JoVE Logo
Faculty Resource Center

Sign In

Nanodetection için bir referans Interferometer Uygulanması

DOI :

10.3791/51133-v

April 26th, 2014

April 26th, 2014

9,156 Views

1Department of Electrical and Computer Engineering, University of Victoria

Nanodetection için istenmeyen lazer seğirme gürültü çıkarmak için tasarlanmış bir referans interferometresi tekniği, ultra-yüksek kalite faktörü microcavity tarama için kullanılır. Montajı, kurulumu ve veri toplama için Talimatları kavite kalite faktörünü belirlemek için ölçüm işlemi yanında, sağlanmaktadır.

Tags

Fizik

-- Views

Related Videos

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. All rights reserved