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Implementierung eines Referenz-Interferometer für Nanodetection

DOI :

10.3791/51133-v

April 26th, 2014

April 26th, 2014

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1Department of Electrical and Computer Engineering, University of Victoria

Eine Referenz-Interferometer-Technik, die ausgelegt ist, um unerwünschte Laser Jitterrauschen für nanodetection entfernen, wird für die Sondierung eine ultra-hohe Güte Microcavity genutzt. Anleitungen für die Montage, Einrichtung und Datenerfassung vorgesehen, neben der Messung für die Angabe der Hohlraum Qualitätsfaktor.

Tags

Physik

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