October 9th, 2012
•המטרה הכללית של שיטה זו היא לקבוע את המבנה האלקטרוני האנרגיה נמוכה של מוצקים בטמפרטורות נמוכות במיוחד באמצעות ספקטרוסקופיה Photoemission angle-resolved עם קרינת סינכרוטרון.
ABOUT JoVE
Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. All rights reserved