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Nanotopology dell'adesione cellulare su angolo di inclinazione variabile Microscopia Total Internal Reflection Fluorescence (VA-TIRFM)

DOI :

10.3791/4133-v

October 2nd, 2012

October 2nd, 2012

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1Hochschule Aalen, Institut für Angewandte Forschung

Topologia di adesione cellulare su un substrato viene misurata con precisione nanometrica variabile-angolo microscopia a fluorescenza di riflessione interna totale (VA-TIRFM).

Tags

Bioingegneria

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