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要約

特注の機械式試験装置を用いたサブミリ スケール繊維の 3 点曲げ試験を実行するためのプロトコルを提案します。デバイスは、10 N まで 20 µN に至る力を測定することができます、したがってさまざまな繊維のサイズに対応することができます。

要約

多くは生物学的構造 (LBBSs) を負荷、羽軸、スピキュールなど-小さい (< 1 mm) がない顕微鏡。これらの LBBSs の曲げ性状の測定は、その顕著な機械的機能の起源を理解するため重要です。

10-5から 10 の1 N と変位に至る 10-7 10-2メートルに至るまで強制的に測定できる特注機械式試験装置を用いた 3 点曲げ試験を行うためのプロトコルについて述べる。この機械の試験装置の主な利点は、異なる LBBSs の力と変位の容量を簡単に調整できることです。デバイスの動作原理は、原子間力顕微鏡のそれに似ています。すなわち、力は、片持ち梁の端に接続されている負荷のポイントによって、LBBS に適用されます。荷重点変位は光ファイバー光ファイバー変位センサーによる測定、測定された片持梁剛性を用いた力に変換します。デバイスの力の範囲は、異なる剛性のカンチレバーを使用して調整できます。

海綿Euplectella aspergillumの骨格要素の 3 点曲げ試験を実行することによって、デバイスの機能を説明します。骨格の要素-スピキュールとして知られている-、直径約 50 μ m シリカ繊維であります。≈1.3 mm スパン 3 点曲げ冶具上、スピキュールを取り付けテスト装置を調整するための手順について述べるし、曲げテストします。スピキュールと応用力の位置の変形にかかる力を測定します。

概要

負荷軸受シェルや骨などの生物学的構造 (LBBSs) のアーキテクチャを研究することによってエンジニアは強くてタフな1である新しい複合材料を開発しました。LBBSs および対応する生体の顕著な機械的性質の複雑な内部アーキテクチャ2に関連していることが示されています。ただし、LBBS アーキテクチャと機械的性質との関係は完全には理解されていません。LBBS の力学応答を測定は、そのアーキテクチャがその機械的性質を高める方法を理解することの第一歩です。

ただし、LBBS の力学的応答の測定に使用するテストの種類、その力学的機能と一貫性のあることが重要です。たとえば、羽は空力負荷をサポートする必要があります、ので羽梗の主な機能曲げ剛性3を提供することです。したがって、曲げ試験の力学的応答を測定するため一軸引張試験をお勧めします。実際には、多くの LBBSs、羽軸3など草茎4、およびスピキュール5,6,7,8-主に曲げによる変形します。これは、これらの LBBSs が細い-すなわち、その長さが、幅や深さよりもはるかに大きい。ただし、これらの LBBSs の曲げ試験を行うために、やりがいが軍と彼らが失敗するまで耐えることができる変位 10 10-2範囲2 N と 10-4 10-3 m、それぞれ3,4,5,7,8します。 したがって、これらの機械のテスト実行に使用するデバイスがそれぞれ ≈10-5 N と ≈10-7 m (センサーの最大測定可能な力と変位のすなわち、0.1%) の力と変位の解像度を持つ必要があります。

商業的に利用可能な大規模な機械テスト システム通常測定できない力と変位この解像度で。彼らが測定できる最大の力 (それぞれ変位) はより小さい原子間力顕微鏡を用いた9,10や微小電気機械システム ベース11試験装置には、適切な解像度がありますが、LBBS が耐えることができる最大フォース (それぞれ変位)。したがって、これらの LBBSs、エンジニアおよび科学者で曲げ試験を実行する特注機械テスト デバイス5,7,12,13に頼らなければなりません。これらのカスタム デバイスの主な利点は、力と変位の大きい範囲を格納できることです。ただし、建設、これらのデバイスの操作でも記載されていません、文学。

プロトコルは、10-5から 10 の1 N と変位に至る 10-7 10-2メートルに至るまで強制的に測定できる特注機械式試験装置を用いた 3 点曲げ試験を実行する説明です。補足資料は、機械的試験装置のコンポーネントのすべてのディメンションを含む、技術的な図面を提供しています。この機械的試験装置の主な利点は、力と変位の範囲を異なる LBBSs に合わせて簡単に調整できることです。デバイスの動作原理は、原子間力顕微鏡9のそれに似ています。このデバイスは、標本をステンレス板にカット溝を配置 (図 1A ~ C参照)。1278 ± 3 μ m を光学顕微鏡写真からトレンチのスパンを測定 (平均 ± 標準偏差; n = 10)。トレンチ端部曲げ試験 (参照してください図 1、およびD) 中に供試体をサポートします。この試料ステージは、3 軸翻訳段階に添付、ウェッジは海溝のスパンに中間に位置する、アルミ ウェッジの下に配置 (図 1C参照)。ステージを移動することによって、 figure-introduction-2423 (参照してください図 1 a、およびC) の方向を曲げないように供試体を引き起こしているウェッジを押し込ま標本。

