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DOI :
10.3791/51133-v
April 26th, 2014
Chapters
0:00
Title
1:36
Reference Interferometer Construction
3:01
Free Spectral Range Measurement
3:57
Fiber Pulling
6:46
Preparation and Delivery of Solutions
12:43
System Configuration and Interconnections
14:06
Nanoparticle Detection
14:45
Post-processing of Data
15:32
Conclusion
nanodetectionにとって望ましくないレーザジッタノイズを除去するように設計された基準干渉計技術は、超高品質係数マイクロキャビティをプロービングするために利用される。アセンブリ、セットアップ、およびデータ取得のための命令は、キャビティ品質係数を特定するための測定処理と並んで設けられている。
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