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머신 비전 접근법을 사용한 TEM 및 주사 TEM(STEM) 이미징 모드를 위한 투과 전자 현미경의 선량 보정

DOI :

10.3791/200190-v

0:50 min

June 23rd, 2023

June 23rd, 2023

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1Protochips, Inc.

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