我々 は、負荷ポイント (LP) としてウェッジを含むデバイスのコンポーネントおよび負荷ポイント チップ (LPT) とウェッジを参照してください。LP は、カンチレバーの変位が、ファイバー光ファイバー変位センサー (FODS) で測定の最後に添付されます。対象は LP の上面にあるミラーから反射される赤外光を発する (図 1B参照)、対象に光ファイバーで送受信。洗練されたシリコンウェハーの ≈5 の mm の正方形の部分は LP ミラーとして使用され、エポキシを使用して LP に貼付されています。対象は、光を反射して放出の強度を比較することによって変位を測定します。カンチレバーの剛性と変位を使用して計算力、 figure-introduction-2977 、供試体との対話によるくさびによって経験されます。カンチレバーの変位は、くさびの下に試験片の断面の変位を計算する使用もfigure-introduction-3108。カンチレバ型力センサーは、ミクロとマクロ力学試験研究10、11,12,13,14の数で使用されています。ここで示した特定の設計は、接着剤の接触実験14を実行するために使用される機械的試験装置から適応。似たようなデザインは、市販のマイクロ トライボメータ15,16で使用されています。

figure-introduction-3624
図 1: 特注の機械式試験装置の概要。(A) A コンピューター支援設計レンダリング デバイスの。ステージのコンポーネントが緑色でハイライトされます。サブアセンブリ (片持梁、ロード ポイント (LP)) の検出力は、赤色でハイライトされます。A (B) は (A) のビューを拡大しました。LP ミラーは、対象の下に LP の上面に青色で、LPM のラベルは。(C) 翻訳段階の運動を記述するために使用される座標系。Th を平準化プロトコルの手順 1.9 e ステージ、 figure-introduction-4031 LP ミラーの表面に垂直なベクトルと一致する方向を作った。変形、スピキュールと計測変位を示す三点曲げ構成の (D) の模式図figure-introduction-4176とfigure-introduction-4244。この図の拡大版を表示するのにはここをクリックしてください。

海綿Euplectella aspergillum6,7.の骨格要素の 3 点曲げ試験を実行することによってデバイスの機能を実証します。このスポンジのスケルトンは、フィラメント、スピキュール (図 2A参照) と呼ばれるアセンブリです。Spicules は ≈50 μ m 厚い、シリカ6主に構成。バイオシリカ ベースのスピキュールは、普通、Homoscleromorpha、および Hexactinellida のクラスに属するスポンジで発見されます。Hexactinellida クラスに属するE. aspergillumなどのスポンジは「ガラス スポンジ"とも呼ばれますガラス スポンジのスピキュールは、主にシリカから構成される、それはシリカが多くの場合どちらかコラーゲン17,18またはキチン19,20から成る有機マトリックスに含まれていることを示されています。,21. この有機基質シリカ鉱物18,20の重要な役割を果たしています。さらに、いくつかの骨片の有機基質もカルシウム22のバイオミネラリゼーションのテンプレートとして機能します。シリカ内で配布されているほか、有機マトリックスはまたスピキュールのシリカを分割、同心の円筒ラメラ6,23異なる層を形成できます。それはこの同心円状、層状アーキテクチャがスピキュールの変形動作6,7,8,24,25,26 に影響を与えることが示されています。.その結果、スピキュールの機械的プロパティは、化学反応の組み合わせによって決定されます (すなわち。、シリカ-タンパク質複合体の化学構造) とは建築27。化学構造とガラス海綿骨片のアーキテクチャの両方調査24,28,29の下にまだあります。

E. aspergillumのスピキュールのほとんどは、フォーム硬い骨格のケージに一緒に接合されています。しかし、スケルトンの基部 (図 2A参照) アンカー スピキュールとして知られている非常に長い (≈10 cm) スピキュールの房があります。アンカー スピキュールの小さいセクションで 3 点曲げ試験を行うためのプロトコルについて述べる。

