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सतहों के पास उच्च गति कण छवि velocimetry

DOI :

10.3791/50559-v

11:59 min

June 24th, 2013

June 24th, 2013

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1Department of Mechanical Engineering, University of Michigan

उच्च संकल्प, उच्च गति कण छवि velocimetry (PIV) का उपयोग कर सीमाओं के पास क्षणिक प्रवाह का अध्ययन करने के लिए एक प्रक्रिया यहाँ वर्णित है. PIV ऐसी छवि और रिकॉर्डिंग गुण, लेजर चादर गुण, और विश्लेषण एल्गोरिदम के रूप में कई पैरामीटर बाधाओं के अनुकूलन के द्वारा किसी भी ऑप्टिकली सुलभ प्रवाह को लागू एक गैर दखल देने माप तकनीक है.

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