JoVE Logo
Faculty Resource Center

Sign In

Nanotopology van Celadhesie op variabele-Angle Total Internal Reflection fluorescentie microscopie (VA-TIRFM)

DOI :

10.3791/4133-v

October 2nd, 2012

October 2nd, 2012

10,017 Views

1Hochschule Aalen, Institut für Angewandte Forschung

Topologie van celhechting op een substraat wordt gemeten met nanometer precisie door variabele hoek totale interne reflectie fluorescentiemicroscopie (VA-TIRFM).

Tags

Bioengineering

-- Views

Related Videos

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. All rights reserved