プロトコルの手順 1で組み立てと特注の機械式試験装置のコンポーネントの位置揃え、手順を説明します。手順 2と4プロトコルの力と曲げ試験における変位を計算するために使用のキャリブレーション データを生成するための手順を提供します。手順 3で、スピキュールのセクションを準備し、テスト ・ フィクスチャにそれをマウントするための手順を示します。スピキュール セクションの曲げ試験を行うための手順は、手順 5に記載されています。最後に、代表結果セクションでステップ 2と4で得られた校正データを使ってステップ 5で得られた曲げ試験データと共に計算figure-introduction-6670、 figure-introduction-6737 。

figure-introduction-6872
断面およびE. aspergillum スピキュールを検査するため図 2: プロシージャ。(A) E. aspergillumのスケルトン。フリースタンディング アンカー スピキュールの房は、スケルトンのベースに表示されます。スケール バーは ~ 25 mm (B) 単一のアンカー スピキュールは赤 #00000 クロテン ブラシを使用して、かみそりの刃を使用して断面の顕微鏡スライドの場所で開催されます。スケール バーは 〜 12 mm (C) 試料ステージの塹壕に配置されますE. aspergillumスピキュールのセクションあります。トレンチ端部とトレンチ リッジそれぞれティールと、オレンジ色でハイライトされます。トレンチ リッジに対して、スピキュールをプッシュすることで、その軸がトレンチ端部に垂直であることを確認します。(D) A スピキュール セクションが破損しているし、捨てられるべき場合を決定する方法を記述するプロトコルの手順 3.4で説明した検査手順を通過する骨片の顕微鏡写真。A (E) プロトコルの手順 3.4で説明した検査手順が失敗するシリカ層の大部分を不足している多くの亀裂を含む骨片の顕微鏡写真。スケール バー = 250 μ m (C)、(D)、100 μ m、100 μ m (E)。この図の拡大版を表示するのにはここをクリックしてください。

プロトコル

1 です。 アセンブリと配置

  1. 選択が剛性が目的の実験に適した片持ち。LP をカンチレバー #4-40 ソケット ヘッド キャップ ネジ (SHCSs) を ( 図 3 を参照) に接続します。LP をアタッチ中片持梁腕をない塑性変形に注意してください
    2. 。

figure-protocol-278
図 3: カンチレバーを組み立てる手順を強制的にセンサーと測定その剛性。(A) 負荷ポイント (LP) は負荷ポイント チップ (LPT) 上向きに指される片持梁 (C) に接続されています。(B) カンチレバー LP サブアセンブリが CP として示される片持ちプレートに接続されているとします。片持ちプレートの凹部のポケットは、片持梁腕の下に表示されます。(C) 片持板がフレームの下側に接続されている、(B) に示すように板の側面に直面している、figure-protocol-675 方向。ツキガイ (D) ワイヤー フックとして FODS マイクロメータを示し、LPT の穴からぶら下がっているプロトコルの 手順 2 で使用される校正重みが表示されます。 この図の拡大版を表示するのにはここをクリックしてください

