Electroquímicamente grabar la punta del alambre en una solución de hidróxido de sodio saturado (NaOH) al aplicar un voltaje (aproximadamente 3.5 a 5 VAC) a la solución. </li><li> Vuelva a grabar la punta con un voltaje bajo (menos de 1 VAC). Esto hace rugosa la punta del alambre y mejora el rendimiento del diodo. </li><li> Enjuague el alambre con agua destilada. </li><li> Inserte el poste de cobre en la carcasa del diodo MIM una vez que el alambre está seca. </li><li> Coloque el cable en contacto con la base de níquel utilizando un sistema de tornillo y el nivel bien. Contactos produciendo una resistencia a través del diodo de entre 100 y 500 Ω se utilizan típicamente cuando detección y medición de radiación láser de infrarrojo lejano. </li></ol></li><li> Generación de radiación láser de infrarrojo lejano. <ol><li> Ajuste el láser de bombeo de CO 2 en un em láser específicoisión, por ejemplo., 9 P 36. </li><li> Gire el micrómetro en el láser de bombeo de CO 2 de ida y vuelta para lograr la máxima intensidad en el tope de la viga. </li><li> Ajuste la inclinación de la rejilla de la bomba del láser de CO 2 para alcanzar la máxima intensidad en el tope de la viga. </li><li> Repita los pasos 2.4.2 y 2.4.3 hasta que la potencia de salida del láser de bombeo de CO 2 aparece optimizado en el tope de la viga. </li><li> Retire el tope de la viga de la trayectoria del láser de bombeo de CO 2. </li><li> Encienda y alinear el helicóptero óptica en la trayectoria del haz del láser de bombeo de CO 2. </li><li> Abrir la válvula en el cilindro F 2 CH 2 para introducir el medio de láser de infrarrojo lejano en la cavidad láser de infrarrojo lejano. </li><li> Ajuste de la válvula dosificadora en la línea de entrada hasta una presión de aproximadamente 10 Pa se logra. Nota: Sólo es necesario la presión aproximada ya que se utiliza como una forma de escanear sistemáticamente el láser de infrarrojo lejano cavity. </li><li> Establecer la posición del acoplador de salida de tal manera que su punta más externa es de aproximadamente 1 cm desde el centro de la cavidad láser como se indica por una escala calibrada en el exterior de la cavidad láser. Nota: Sólo la ubicación aproximada es necesario ya que se utiliza como una forma de escanear sistemáticamente la cavidad láser de infrarrojo lejano. </li><li> Ajuste la posición del móvil espejo láser infrarrojo lejano en incrementos de aproximadamente 0,25 mm girando el dial de micrómetro calibrado de ida y vuelta. Simultáneamente sintonizar la frecuencia del láser de CO 2 de la bomba a través de su curva de ganancia cambiando el voltaje aplicado a través transductor piezoeléctrico la bomba de láser de CO 2 (PZT). </li><li> Si no se observa señal en la pantalla del osciloscopio, repetir el paso 2.4.10 La con el acoplador de salida se trasladó a su siguiente posición donde la punta es de aproximadamente 1,5 cm desde el centro de la cavidad láser como se indica por una escala calibrada en el exterior del láser cavidad. </li><li> Si no se observa señal en la pantalla del osciloscopio, repetir el paso 2.4.10 La con el acoplador de salida se trasladó a su siguiente posición donde la punta es de aproximadamente 2 cm desde el centro de la cavidad láser como se indica por una escala calibrada en el exterior del láser cavidad. </li><li> Si no se observa ninguna señal en la pantalla del osciloscopio, repita los pasos 2.4.9 través 02/04/12 con una presión de láser infrarrojo lejano de aproximadamente 19 Pa ajustado con la válvula dosificadora en la línea de entrada. </li><li> Si no se observa ninguna señal en la pantalla del osciloscopio, repita los pasos 2.4.9 través 02/04/12 con una presión de láser infrarrojo lejano de aproximadamente 27 Pa ajustado con la válvula dosificadora en la línea de entrada. </li><li> Si no se observa señal en la pantalla del osciloscopio, inserte la parada del haz en el camino del láser de bombeo CO 2 y cerrar la válvula en el CH 2 F 2 del cilindro hasta que la presión de láser de infrarrojo lejano es de aproximadamente 0 Pa. </li><li> Ajuste la bomba de CO 2láser para la próxima emisión láser, por ejemplo, 9 P 34, y optimizar la potencia de salida usando los pasos 2.4.2 a través de 2.4.4. </li><li> Repita los pasos 2.4.5 través 02/04/16 hasta se utilizan todas las emisiones generadas por el láser de bombeo de CO 2. Durante la búsqueda de líneas de láser infrarrojo lejano, coloque un enfoque en CO 2 emisiones láser de bombeo cuyas frecuencias se superponen con las regiones de absorción identificados en el paso 1.2. </li></ol></li><li> Caracterización de emisiones láser infrarrojo lejano. <ol><li> Simultáneamente ajustar la presión del medio de láser de infrarrojo lejano, la tensión aplicada al PZT la bomba de láser de CO 2, y la posición del acoplador de salida hasta que se maximiza la potencia de salida de la emisión láser de infrarrojo lejano (determinado por un pico-a-máximo pico de la señal desde el detector de diodo MIM como se observa en la pantalla del osciloscopio, similar a la Figura 4). </li><li> Gire el dial micrométrico en sentido horario hasta se observa en la emisión láser infrarrojo lejanola pantalla del osciloscopio. Anote la posición del micrómetro. </li><li> Gire el dial micrométrico agujas del reloj durante 20 modos correspondientes a la misma emisión láser infrarrojo lejano. Anote la posición del micrómetro. </li><li> Reste la posición del micrómetro en los pasos 2.5.2 y 2.5.3. Esta diferencia se dividirá por 10 para obtener la longitud de onda de la emisión láser de infrarrojo lejano. </li><li> Repita los pasos 2.5.2 a través de 2.5.4 un total de cinco veces y promediar la longitud de onda de la emisión láser infrarrojo lejano. Promedio de las longitudes de onda de láser medidos por la que atraviesa por lo menos 20 modos longitudinales adyacentes tienen una incertidumbre de una sigma de ± 0,5 m. </li><li> Medir la polarización de la radiación láser de infrarrojo lejano, con relación a la radiación de bombeo CO 2, utilizando un polarizador de rejilla de alambre oro (394 líneas / cm) o un polarizador de Brewster. </li></ol></li></ol> 3. La determinación de infrarrojo lejano Láser Frecuencias <ol><li> Identificaring las emisiones de CO 2 láser de referencia. <ol><li> Calcular la frecuencia de la emisión láser de infrarrojo lejano basado en su longitud de onda medido. </li><li> Identificar conjuntos de CO 2 de referencia líneas láser cuya diferencia de frecuencia está dentro de varios GHz de la frecuencia calculada para la emisión láser infrarrojo lejano 40. Una lista típica utilizada para tales mediciones se muestra en la Tabla 1. </li></ol></li><li> Busca la señal de batido heterodino. <ol><li> Identificar el primer conjunto de líneas de láser CO 2 de referencia y establecer cada láser CO 2 referencia en su respectiva emisión láser. </li><li> Optimizar la potencia de salida para cada láser de referencia de CO 2 mediante medidas 2.4.2 a través de 2.4.4 y el medidor de energía del monitor. <ol><li> Ajustar un iris, ya sea