JoVE Logo
Faculty Resource Center

Sign In

Фотоэмиссии с угловым разрешением спектроскопии при сверхнизких температурах

DOI :

10.3791/50129-v

October 9th, 2012

October 9th, 2012

17,332 Views

1Institute for Solid State Research, IFW-Dresden, 2Institute of Metal Physics of National Academy of Sciences of Ukraine, 3Diamond Light Source LTD, 4Department of Physics, University of Johannesburg, 5CNR-SPIN, and Dipartimento di Fisica "E. R. Caianiello", Università di Salerno, 6Institute of Physics of Complex Matter, École Polytechnique Fédérale de Lausanne

Основная цель этого метода состоит в определении низких энергий электронной структуры твердых тел при сверхнизких температурах с помощью фотоэмиссии с угловым разрешением спектроскопии с синхротронного излучения.

Tags

68

-- Views

Related Videos

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. All rights reserved