。
  1. けば無料綿棒に 2-プロパノールを数滴を適用し、LP ミラーの表面を拭きます。傷のミラーを検査し、破損がある場合にミラーを交換します
    2. 。
  2. は、片持ちプレートのプレートから LPT 指すと凹部のポケットを有する板の側面にある #6-32 SHCSs を使用するカンチレバーを緩めに取り付けます ( 図 3 B を参照)。1/8 を挿入 " カンチレバーとプレートを位置合わせピン、ネジを締めます、位置合わせピンを削除します
    3. 。
  3. は、FODS マイクロメータ反時計回り (参照してください 図 3 C) を回すことによってできるだけ多くの対象を撤回します。緩めの LPT 指している #6-32 SHCSs を使用してフレームに片持ちプレートに取り付けます、figure-protocol-1450 方向 ( 図 1 を参照)。1/8 を挿入 " フレームと片持ちプレートの位置合わせピン、ネジを締めます、( 図 3 C を参照) の位置合わせピンを削除します
    4. 。
  4. 電源を調整ノブを使用して定電圧モードで 12.00 V に電圧を設定します。電圧出力をオンにし、電源装置の電流が表示されていることを確認 ' s 液晶画面は約 60-70 mA です。電流電圧測定の不確かさを減らすために定常状態に到達するために少なくとも 1 時間を待機します
    5. 。
  5. を開き、実行、Basic_Data プログラム (サプルメンタリ コード ファイルを参照してください)。LP に向かって FODS ミラー ユーザー インターフェイスのグラフに表示される出力電圧最大値に達するまで移動する (参照してください 図 3 C と 図 4 A) FODS マイクロメータを回り。
    1. 、電圧出力、FODS を撤回する反時計回りに FODS マイクロメータ (動) 5.0 は、対象住宅の側にネジをセットを回して FODS のゲイン調整します
      2. 。
  6. 顕微鏡照明オンし顕微鏡の位置を調整して、LPT はビューのフィールドの中央に配置されるので、2 つのマニュアルの翻訳段階を使用して集中。クリックして Basic_Data プログラムを停止、' 停止 ' ボタン
    7. 。
  7. は、モーター コント ローラー ユーザー インターフェイス ソフトウェアを開きます。ポテンショメータ スライダーを使用して、 figure-protocol-2425 -軸モータコント ローラーの最大許容移動にステージを移動する、 < img alt =「方程式 6」src ="/ファイル/ftp_upload/56571/56571eq6.jpg"/> 方向とセットをクリックしてホーム ポジション、' ホーム ' ユーザー インターフェイスのボタン。
    1. 使用ポテンショメータのスライダー、figure-protocol-2704-軸の最大許容移動にステージを移動するモーター コント ローラー、figure-protocol-2802 方向とセット ホーム ポジション。ユーザー インターフェイス ソフトウェアを閉じます
      2. 。
  8. 平準化のマイクロメータ ヘッドの先端プレート ステージ ベース プレート芝生で休憩できるようにステージ ベース プレート ( 図 4 A を参照) 上のステージの座席します。アイソレーション テーブル上にバブルのレベルを置き、各テーブル内の圧力を調整する ' バルブを回して s 足親指のネジの腕、表面レベル。
    1. はプレートを平準化ステージの上にバブルのレベルを移動し、それはまたレベル、マイクロメータを調整します。マイクロメータの位置をメモしてステージ ベース プレートからステージを外します。注: プロトコルがここで一時停止にすることができます
      2. 。

figure-protocol-3347
図 4: 機械のテスト装置で組み立て、手順 1.9 とプロトコルの 3.7。(A) 試料ステージ (SS)、翻訳段階 (TS) にアタッチされ、平準化がステージ ベース プレート (SBP) に装着されているプレート (SLP) は、ステージ上、マイクロメータを使用して、平準化します。ステージのベース プレートは、アイソレーション テーブル上の光学ブレッド ボードに接続されます。片持ち梁 (C);片持ちプレート (CP);光ファイバー変位センサー (FODS) 力センサ システムを構成します。カンチレバーに負荷 (B) ポイント (LP) を接続し、試料ステージ、スピキュール上負荷ポイント チップ (LPT) が置かれました。曲げ試験の中には、対象を使用して LP の変位を測定します。FODS と LP ミラー間距離の初期値は、(A) に示すように FODS マイクロメータ (FM) によって制御されます。(C) A トレンチで、LPT の下、サンプル段階での敷設スピキュールの顕微鏡写真。スケール バー = 250 μ m (C)。 この図の拡大版を表示するのにはここをクリックしてください

。

2 片持梁剛性測定

  1. Basic_Data プログラムと出力電圧まで右回りに FODS マイクロメータは停止 (動) 約 4 ターンにをクリックして、プログラムを実行、' 停止 ' ボタン。
    2. 。
  2. 分析用天秤を使用してワイヤー フックと校正の重みの質量を測定します
    3. 。
  3. は、Cantilever_Calibration プログラムを開く (サプルメンタリ コード ファイル を参照してください) 力のため目的のファイル名を入力し、カリユーザー インターフェイスのテキスト ボックスに出力ファイルを bration
    4. 。 Cantilever_Calibration プログラムを実行し、
  4. ' OK ' 最初の校正用分銅の質量を入力するメッセージが表示されたら。発振は停止し、緑をクリックしてユーザー インターフェイス グラフに表示出力電圧を待つ ' 電圧安定化 ' 電圧測定を実行します
    5. 。
  5. 架線使用ピンセットは、LPT の穴からフック、フックは対物レンズ (D の 図 3 を参照) から離れて直面しています。フックの添加物による片持ばりの振動を減衰させるため、ピンセットを使用します。
    1. ダイアログ ボックスでグラムにフックの質量を入力し、クリックして ' [ok] '。前の手順のようにクリックする前に発振は停止への出力電圧を待つ、' 電圧安定化 ' ボタン
      2. 。
  6. ワイヤ上最初のウェイトを掛ける使用ピンセット フックし、前の手順で説明するように電圧測定を行うプロセスを繰り返します。校正重みのすべてのハングされているか、出力電圧は 1.8 V 未満までは、この手順を繰り返します。この時点で、クリックして ' キャンセル ' Cantilever_Calibration プログラムを終了ダイアログ ボックス
    7. 。
  7. 半時計回り FODS マイクロメータを FODS を撤回します。LPT からフックと重みを慎重に削除します
    。 注: 力校正出力ファイルは校正大衆、100 FODS 出力電圧の測定値の平均値とこれらの測定値の標準偏差によって適用されるフォースのタブ区切りリストです。代表の結果 では、カンチレバーの剛性を測定するこのデータ ファイルを処理する方法について説明します
    8. 。