interna o externa a cada láser de referencia, de modo que la potencia de cada láser de referencia CO 2 es de aproximadamente 100 mW, medida por el medidor de potencia se muestra en el monitorLa Figura 2. </li></ol></li><li> Bloquear la radiación del láser de CO 2 de la bomba usando un haz de parada, mientras que el desbloqueo de la radiación de los láseres de referencia CO 2. </li><li> Encender y alinear el chopper óptico en la trayectoria del haz co-lineal de los láseres de CO 2 de referencia. </li><li> Optimizar para la tensión máxima de pico a pico de cada uno de CO 2 de referencia de emisión láser en el detector de diodo MIM usando varios espejos, divisores de haz, y una lente plano-convexa longitud ZnSe focal de 2,54 cm, mientras que la observación de la salida en el osciloscopio, similar a la Figura 5 . </li><li> Bloquear la radiación de los láseres de CO2 de referencia utilizando una parada rayo mientras desbloquear la radiación del láser de bombeo de CO 2. </li><li> Re-optimizar el láser de bombeo CO 2 y el láser de infrarrojo lejano, según sea necesario, de modo que la emisión láser de infrarrojo lejano tiene una tensión máxima de pico a pico como se observa en el osciloscopio. </li><li> Desconecte tél MIM de salida del detector de diodo del osciloscopio y conectarlo a un amplificador cuya salida se observa en un analizador de espectro. </li><li> Desbloquear la radiación de los láseres de referencia CO 2. </li><li> Retire los interruptores ópticos que modulan la bomba y de referencia de CO 2 lasers. </li><li> Ajuste el analizador de espectro en un lapso de 40 MHz y la búsqueda de la señal de ritmo de 1,5 GHz incrementos escaneando manualmente este rango de frecuencia utilizando la perilla de ajuste del analizador de espectro. </li><li> Si no se observa ninguna señal de batido, desconecte la salida del diodo MIM desde el amplificador y conéctelo al osciloscopio. </li><li> Bloquear la radiación de los rayos láser de referencia de CO 2 y vuelva a insertar el helicóptero óptica en el camino del láser de bombeo de CO 2. </li><li> Repetir los pasos a través 3.2.2 3.2.13, según sea necesario hasta que el analizador de espectro se ha utilizado para buscar la señal de batido entre 0 y 12 GHz. </li><li> Si no se observa señal de batido, repeen los pasos 3.2.2 través 3.2.14 con otro conjunto de líneas de láser de CO 2 de referencia hasta que se observa la señal de ritmo o todos los posibles conjuntos de líneas de láser CO 2 de referencia están agotados. </li></ol></li><li> La estabilización de las frecuencias de referencia de CO 2. <ol><li> Aplicar una tensión entre 0 y 900 V a PZT la primera de láser de referencia CO 2 para que la señal de su respectiva celda de referencia de fluorescencia está en el centro del hueco de cordero, que se ilustra en la Figura 6 y como se ve en un osciloscopio como en la Figura 7. </li><li> Active la tensión de realimentación aplicada a la primera PZT de láser de referencia CO 2 usando un amplificador / servo hecha a la medida lock-in de modo que permanece bloqueado hasta el centro de la inmersión Cordero. </li><li> Repita los pasos 3.3.1 y 3.3.2 para el segundo láser de referencia de CO 2. </li><li> Supervisar visualmente la salida del pre-amplificador en un osciloscopio, como en la figura 7, a la norma ENde que los láseres de referencia permanece bloqueada. </li></ol></li><li> La medición de la frecuencia de batido. <ol><li> Centre la señal de batido en la pantalla del analizador de espectro y ajustar su amplitud para maximizar su tamaño en la pantalla. </li><li> Ajuste el analizador de espectro para ver dos trazas simultáneas de la señal de ritmo, como en la figura 8, mediante la selección de la función de escritura Borrar tanto Traza 1 y Traza 2. Una traza se mostrará la señal instantánea, mientras que el otro va a grabar la señal máxima (utilizando una función Hold Max en el analizador de espectro para la segunda traza). </li><li> Gire el dial de micrómetro en la cavidad láser infrarrojo lejano de ida y vuelta a través de la curva de ganancia para un modo de cavidad dado. </li><li> Utilice la función Ver en el analizador de espectro para congelar la segunda (Hold Max) traza una vez que se obtiene un patrón simétrico. </li><li> Gire ligeramente el micrómetro las agujas del reloj para disminuir la longitud de la cavidad láser infrarrojo lejano. Al mismo tiempo observar los submarinosequent pequeño cambio en la frecuencia de batido en el analizador de espectro debido a este ligero aumento en la frecuencia del láser de infrarrojo lejano. </li><li> Coloque marcadores en todo el ancho a la mitad de los puntos máximos del patrón simétrico (Hold rastro Max) utilizando la función de marcador con la función de Delta en el analizador de espectro. </li><li> Medir la frecuencia central de la señal de ritmo usando la función Span Par en el analizador de espectro. </li><li> Repita los pasos 3.4.1 a través de 3.4.7. </li><li> Desactivar el bloqueo de amplificador / servo para cada láser de CO2 de referencia para desbloquear cada láser de su frecuencia central y volver a optimizar cada láser de referencia de CO 2. </li><li> Vuelva a bloquear los rayos láser de referencia utilizando los pasos 3.3.1 a través de 3.3.4. </li><li> Repita los pasos 3.4.1 través 3.4.10 para un total de 6 mediciones. Una vez terminado, desbloquear cada láser CO 2 de referencia de su frecuencia central. </li><li> Calcular la frecuencia refundido de la emisión láser infrarrojo lejano usando estos fre ritmocuencias para obtener una predicción precisa de la segunda serie de líneas de láser de CO 2 de referencia. </li><li> Identificar un conjunto diferente de CO 2 de referencia líneas láser cuya diferencia de frecuencia está dentro de varios GHz de la frecuencia calculada para la emisión láser infrarrojo lejano. </li><li> Optimizar el siguiente conjunto de CO 2 líneas láser de referencia sobre el detector de diodo MIM y obtener la señal de batido usando los pasos 3.2.2 través 3.2.15 según sea necesario. </li><li> Bloquear el nuevo conjunto de CO 2 líneas láser de referencia utilizando los pasos 3.3.1 a través de 3.3.4. </li><li> Repita los pasos 3.4.1 través 3.4.10 para un total de 6 mediciones. Una vez terminado, desbloquear cada láser CO 2 de referencia de su frecuencia central. </li><li> Insertar haz detiene en los caminos de la bomba y de referencia de CO 2 lasers. </li></ol></li><li> Cálculo de la frecuencia del láser de infrarrojo lejano. <ol><li> Calcular la frecuencia del láser de infrarrojo lejano desconocido, ν FIR, utilizando el ser medidoa la frecuencia a través de la relación FIR = | ν CO2 (I) -ν CO2 (II) | ± | latido ν | Eq. 1 donde | ν CO2 (I) -ν CO2 (II) | es la magnitud de la diferencia de frecuencia sintetizada por los dos láseres de CO2 de referencia y | latido ν | es la magnitud de la frecuencia de batido. El signo ± en la ecuación. 1 se determina experimentalmente de la etapa 3.4.5. </li><li> Obtener una frecuencia media y calcular laincertidumbre. </li></ol></li></ol>

