Skontaktuj Się z Nami

Zaloguj się

Armand Beyer

Globalfoundries Fab 1

BIOGRAPHY

Armand Beyer has not added Biography.

If you are Armand Beyer and would like to personalize this page please email our Author Liaison for assistance.

INSTITUTIONS

Globalfoundries Fab 1

JOVE ARTICLES

In Situ Time-dependent Dielectric Breakdown in the Transmission Electron Microscope: A Possibility to Understand the Failure Mechanism in Microelectronic Devices

Zhongquan Liao^1,2,

Martin Gall¹,

Kong Boon Yeap^1,3,

Christoph Sander¹,

André Clausner¹,

Uwe Mühle¹,

Jürgen Gluch¹,

Yvonne Standke¹,

Oliver Aubel⁴,

Armand Beyer⁴,

Meike Hauschildt⁴,

Ehrenfried Zschech^1,2

¹, Fraunhofer Institute for Ceramic Technologies and Systems,

²Dresden Center for Nanoanalysis, Technische Universität Dresden,

³, Globalfoundries Fab 8,

⁴, Globalfoundries Fab 1

Engineering

Prywatność

Warunki Korzystania

Zasady

Skontaktuj Się z Nami

Poleć Bibliotece

BIULETYNY JoVE

Badania

JoVE Journal
Methods Collections
JoVE Encyclopedia of Experiments
Archiwum

Edukacja

JoVE Core
JoVE Science Education
JoVE Lab Manual
JoVE Business
JoVE Quiz
JoVE Playlist
Strona Wydziału

Autorzy

Przegląd
Proces Publikacji
Rada Redakcyjna
Zakres i Zasady
Recenzja ekspercka
FAQ
Prześlij

Bibliotekarze

Przegląd
Referencje
Subskrypcje
Dostęp
Zasoby
Biblioteczna Rada Doradcza
FAQ

O JoVE

Przegląd
Kierownictwo
Blog
JoVE Help Center
JoVE Sitemap

Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Wszelkie prawa zastrzeżone