3。試料作製

  1. 摩耗ニトリル手袋 E. aspergillum を処理するときのスケルトンをスポンジし、処理されないとき、密閉容器にスケルトンを格納します
    。 注意: spicules は、主にシリカで構成されます、ので壊れたスピキュール フラグメントの鋭い、炎症につながる皮膚に埋め込まれたことができます
    2. 。
  2. ピンセットのペアを使用して、その遠位端とスケルトンから取り外します 1 つのアンカー スピキュールを把握する ( 図 2 A 参照)。きれいな顕微鏡スライドの上、骨片を配置します
    3. 。
  3. は、#00000 赤クロテン ブラシを使用してその長さに沿って中間点付近のスライドに対して、スピキュールを保持します。カット、≈ 4 mm のセクションのスライドに垂直ブラシの両側に、スピキュールに対してかみそりの刃を押すことによって骨片の表面 ( 図 2 B を参照)。大型遠位および近位骨片のセクションを破棄し、≈ 4 mm セクション
    4. 。
  4. 検査 10 倍の倍率の偏光顕微鏡を使用して 4 mm スピキュール セクション ( 図 2 C を参照してください-E)。スピキュール セクションを破棄し、( 図 2 E 参照) シリカ層の大規模な領域がない場合は 3.2 の手順 に戻ります。専らそのシリカ層に新たな損傷を防止するため赤 #00000 クロテン ブラシを使用して検査スピキュール セクションを処理します
    5. 。
  5. きれいにスピキュール フラグメントまたはブラシや圧縮空気で試料ステージの面から他の粒子。糸くず無料綿棒に 2-プロパノールを数滴を適用し、試料ステージを拭いてください。非反射性塗料をコーティングしたステージの部分との接触を避けてください。注: ペイントを使って曲げテスト中に撮影した画像に鏡面反射の数を減らす
  6. は、サンプル ステージにスピキュール セクションを転送します。曲げ試験のため必要な範囲と海溝の間でスピキュール セクションを置き、慎重にそれをプッシュ、figure-protocol-6534 トレンチ リッジに対して方向。スピキュールが ( 図 2 C 参照) トレンチ端部に垂直であることを確認します
    7. 。 マイクロメータ スピンドルの先端ステージ ベース プレート芝生の残りの部分は、
  7. ステージ ベース プレート上のステージを座席します。必要に応じて、プロトコルの 1.9 の手順 でメモした値にプレートを平準化ステージ上、マイクロメータを調整します
    8. 。