Certain commercial equipment is identified in this paper to foster understanding. Such identification does not imply recommendation or endorsement by the authors, nor does it imply that the equipment identified is necessarily the best available for the purpose.

Hay varios pasos críticos en el protocolo que requiere alguna discusión adicional. Cuando se mide la longitud de onda de láser de infrarrojo lejano, como se indica en el paso 2.5.3, es importante para garantizar el mismo modo de la emisión láser de infrarrojo lejano se está utilizando. Múltiples modos de una longitud de onda de láser de infrarrojo lejano (es decir, TEM 00, TEM 01, etc.) pueden ser generados dentro de la cavidad láser y por lo tanto es importante identificar los mo...

La medición de frecuencias láser infrarrojo lejano se realizó por primera vez por Hocker y compañeros de trabajo en 1967. Se midió las frecuencias para los 311 y 337 m de las emisiones de la descarga directa de láser cianuro de hidrógeno mezclándolos con altos armónicos de orden de una señal de microondas en un diodo de silicio 1. Para medir las frecuencias más altas, una cadena de láser y dispositivos de mezcla de armónicos se utiliza para generar los armónicos láser 2. Eventualmente de dos estabilizada de dióxido de carbono (CO 2) láseres fueron elegidos para sintetizar la diferencia necesaria frecuencias de 3,4. Hoy en día, las frecuencias de láser de infrarrojo lejano hasta 4 THz se puede medir con esta técnica utilizando sólo la primera armónica de la frecuencia diferencia generado por dos estabilizado láseres de CO2 de referencia. Emisiones láser de frecuencia más altas también se pueden medir utilizando el segundo armónico, tales como las emisiones de láser 9 THz de la isotopólogos metanol CHD 2 OH y CH 3 </sub&gt; 18 OH. 5,6 Con los años, la medición precisa de frecuencias láser ha impactado una serie de experimentos científicos 7,8 y permitido la adopción de una nueva definición del metro por la Conferencia General de Pesos y Medidas de París en 1983. 9-11 Heterodino técnicas, tales como los descritos, han sido muy beneficioso en la medición de las frecuencias de láser de infrarrojo lejano generados por los láseres bombeados ópticamente moleculares. Desde el descubrimiento del láser molecular bombeado ópticamente por Chang y los puentes 12, miles de bombeo óptico emisiones láser de infrarrojo lejano se han generado con una variedad de medios de comunicación por láser. Por ejemplo, difluorometano (CH 2 F 2) y sus isotopólogos generan más de 250 emisiones láser cuando se bombea ópticamente por un láser de CO 2. Sus longitudes de onda van desde aproximadamente 95.6 a 13 micras 1714,1. - </shasta&gt; 15 Casi el 75% de estas emisiones láser han tenido midieron sus frecuencias, mientras que varios han sido espectroscópicamente asignado 16 - 18. Estos láseres y sus frecuencias medidas con precisión, han jugado un papel crucial en el avance de la espectroscopia de alta resolución. Proporcionan información importante para los estudios espectrales de infrarrojos de los gases de láser. A menudo, estas frecuencias láser se utilizan para verificar el análisis de los espectros de infrarrojo y de infrarrojo lejano, ya que proporcionan conexiones entre los niveles estatales vibracionales excitados que a menudo son directamente inaccesibles desde espectros de absorción 19. También sirven como fuente de radiación principal de los estudios que investigan transitorios, los radicales libres de corta duración con la técnica de resonancia magnética láser 20. Con esta técnica extremadamente sensibles, los espectros de Zeeman de rotación y ro-vibracional en los átomos paramagnéticos, moléculas, iones moleculares y puede ser recorded y analizado junto con la capacidad para investigar las velocidades de reacción utilizados para crear estos radicales libres. En este trabajo, un láser bombeado ópticamente molecular, que se muestra en la Figura 1, se ha utilizado para generar la radiación láser de infrarrojo lejano de difluorometano. Este sistema consiste en una onda continua (cw) CO 2 láser de bombeo y una cavidad láser de infrarrojo lejano. Un espejo interno a la cavidad del láser de infrarrojo lejano redirige la radiación láser CO 2 hacia abajo el tubo de cobre pulido, de someterse a veintiséis reflexiones antes de terminar en el extremo de la cavidad, dispersando cualquier radiación de bombeo restante. Por lo tanto el medio de láser infrarrojo lejano se excita mediante una geometría de bombeo transversal. Para generar la acción del láser, varias variables se ajustan, algunos de forma simultánea, y todos están optimizados posteriormente una vez que se observa la radiación láser. En este experimento, la radiación láser de infrarrojo lejano es monitoreado por un metal insu-lador de metal (MIM) el servicio del detector de diodo. El detector de diodo MIM ha sido utilizado para las mediciones de frecuencia del láser desde 1969. 21-23 En mediciones de frecuencia láser, el detector de diodo MIM es un mezclador armónico entre dos o más fuentes de radiación incidente sobre el diodo. El detector de diodo MIM consiste en un alambre de tungsteno afilado en contacto con una base ópticamente níquel pulido 24. La base de níquel tiene una delgada capa de óxido natural que es la capa aislante. Una vez que se detecta una emisión de láser, su longitud de onda, la polarización, la fuerza y la presión de funcionamiento optimizado se registraron mientras que su frecuencia se midió utilizando la técnica heterodina de tres láser 25 - 27 siguiendo el método descrito originalmente en la Ref. 4. La Figura 2 muestra el láser bombeado ópticamente molecular con dos cw láseres de CO2 de referencia adicionales que tiene sta independiente de la frecuenciasistemas estabiliza- que utilizan el chapuzón Cordero en la señal de fluorescencia de 4,3 micras de una celda de referencia externa, baja presión 28. Este manuscrito describe el proceso utilizado para buscar emisiones láser de infrarrojo lejano, así como el método para estimar su longitud de onda y en la determinación con precisión su frecuencia. Dan detalles sobre la técnica heterodina de tres láser, así como los diversos componentes y los parámetros de funcionamiento del sistema se pueden encontrar en la Tabla Suplementaria A, junto con las referencias 4, 25-27, 29, y 30.

<table border="0" cellpadding="0" cellspacing="0">
	<tbody>
		<tr>
			<td>Vacuum pump</td>
			<td>Leybold</td>
			<td>Trivac D4A</td>
			<td>HE-175 oil; Quantity = 3</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Vacuum pump</td>
			<td>Leybold</td>
			<td>Trivac D8B or D16B</td>
			<td>Fomblin Fluid; Quantity = 1 of each</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Vacuum pump</td>
