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Ion Beam concentrato di fresatura e Microscopia Elettronica a Scansione di tessuto cerebrale

DOI :

10.3791/2588-v

8:57 min

July 6th, 2011

July 6th, 2011

27,509 Views

1Centre of interdisciplinary electron microscopy, École Polytechnique Fédérale de Lausanne

Questo protocollo descrive come il tessuto cerebrale resina incorporati possono essere preparati e ripreso nelle tre dimensioni del fascio di ioni focalizzato, microscopio elettronico a scansione.

Tags

Neuroscienze

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