JoVE Logo
Faculty Resource Center

Sign In

Değişken Açılı Toplam İç Yansıma Floresan Mikroskopi (VA-TIRFM) üzerine Hücre yapışma Nanotopology

DOI :

10.3791/4133-v

October 2nd, 2012

October 2nd, 2012

10,017 Views

1Hochschule Aalen, Institut für Angewandte Forschung

Bir substrat üzerindeki hücre adezyon Topolojisi değişken açılı toplam iç yansıma floresan mikroskobu (VA-TIRFM) tarafından nanometre hassasiyetle ölçülür.

Tags

Biyom hendislik

-- Views

Related Videos

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. All rights reserved