			<td>Leybold</td>
			<td>Trivac D25B</td>
			<td>HE-175 oil; Quantity = 1</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Optical chopper with controller</td>
			<td>Stanford Research Systems</td>
			<td>SR540</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Lock-in amplifier</td>
			<td>Stanford Research Systems</td>
			<td>SR830</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Spectrum analyzer</td>
			<td>Agilent</td>
			<td>E4407B</td>
			<td>ESA-E Series, 9 kHz to 26.5 GHz Spectrum Analyzer</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Amplifier&#160;</td>
			<td>Miteq</td>
			<td>AFS-44</td>
			<td>Provides amplification of signals between 2 and 18 GHz. The amplifier is powered by a Hewlett Packard triple output DC power supply, model E3630A.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Amplifier&#160;</td>
			<td>Avantek</td>
			<td>AWL-1200B</td>
			<td>Provides amplification of signals less than 1.2 GHz.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Power supply</td>
			<td>Hewlett Packard</td>
			<td>E3630A</td>
			<td>Low voltage DC power supply for amplifier.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Power supply</td>
			<td>Glassman</td>
			<td>KL Series</td>
			<td>High voltage power supply for the CO2 lasers; Quantity = 2; negative polarity</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Power supply</td>
			<td>Fluke</td>
			<td>412B</td>
			<td>High voltage power supply used with the NIST Asymmetric HV Amp</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Detector</td>
			<td>Judson Infrared Inc</td>
			<td>J10D</td>
			<td>For fluorescence cell; Quantity = 2</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>CO2 laser spectrum analyzer</td>
			<td>Optical Engineering&#160;</td>
			<td>16-A</td>
			<td>Currently sold by Macken Instruments Inc.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Thermal imaging plates with UV light</td>
			<td>Optical Engineering&#160;</td>
			<td></td>
			<td>Primarily used for aligning the CO2 reference lasers. Currently sold by Macken Instruments Inc.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Resistors</td>
			<td>Ohmite&#160;</td>
			<td>L225J100K</td>
			<td>100 kW, 225 W. Between 4 to 6 resistors are used in each ballast system. Each CO2 laser has its own ballast system. Fans are used to cool the resistors.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>HV relay, SPDT</td>
			<td>CII Technologies</td>
			<td>H-17</td>
			<td>Quantity = 3; one for each CO2 laser</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Amplifier&#160;</td>
			<td>Princeton Applied Research</td>
			<td>PAR 113</td>
			<td>Used with fluorescence cell; Quantity = 2</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Oscilloscope</td>
			<td>Tektronix</td>
			<td>2235A</td>
			<td>Similar models are also used; Quantity = 2</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Oscilloscope/Differential amplifier</td>
			<td>Tektronix</td>
			<td>7903 oscilloscope with 7A22 differential amplifier</td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Power meter with sensor</td>
			<td>Coherent</td>
			<td>200</td>
			<td>For use below 10 W.&#160; This is the power meter shown in Figure 2.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Power meter with sensor</td>
			<td>Scientech, Inc</td>
			<td>Vector S310</td>
			<td>For use below 30 W</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Multimeter</td>
			<td>Fluke</td>
			<td>73III</td>
			<td>Similar models are also used; Quantity = 3</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Data acquisition</td>
			<td>National Instruments</td>
			<td>NI cDAQ 9174 chassis with NI 9223 input module</td>
			<td>Uses LabVIEW software</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Simichrome polish</td>
			<td>Happich GmbH</td>
			<td></td>
			<td>Polish for the Nickel base used in the MIM diode detector. Although the Nickel base can be used immediately after polishing, a 12 hour lead time is typically recommended.</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Pressure gauge</td>
			<td>Wallace and Tiernan</td>
			<td>61C-1D-0050</td>
			<td>Series 300; for CO2 laser; Quantity = 3</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Pressure gauge with controller</td>
			<td>Granville Phillips</td>
			<td>Series 375</td>
			<td>For far-infrared laser</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Zirconium Oxide felt</td>
			<td>Zircar Zirconia</td>
			<td>ZYF felt</td>
			<td>Used as a beam stop</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Zirconium Oxide board</td>
			<td>Zircar Zirconia</td>
			<td>ZYZ-3 board</td>
			<td>Used as a beam stop; Quantity = 4</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Teflon sheet</td>
			<td>Scientific Commodities, Inc</td>
			<td>BB96312-1248</td>
			<td>1/32 inch thick; used for the far-infrared laser output window</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Polypropylene</td>
			<td>C-Line sheet protectors</td>
			<td>61003</td>
			<td>used for the far-infrared laser output window</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Vacuum grease</td>
			<td>Apiezon</td>
			<td></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Power supply</td>
			<td>Kepco</td>
			<td>NTC 2000</td>
			<td>PZT power supply</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>PZT tube</td>
			<td>Morgan Advanced Materials</td>
			<td></td>
			<td>1 inch length, 1 inch outer diameter, 0.062 inch thickness, reverse polarity (positive voltage on outside); Quantity = 3</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>ZnSe (AR coated)</td>
			<td>II-VI Inc</td>
			<td></td>
			<td>CO2 laser window (Quantity = 3), lens, and beam splitter (Quantity 3)</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>NaCl window</td>
			<td>Edmond Optics</td>
			<td></td>
			<td>Quantity = 1</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>CaF window</td>
			<td>Edmond Optics</td>
			<td></td>
			<td>Quantity = 2</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Laser mirrors and gratings</td>
			<td>Hyperfine, Inc</td>
			<td></td>
			<td>Gold-coated; includes positioning mirrors</td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Glass laser tubes and reference cells</td>
			<td>Allen Scientific Glass</td>
			<td></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>MIM diode detector</td>
			<td>Custom Microwave, Inc</td>
			<td></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr>
			<td>Other</td>
			<td></td>
			<td></td>
			<td>Other materials include magnetic bases, base plates, base clamps, XYZ translation stage, etc.</td>
		</tr>
	</tbody>
</table>

