JoVE Logo
Faculty Resource Center

Sign In

In situ SIMS og IR spektroskopi av godt definerte overflater som er Soft Landing av Mass-utvalgte ioner

DOI :

10.3791/51344-v

June 16th, 2014

June 16th, 2014

17,768 Views

1Physical Sciences Division, Pacific Northwest National Laboratory

Myk landing av masse-valgte ioner mot flatene er en kraftig metode for høyt styrt fremstilling av nye materialer. Sammen med analyse ved in situ sekundær ion massespektrometri (SIMS) og infrarød refleksjon absorpsjon spektroskopi (IRRAS), gir myk landing enestående innsikt i samspillet av veldefinerte arter med overflater.

Tags

Kjemi

-- Views

Related Videos

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. All rights reserved