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ध्यान केंद्रित आयन बीम मिलिंग और मस्तिष्क के ऊतकों के इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी स्कैनिंग

DOI :

10.3791/2588-v

8:57 min

July 6th, 2011

July 6th, 2011

27,509 Views

1Centre of interdisciplinary electron microscopy, École Polytechnique Fédérale de Lausanne

इस प्रोटोकॉल का वर्णन कैसे राल एम्बेडेड मस्तिष्क के ऊतकों और तैयार किया जा सकता है ध्यान केंद्रित आयन बीम में तीन आयामों में imaged, स्कैनिंग इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोप.

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