characterizing far-infrared laser emissions and the measurement of their frequencies

La generación y la posterior medición de la radiación de infrarrojo lejano ha encontrado numerosas aplicaciones en alta resolución de la espectroscopia, la radioastronomía y las imágenes Terahertz. Durante unos 45 años, la generación de radiación coherente, de infrarrojo lejano se ha logrado usando el láser bombeado ópticamente molecular. Una vez que se detecta la radiación láser de infrarrojo lejano, las frecuencias de estas emisiones láser se miden utilizando una técnica heterodina de tres láser. Con esta técnica, la frecuencia desconocido del láser bombeado ópticamente molecular se mezcla con la diferencia de frecuencia entre dos frecuencias de referencia, infrarrojos estabilizadas. Estas frecuencias de referencia son generados por los láseres de dióxido de carbono independientes, cada uno estabilizado utilizando la señal de fluorescencia de una, célula de referencia de baja presión externa. El ritmo resultante entre las frecuencias de láser conocidos y desconocidos se controla mediante un punto de contacto detector de diodo metal-aislante-metal cuya salida se observa en un specanalizador trum. La frecuencia de batido entre estas emisiones láser se mide y se combina con las frecuencias de referencia conocidos para extrapolar la frecuencia del láser de infrarrojo lejano desconocido posteriormente. El sigma-incertidumbre fraccionada resultante para frecuencias láser medido con esta técnica es de ± 5 partes en 10 7. Determinar con precisión la frecuencia de las emisiones de láser de infrarrojo lejano es crítico ya que se utilizan a menudo como una referencia para otras mediciones, como en el alto investigaciones espectroscópicas -Resolución de radicales libres utilizando resonancia magnética láser. Como parte de esta investigación, difluorometano, CH 2 F 2, fue utilizado como el medio de láser infrarrojo lejano. En total, se midieron ocho frecuencias láser de infrarrojo lejano para la primera vez con frecuencias que van desde 0,359 a 1.273 THz. Tres de estas emisiones láser fueron descubiertos durante esta investigación y se reportan con su presión óptima de funcionamiento, la polarización con respecto a las emisiones de CO 2 </sub&gt; bombear láser, y la fuerza.

Como se ha mencionado, la frecuencia informado para una emisión de láser infrarrojo lejano es un promedio de al menos doce mediciones realizadas con al menos dos conjuntos diferentes de CO líneas de láser 2 de referencia. La Tabla 2 resume los datos registrados para la emisión 235,5 micras de láser cuando se utiliza el 9 P 04 CO 2 láser de bombeo. Por esta emisión láser de infrarrojo lejano, se registraron catorce mediciones individuales de la frecuencia de batido...

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Characterizing Far-infrared Laser Emissions and the Measurement of Their Frequencies

We describe the generation of far-infrared radiation using an optically pumped molecular laser along with the measurement of their frequencies with heterodyne techniques. The experimental system and techniques are demonstrated using difluoromethane (CH2F2) as the laser medium whose results include three new laser emissions and eight measured laser frequencies.

