JoVE Logo
Faculty Resource Center

Sign In

Nanotopology av celleadhesjon på Variable-Angle Total Internal Reflection fluorescensmikroskopi (VA-TIRFM)

DOI :

10.3791/4133-v

October 2nd, 2012

October 2nd, 2012

10,017 Views

1Hochschule Aalen, Institut für Angewandte Forschung

Topologien av celleadhesjon på et substrat måles med nanometer presisjon av variabel vinkel total intern refleksjon fluorescens mikroskopi (VA-TIRFM).

Tags

Bioteknologi

-- Views

Related Videos

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. All rights reserved