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Realizzazione di un interferometro di riferimento per Nanodetection

DOI :

10.3791/51133-v

April 26th, 2014

April 26th, 2014

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1Department of Electrical and Computer Engineering, University of Victoria

Una tecnica interferometro di riferimento, che è progettato per rimuovere rumore indesiderabile jitter laser per nanodetection, è utilizzata per sondare un fattore microcavità ultra-alta qualità. Istruzioni per l'assemblaggio, l'installazione e l'acquisizione dei dati sono forniti, accanto al processo di misurazione per specificare il fattore di qualità della cavità.

Tags

Fisica

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