4。電圧変位補間ファイル

  1. 開く Bending_Test プログラム (サプルメンタリ コード ファイルを参照してください)。設定、' ステップ サイズ ' 2 μ m の ' 最大変位 ' 0.5 mm ' 低電圧停止 ' 1.5 V と ' 高電圧停止 ' 4.6 V のユーザー インターフェイスに表示されるテキスト ボックスを使用する。 テキストを使用して
    1. 選択任意の画像とデータ ディレクトリと出力ファイル名は、ユーザー インターフェイスのボックスします。設定、' 画像を保存 ' ユーザー インターフェイスの下の位置に切り替えます、言葉の下の緑色の長方形ボタンをクリックして ' 電圧差 '、それが点灯になります
      2. 。
  2. Bending_Test プログラムを実行し、初期化するモーター コント ローラーとカメラ インターフェイスを待つ
    3. 。 照明器具をオンに
  3. 、lpt ポートが表示されるので、明るさを調整します。時計回りに回して FODS マイクロメータ ユーザー インターフェイス グラフに表示出力電圧が対 ~1.7
    1. 使用ポテンショメータのスライダー、figure-protocol-7531-ステージを移動する軸モーター コント ローラー、figure-protocol-7621 までの方向これは、lpt ポートとセットの下 ~ 1 cm、figure-protocol-7717-軸をクリックしてホーム ポジション、" ホーム " ボタン
      2. 。
  4. のポテンショメータのスライダーを使用して、figure-protocol-7864-、figure-protocol-7931-、lpt ポートの位置に軸モーター コント ローラーサンプル ステージ上にある薄い鋼板の中央に、figure-protocol-8047、トレンチからの方向。ポテンショメータのスライダーを使用して、figure-protocol-8145-ステージを移動する軸モーター コント ローラー、figure-protocol-8235 ステージまで方向顕微鏡内にある ' s 視野
    5. 。
  5. はポテンショメータのスライダーを使用して、figure-protocol-8360-ステージを移動する軸モーター コント ローラー、figure-protocol-8450 しながら方向ユーザー インターフェイスの出力電圧のグラフを見てください。Lpt ポートがステージを連絡するおおよその位置を決定する ' の電圧の変化を捜すことによって s の表面さらに、ステージの動き。ステージ約 10 μ m を撤回します
    6. 。
  6. というラベルの付いたボタンをクリックして " を開始テスト "。プロンプトが表示されたら、入力値 0.003 V と 0.001 mm の ' タッチ感度 ' と ' ステップ サイズをタッチ '、それぞれ。テストが完了するまで待機します
    。 注: これ以降、ステージから取り外さないでステージ ベース プレート曲げ試験が正確な変位測定を確保するために完了するまで。電圧変位補間出力ファイルが 100 FODS 出力電圧の測定値の平均値と一緒にこれらの測定値の標準偏差のタブ区切りリスト、figure-protocol-8926-軸ステージのすべての段階の変位増分位置。代表結果 では、このデータ ファイルを使用して LP 変位を測定対象の出力電圧に変換する方法について説明します
    7. 。

5。曲げ試験

  1. 開くと実行 Basic_Data プログラムし、ユーザー インターフェイスのグラフに表示される出力電圧はポテンショメータのスライダーを使用して対 3 約まで FODS マイクロメータを反時計回りに回し、 < imgalt ="方程式 7" src="/files/ftp_upload/56571/56571eq7.jpg"/> -スピキュール (参照 図 4 C) 上記トレンチ端部間 LPT の位置に軸モータコント ローラー。
    1. 使用ポテンショメータのスライダー、figure-protocol-9455-ステージを移動する軸モーター コント ローラー、figure-protocol-9545 までの方向トレンチ リッジの上面の下、LPT は ( 図 5 を参照)。最後に、ポテンショメータのスライダーを使用して、figure-protocol-9718-LP の完全な幅の端の間は、フォーカスにトレンチ リッジの前部表面をもたらす軸モーター コント ローラー、トレンチ リッジ。クリックして Basic_Data プログラムを停止、' 停止 ' ボタン
      2. 。
  2. 開くと Center_LoadPoint プログラムを実行 (サプルメンタリ コード ファイル を参照してください)。使用、figure-protocol-10013-軸モータコント ローラー、LPT がほぼ正しいトレンチ端部と接触するまで、ステージを移動します。クリックして、" を見つけるエッジ " ボタン
    3. 。 プロンプトが表示されたら、
  3. を使用して、figure-protocol-10189-軸モータコント ローラー、LPT がほぼ左トレンチ端部と接触するまで、ステージを移動します。クリックして、" を見つけるエッジ " ボタン。トレンチのスパンに LPT 途中の位置にプログラムを待ちます ( 図 5 B 参照).
    注: これ以降後それは調整することが重要、figure-protocol-10452-このように軸モータコント ローラー、LPT のミスアラインメントになります
    4. 。
  4. Bending_Test プログラムを開きます。2 μ m、0.5 mm、1.5 V 低電圧停止高電圧 4.5 V のユーザー インターフェイスでテキスト ボックスを使用して停止し、最大変位するステップ サイズを設定します。 テキストを使用して
    1. 選択任意の画像とデータ ディレクトリと出力ファイル名は、ユーザー インターフェイスのボックスします。設定、' 画像を保存 ' 上の位置にユーザー インターフェイスに切り替えるし、言葉の下緑の長方形ボタンをクリックして ' 電圧差 ' が点灯しないように
      2. 。
  5. Bending_Test プログラムを実行し、初期化するモーター コント ローラーとカメラ インターフェイスを待つ
    6. 。
  6. ステージを移動、 figure-protocol-10994 モータコント ローラーのポテンショメータのスライダーを使用して、スピキュールが顕微鏡内まで方向 ' s の視野。ポテンショメータのスライダーを使用して、 figure-protocol-11158 -軸モータコント ローラー、スピキュールは、LPT の下までステージを移動します。
    1. が顕微鏡焦点のノブを調整、スピキュールは、ユーザーのフォーカス インターフェイス ( 図 4 C を参照してください)。出力電圧が約 1.8 v. まで FODS マイクロメータを反時計方向に回して
  7. ステージを移動する z 軸モータコント ローラーのポテンショメータのスライダーを使用して、figure-protocol-11507 ユーザー インターフェイスの出力電圧のグラフを見ながら方向。Lpt ポートがさらにステージの動きと電圧の変化を探して、スピキュールを連絡するおおよその位置を決定します。ステージ約 50 μ m を撤回します
    8. 。
  8. クリック " テスト開始 " 曲げ試験が完了し、ステージに戻りますまで待つと、figure-protocol-11735-軸ホーム位置
    。 注意: ステージが移動 2 μ m 刻み (ステップ 5.4 議定書に規定する)、figure-protocol-11874、スピキュールを曲げ方向 (を参照してください 図 5 C) いくつかの停止条件のいずれかが満たされるまで。停止条件:) 0.5 mm の最大のステージ移動に達する;b) スピキュール改とプログラム FODS 出力電圧; の大きなドロップを検出します。または c) 4.5 V の高電圧制限に達した。(A) 条件を停止するため、彼らはテストを終了、または前の値を上書きしたい場合、ユーザーが求められます。ときに ' をオーバーライドして ' は選択すると、ユーザーは段階の変位制限をインクリメントまたは、スピキュールが読み込まれて、データの収集を続行するためにステージの変位のステップの方向を反転する機会を有する。変位増分ト書きは] をクリックして変更することも、" ロードを逆 " ボタンのテスト中に任意の時点で。曲げテスト出力ファイルは、プロトコルの 4.6 のステップ で生成された電圧変位の補間出力ファイルの同じ構造です。つまり、それは 100 FODS 出力電圧の測定値の平均値と一緒にこれらの測定値の標準偏差のタブ区切りリスト、figure-protocol-12489-すべての段階で軸ステージ位置変位増分値です。代表の結果 では、曲げ試験におけるカンチレバーの変位とステージの変位を計算するための電圧変位の補間ファイルと共にこのデータ ファイルを使用する方法を説明します。片持梁剛性が、スピキュールの LPT によって適用されるフォースを計算する使用後、.
    9. テストが完了したら、
  9. FODS マイクロメータを反時計回りに回し、FODS が LPT ミラーから少なくとも 5 mm まで。その後、慎重にステージ ベース プレートからステージを削除します
    10. 。