Caracterización de Emisiones láser infrarrojo lejano y la medición de sus frecuencias

The generation and subsequent measurement of far-infrared radiation has found numerous applications in high-resolution spectroscopy, radio astronomy, and ...

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12.0K vistas.  Central Washington University. We describe the generation of far-infrared radiation using an optically pumped molecular laser along with the measurement of their frequencies with heterodyne techniques. The experimental system and techniques are demonstrated using difluoromethane (CH2F2) as the laser medium whose results include three new laser emissions and eight measured laser frequencies.

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Spatial Separation of Molecular Conformers and Clusters

Gas-phase molecular physics and physical chemistry experiments commonly use supersonic expansions through pulsed valves for the production of cold molecular beams. However, these beams often contain multiple conformers and clusters, even at low rotational temperatures. We present an experimental methodology that allows the spatial separation of these constituent parts of a molecular beam expansion. Using an electric deflector the beam is separated by its mass-to-dipole moment ratio, analogous to a bender or an electric sector mass spectrometer spatially dispersing charged molecules on the basis of their mass-to-charge ratio. This deflector exploits the Stark effect in an inhomogeneous electric field and allows the separation of individual species of polar neutral molecules and clusters. It furthermore allows the selection of the coldest part of a molecular beam, as low-energy rotational quantum states generally experience the largest deflection. Different structural isomers (conformers) of a species can be separated due to the different arrangement of functional groups, which leads to distinct dipole moments. These are exploited by the electrostatic deflector for the production of a conformationally pure sample from a molecular beam. Similarly, specific cluster stoichiometries can be selected, as the mass and dipole moment of a given cluster depends on the degree of solvation around the parent molecule. This allows experiments on specific cluster sizes and structures, enabling the systematic study of solvation of neutral molecules.

We present a technique that allows the spatial separation of different conformers or clusters present in a molecular beam. An electrostatic deflector is used to separate species by their mass-to-dipole moment ratio, leading to the production of gas-phase ensembles of a single conformer or cluster stoichiometry.

Separación espacial de conformadores moleculares y cúmulos

Gas-phase molecular physics and physical chemistry experiments commonly use supersonic expansions through pulsed valves for the production of cold ...

Investigación

Ingeniería

Measurement and Analysis of Atomic Hydrogen and Diatomic Molecular AlO, C2, CN, and TiO Spectra Following Laser-induced Optical Breakdown

In this work, we present time-resolved measurements of atomic and diatomic spectra following laser-induced optical breakdown. A typical LIBS arrangement is used. Here we operate a Nd:YAG laser at a frequency of 10 Hz at the fundamental wavelength of 1,064 nm. The 14 nsec pulses with anenergy of 190 mJ/pulse are focused to a 50 &#181;m spot size to generate a plasma from optical breakdown or laser ablation in air. The microplasma is imaged onto the entrance slit of a 0.6 m spectrometer, and spectra are recorded using an 1,800 grooves/mm grating an intensified linear diode array and optical multichannel analyzer (OMA) or an ICCD. Of interest are Stark-broadened atomic lines of the hydrogen Balmer series to infer electron density. We also elaborate on temperature measurements from diatomic emission spectra of aluminum monoxide (AlO), carbon (C2), cyanogen (CN), and titanium monoxide (TiO).
The experimental procedures include wavelength and sensitivity calibrations. Analysis of the recorded molecular spectra is accomplished by the fitting of data with tabulated line strengths. Furthermore, Monte-Carlo type simulations are performed to estimate the error margins. Time-resolved measurements are essential for the transient plasma commonly encountered in LIBS.

Measurement and Analysis of Atomic Hydrogen and Diatomic Molecular AlO, C2, CN, and TiO Spectra Following Laser-induced Optical Breakdown

Time-resolved atomic and diatomic molecular species are measured using LIBS. The spectra are collected at various time delays following the generation of optical breakdown plasma with Nd:YAG laser radiation&#160;and are analyzed to infer electron density and temperature.

Medición y Análisis de hidrógeno atómico y molecular diatómico AlO, C<sub&gt; 2</sub&gt;, CN, y el TiO Spectra siguiente desglose óptica inducida por láser

In this work, we present time-resolved measurements of atomic and diatomic spectra following laser-induced optical breakdown. A typical LIBS arrangement ...

Design and Use of a Full Flow Sampling System (FFS) for the Quantification of Methane Emissions

The use of natural gas continues to grow with increased discovery and production of unconventional shale resources. At the same time, the natural gas industry faces continued scrutiny for methane emissions from across the supply chain, due to methane&#39;s relatively high global warming potential (25-84x that of carbon dioxide, according to the Energy Information Administration). Currently, a variety of techniques of varied uncertainties exists to measure or estimate methane emissions from components or facilities. Currently, only one commercial system is available for quantification of component level emissions and recent reports have highlighted its weaknesses.
In order to improve accuracy and increase measurement flexibility, we have designed, developed, and implemented a novel full flow sampling system (FFS) for quantification of methane emissions and greenhouse gases based on transportation emissions measurement principles. The FFS is a modular system that consists of an explosive-proof blower(s), mass airflow sensor(s) (MAF), thermocouple, sample probe, constant volume sampling pump, laser based greenhouse gas sensor, data acquisition device, and analysis software. Dependent upon the blower and hose configuration employed, the current FFS is able to achieve a flow rate ranging from 40 to 1,500 standard cubic feet per minute (SCFM). Utilization of laser-based sensors mitigates interference from higher hydrocarbons (C2+). Co-measurement of water vapor allows for humidity correction. The system is portable, with multiple configurations for a variety of applications ranging from being carried by a person to being mounted in a hand drawn cart, on-road vehicle bed, or from the bed of utility terrain vehicles (UTVs). The FFS is able to quantify methane emission rates with a relative uncertainty of &#177; 4.4%. The FFS has proven, real world operation for the quantification of methane emissions occurring in conventional and remote facilities.

