Neem contact met ons op.

Meld u aan

Tekie Ogbazghi

Department Lippstadt

Hamm-Lippstadt University of Applied Sciences

BIOGRAPHY

Tekie Ogbazghi has not added Biography.

If you are Tekie Ogbazghi and would like to personalize this page please email our Author Liaison for assistance.

INSTITUTIONS

Hamm-Lippstadt University of Applied Sciences

JOVE ARTICLES

In Depth Analyses of LEDs by a Combination of X-ray Computed Tomography (CT) and Light Microscopy (LM) Correlated with Scanning Electron Microscopy (SEM)

Jörg Meyer¹,

Christian Thomas¹,

Frank Tappe¹,

Tekie Ogbazghi¹

¹Department Lippstadt, Hamm-Lippstadt University of Applied Sciences

Engineering

Privacy

Gebruiksvoorwaarden

Beleid

Neem contact met ons op.

Aanbevelen aan bibliotheek

JoVE Nieuwsbrieven

Onderzoek

JoVE Journal
Methoden Collecties
JoVE Encyclopedia of Experiments
Archiveren

Onderwijs

JoVE Core
JoVE Science Education
JoVE Lab Manual
JoVE Quiz
JoVE Playlist
Faculteitssite

Auteurs

Overzicht
Publicatieproces
Redactieraad
Omvang en beleid
Collegiale beoordeling
VEELGESTELDE VRAGEN
Verzenden

Bibliothecarissen

Overzicht
Getuigenissen
Abonnementen
Toegang
Middelen
Bibliotheek Adviesraad
VEELGESTELDE VRAGEN

Over JoVE

Overzicht
Leiderschap
Blog
JoVE Help Center
JoVE Sitemap

Auteursrecht © 2025 MyJoVE Corporation. Alle rechten voorbehouden