figure-protocol-12891
図 5: トレンチ LPT を整列させるための手順 ' スパン半ば s と曲げ試験を行う(A)、LPT はプロトコルの 手順 5.1 の終わりにトレンチ リッジの上面の下にあるが、半ば範囲にまだ配置されていません。手順 5.2 と 5.3 プロトコルのでセンタリング後 LPT の位置 (B) の手順を完了しています。(C) A 曲げテスト中に撮影した骨片の顕微鏡写真。LPT、下にスピキュール断面の変位 figure-protocol-13303、図式的にマークされています。スケール バー = 250 μ m (A ・ C)。 この図の拡大版を表示するのにはここをクリックしてください

。

結果

機械的テストの最も基本的な出力は、試料と、力が適用される場所で変位に加わる力の大きさです。3 点曲げ試験の場合目的は、LPT によって適用されるフォースのマグニチュードを取得、figure-results-146との lpt ポートの下に試験片の断面の変位、 figure-results-237 方向、

ディスカッション

プロトコルのいくつかの手順は、力と変位を正確に測定を確保するため特に重要です。いくつかの重要な手順はすべて 3 点曲げ試験に普遍的なこの機械のテスト装置に固有のものです。

LP ミラーがきれい、傷の検査プロトコルの手順 1.2とステップ 1.6プロトコルの「FODS ゲインを設定します。ゲインの手順 2、 4、および<...

開示事項

著者が明らかに何もありません。

謝辞

この作業は [材料力学と構造プログラム、付与数 1562656]; 国立科学財団によって支えられました。機械エンジニア [Haythornthwaite 若手研究者賞] のアメリカの社会。