Design and Use of a Full Flow Sampling System FFS for the Quantification of Methane Emissions

We have designed, developed, and implemented a novel full flow sampling system (FFS) for quantification of methane emissions and greenhouse gases from across the natural gas supply chain.

El diseño y uso de un sistema de muestreo de flujo completo (FFS) para la cuantificación de las emisiones de metano

The use of natural gas continues to grow with increased discovery and production of unconventional shale resources. At the same time, the natural gas ...

Optical Trap Loading of Dielectric Microparticles In Air

We demonstrate a method to trap a selected dielectric microparticle in air using radiation pressure from a single-beam gradient optical trap. Randomly scattered dielectric microparticles adhered to a glass substrate are momentarily detached using ultrasonic vibrations generated by a piezoelectric transducer (PZT). Then, the optical beam focused on a selected particle lifts it up to the optical trap while the vibrationally excited microparticles fall back to the substrate. A particle may be trapped at the nominal focus of the trapping beam or at a position above the focus (referred to here as the levitation position) where gravity provides the restoring force. After the measurement, the trapped particle can be placed at a desired position on the substrate in a controlled manner. 
In this protocol, an experimental procedure for selective optical trap loading in air is outlined. First, the experimental setup is briefly introduced. Second, the design and fabrication of a PZT holder and a sample enclosure are illustrated in detail. The optical trap loading of a selected microparticle is then demonstrated with step-by-step instructions including sample preparation, launching into the trap, and use of electrostatic force to excite particle motion in the trap and measure charge. Finally, we present recorded particle trajectories of Brownian and ballistic motions of a trapped microparticle in air. These trajectories can be used to measure stiffness or to verify optical alignment through time domain and frequency domain analysis. Selective trap loading enables optical tweezers to track a particle and its changes over repeated trap loadings in a reversible manner, thereby enabling studies of particle-surface interaction.

A protocol for launching and stably trapping selected dielectric microparticles in air is presented.

Cargando óptica Trampa de micropartículas en dieléctrica del aire

We demonstrate a method to trap a selected dielectric microparticle in air using radiation pressure from a single-beam gradient optical trap. Randomly ...

Generation of Size-controlled Poly (ethylene Glycol) Diacrylate Droplets via Semi-3-Dimensional Flow Focusing Microfluidic Devices

Uniform and size-controllable poly (ethylene glycol) diacrylate (PEGDA) droplets could be produced via the flow focusing process in a microfluidic device. This paper proposes a semi-three-dimensional (semi-3D) flow-focusing microfluidic chip for droplet formation. The polydimethylsiloxane (PDMS) chip was fabricated using the multi-layer soft lithography method. Hexadecane containing surfactant was used as the continuous phase, and PEGDA with the ultraviolet (UV) photo-initiator was the dispersed phase. Surfactants allowed the local surface tension to drop and formed a more cusped tip which promoted breaking into tiny micro-droplets. As the pressure of dispersed phase was constant, the size of droplets became smaller with increasing continuous phase pressure before dispersed phase flow was broken off. As a result, droplets with size variation from 1 &#181;m to 80 &#181;m in diameter could be selectively achieved by changing the pressure ratio in two inlet channels, and the average coefficient of variation was estimated to be below 7%. Furthermore, droplets could turn into micro-beads by UV exposure for photo-polymerization. Conjugating biomolecules on such micro-beads surface have many potential applications in the fields of biology and chemistry.

Generation of Size-controlled Poly ethylene Glycol Diacrylate Droplets via Semi-3-Dimensional Flow Focusing Microfluidic Devices

Here, we present a protocol to illustrate the fabrication processes and verifying experiments of a semi-three-dimensional (semi-3D) flow-focusing microfluidic chip for droplet formation.

Generación de tamaño controlado poli (etilenglicol) Diacrylate gotas vía Semi 3-Dimensional del flujo centrándose dispositivos microfluídicos

Uniform and size-controllable poly (ethylene glycol) diacrylate (PEGDA) droplets could be produced via the flow focusing process in a microfluidic device. ...

Method Development for Contactless Resonant Cavity Dielectric Spectroscopic Studies of Cellulosic Paper

The current analytical techniques for characterizing printing and graphic arts substrates are largely ex situ and destructive. This limits the amount of data that can be obtained from an individual sample and renders it difficult to produce statistically relevant data for unique and rare materials. Resonant cavity dielectric spectroscopy is a non-destructive, contactless technique which can simultaneously interrogate both sides of a sheeted material and provide measurements which are suitable for statistical interpretations. This offers analysts the ability to quickly discriminate between sheeted materials based on composition and storage history. In this methodology article, we demonstrate how contactless resonant cavity dielectric spectroscopy may be used to differentiate between paper analytes of varying fiber species compositions, to determine the relative age of the paper, and to detect and quantify the amount of post-consumer waste (PCW) recycled fiber content in manufactured office paper.

A protocol for the non-destructive analysis of the fiber content and relative age of paper.

Desarrollo del método para estudios espectroscópicos dieléctricos de cavidad resonante sin contacto de papel celulósico

The current analytical techniques for characterizing printing and graphic arts substrates are largely ex situ and destructive. This limits the amount of ...

Measuring Sub-23 Nanometer Real Driving Particle Number Emissions Using the Portable DownToTen Sampling System

The current particle size threshold of the European Particle Number (PN) emission standards is 23 nm. This threshold could change because future combustion engine vehicle technology may emit large amounts of sub-23 nm particles. The Horizon 2020 funded project DownToTen (DTT) developed a sampling and measurement method to characterize particle emissions in this currently unregulated size range. A PN measurement system was developed based on an extensive review of the literature and laboratory experiments testing a variety of PN measurement and sampling approaches. The measurement system developed is characterized by high particle penetration and versatility, which enables the assessment of primary particles, delayed primary particles, and secondary aerosols, starting from a few nanometers in diameter. This paper provides instruction on how to install and operate this Portable Emission Measurement System (PEMS) for Real Drive Emissions (RDE) measurements and assess particle number emissions below the current legislative limit of 23 nm.