資料

NameCompanyCatalog NumberComments
TMC 36" x 48" isolation table with 4" CleanTop breadboardTMC63-563Isolation Table
Diffeential Screw AdjusterThorlabsDAS110For stage leveling plate
1" Travel Micrometer Head with 0.001" GraduationsThorlabs150-801MEFor stage leveling plate
Right-Angle Bracket for PT Series Translation Stages, 1/4"-20 Mounting HolesThorlabsPT102For microscope mount
1" Dovetail Translation Stage, 1/4"-20 TapsThorlabsDT25For microscope mount
1" Translation Stage with 1/4"-170 Adjustment Screw, 1/4"-20 TapsThorlabsPT1BFor microscope mount
12" Length, Dovetail Optical RailEdmund Optics54-401For microscope mount
2.5" Width, Dovetail CarrierEdmund Optics54-404For microscope mount
0.5" Width, Dovetail CarrierEdmund Optics54-403For microscope mount
InfiniTube Mounting C-Clamp with ¼-20Edmund Optics57-788Microscope component
Standard (with no In-Line Attachment), InfiniTubeEdmund Optics56-125Microscope component
Standard In-Line Attachment (Optimized at 2X-10X), InfiniTubeEdmund Optics56-126Microscope component
Mitutoyo/Achrovid Objective Adapter (M26 to M27)Edmund Optics53-787Microscope component
5X Infinity Achrovid Microscope ObjectiveEdmund Optics55-790Microscope component
0.316" ID, Fiber Optic Adapter SX-6Edmund Optics38-944Microscope component
¼" x 36", Flexible Fiber Optic Light GuideEdmund Optics42-347Microscope component
115V, MI-150 Fiber Optic Illuminator w/IR Filter and HolderEdmund Optics55-718Microscope component
Allied Vision Manta G-223 2/3" Color CMOS CameraEdmund Optics88-452Microscope component
Power Supply for Manta/ Guppy Pro/ Stingray/ PikeEdmund Optics68-586Microscope component
1/4" Travel Single Axis Translation StageThorlabsMS1SFODS micrometer
Analog Reflectance Dependent Fiber Optic Displacement SensorPhiltecD20FODS
30V, 3A DC Power SupplyAgilentU8001APower supply for DAQ and FODS
14-Bit, 48 kS/s Low-Cost Multifunction DAQNational InstrumentsUSB-6009DAQ for FODS
Three Axis Motorized Translation StageThorlabsThorlabs T25 XYZ-E/MTranslation stage
T-Cube DC Servo Motor ControllerThorlabsTDC001Motor controller for stage
T-Cube Power SupplyThorlabsTPS001Power supply for motor controller
National Instruments LabVIEW (2013 SP1)National InstrumentsUsed for running software
National Instruments LabVIEW Vision Acquisition Software (2016)National InstrumentsUsed for running software
Nikon Eclipse Ci-POL Main BodyMVIMDA96000Polarized light microscope
Nikon Pi Intermediate Tube with Analyzer SliderMVIMDB45305Polarized light microscope
Nikon Dia-PolarizerMVIMDN11920Polarized light microscope
Power Cord - 7'6"MVI79035Polarized light microscope
Nikon P-Amh Mechanical StageMVIMDC45000Polarized light microscope
Nikon Lwd Achromat CondenserMVIMBL16100Polarized light microscope
Nikon LV-NBD5BD-CH Manual Quint Nosepiece ESDMVIMBP60125Polarized light microscope
Nikon C-TF Trinocular Tube FMVIMBB93100Polarized light microscope
Nikon CFI 10X Eyepiece FN 22mm NCMVIMAK10110Polarized light microscope
Nikon TU Plan Flour BD 10x ObjectiveMVIMUE42100Polarized light microscope
Venus Flower Basket SpongeDenis BrandN/ASponge skeleton
3.5X Headband Flip-Up MagnifierMcMaster Carr1490T5Used for spicule sectioning
Ø1" Silicon Wafer, Type P / <100>Ted Pella16011Used for load point mirror
Low Lint Tapered Tip Cotton SwabMcMaster Carr71035T31Used for cleaning LP mirror
Rubber grip precision knifeMcMaster Carr35575A68Used for sectioning spicules
Microscope Slides, frosted end, 75 x 25 x 1mmTed Pella260409Used for sectioning spicules
Sable Brushes, #00000, 0.08mm W x 4.0mm LTed Pella11806Used for handling spicules
PELCO Pro High Precision Tweezers, extra fine tips, superior finishTed Pella5367-5NMUsed for handling spicules
Dual Axis Linear Scale MicrometerEdmund Optics58-608Used for calibrating the microscopes
FLEX-A-TOP FT-38 CASESD Plastic ContainersFT-38-CASUsed for storing spicules
Plastic Vial Bullseye LevelMcMaster Carr2147A11Used for leveling the stage
Analytical BalanceMettler ToledoMS105DUUsed to mass calibration weights

参考文献

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128 3 Euplectella aspergillum

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