Presented here is the DownToTen (DTT) portable emission measurement system to assess real driving automotive emissions of sub-23 nm particles.

Medición de emisiones de número de partículas de conducción real de sub-23 nanómetros utilizando el sistema de muestreo portátil DownToTen

The current particle size threshold of the European Particle Number (PN) emission standards is 23 nm. This threshold could change because future ...

3D Printing - Evaluating Particle Emissions of a 3D Printing Pen

Three-dimensional (3D) printing as a type of additive manufacturing shows continuing increase in application and consumer popularity. The fused filament fabrication (FFF) is an inexpensive method used most frequently by consumers. Studies with 3D printers have shown that during the printing process particulate and volatile substances are released. Handheld 3D printing pens also use the FFF method but the consumer&#8217;s proximity to the 3D pens gives reason to higher exposure compared to a 3D printer. At the same time, 3D printing pens are often marketed for children who could be more sensitive to the printing emission. The aim of this study was to implement a low cost method to analyze the emissions of 3D printing pens. Polylactide (PLA) and acrylonitrile butadiene styrene (ABS) filaments of different colors were tested. In addition, filaments containing metal and carbon nanotubes (CNTs) were analyzed. An 18.5 L chamber and sampling close to the emission source was used to characterize emissions and concentrations near the breathing zone of the user.
Particle emissions and particle size distributions were measured and the potential release of metal particles and CNTs investigated. Particle number concentrations were found in a range of 105 - 106 particles/cm3, which is comparable to previous reports from 3D printers. Transmission electron microscopy (TEM) analysis showed nanoparticles of the different thermoplastic materials as well as of metal particles and CNTs. High contents of metal were observed by inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS).
These results call for a cautious use of 3D pens due to potential risk to the consumers.

This protocol presents a method to analyze the emission of 3D printing pens. Particle concentration and particle size distribution of the released particle is measured. Released particles are further analyzed with transmission electron microscopy (TEM). Metal content in filaments is quantified by inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS).

Impresión 3D - Evaluación de las emisiones de partículas de una pluma de impresión 3D

Three-dimensional (3D) printing as a type of additive manufacturing shows continuing increase in application and consumer popularity. The fused filament ...

Solution Blow Spinning of Polymeric Nano-Composite Fibers for Personal Protective Equipment

Light-weight, protective armor systems typically consist of high modulus (&#62;109 MPa) and high-strength polymeric fibers held in place with an elastic resin material (binder) to form a non-woven, unidirectional laminate. While significant efforts have focused on improving the mechanical properties of the high-strength fibers, little work has been undertaken to improve the properties of the binder materials. To improve the performance of these elastomeric polymer binders, a relatively new and simple fabrication process, known as solution blow spinning, was used. This technique is capable of producing sheets or webs of fibers with average diameters ranging from the nanoscale to the microscale. To achieve this, a solution blow spinning (SBS) apparatus has been designed and built in the laboratory to fabricate non-woven fiber mats from polymer elastomer solutions.
In this study, a commonly used binder material, a styrene-butadiene-styrene block-co-polymer dissolved in tetrahydrofuran, was used to produce nanocomposite fiber mats by adding metallic nanoparticles (NPs), such as iron oxide NPs, that were encapsulated with silicon oil and thus incorporated in the fibers formed via the SBS process. The protocol described in this work will discuss the effects of the various critical parameters involved in the SBS process, including the polymer molar mass, the selection of the thermodynamically appropriate solvent, the polymer concentration in solution, and the carrier gas pressure to assist others in performing similar experiments, as well as provide guidance to optimize the configuration of the experimental setup. The structural integrity and morphology of the resultant non-woven fiber mats were examined using scanning electron microscopy (SEM) and elemental X-ray analysis via energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS). The goal of this study is to evaluate the effects of the various experimental parameters and material selections to optimize the structure and morphology of the SBS fiber mats.

The primary goal of this study is to describe a protocol to prepare polymeric fiber mats with consistent morphology via solution blow spinning (SBS). We aim to use SBS to develop novel, tunable, flexible polymeric fiber nanocomposites for various applications, including protective materials, by incorporating nanoparticles in a polymer-elastomer matrix.

Solución Blow Spinning de fibras nanocompuestas poliméricas para equipos de protección personal

Light-weight, protective armor systems typically consist of high modulus (&#62;109 MPa) and high-strength polymeric fibers held in place with an elastic ...

Fabricación de un etalon Fabry-Pérot para su aplicación en espectroscopia de gases traza

Fabrication of a Low-Cost, Fiber-Coupled, and Air-Spaced Fabry-P&#233;rot Etalon

Fabry-P&#233;rot etalons (FPE) have found their way into many applications. In fields such as spectroscopy, telecommunications, and astronomy, FPEs are used for their high sensitivity as well as their exceptional filtering capability. However, air-spaced etalons with high finesse are usually built by specialized facilities. Their production requires a clean room, special glass handling, and coating machinery, meaning commercially available FPEs are sold for a high price. In this article, a new and cost-effective method to fabricate fiber-coupled FPEs with standard photonic laboratory equipment is presented. The protocol should serve as a step-by-step guide for the construction and characterization of these FPEs. We hope this&#160;will enable researchers to conduct fast and cost-effective prototyping of FPEs for various fields of application. The FPE, as presented here, is used for spectroscopic applications. As shown in the representative results section via proof of principle measurements of water vapor in ambient air, this FPE has a finesse of 15, which is sufficient for the photothermal detection of trace concentrations of gases.

Autor destacado: Fabricación de un Fabry-Pérot Etalon de bajo costo, acoplado a fibra y espaciado por aire  

This protocol describes the construction of a low-cost, discrete, fiber-coupled, and air-spaced Fabry-Perot etalon with various applications, such as in trace-gas spectroscopy. The fabrication is possible in any facility with standard optical laboratory equipment available.

Fabricación de un Etalon Fabry-Pérot de bajo costo, acoplado a fibra y espaciado por aire

Fabry-P&#233;rot etalons (FPE) have found their way into many applications. In fields such as spectroscopy, telecommunications, and astronomy, FPEs are ...