JoVE Logo
Faculty Resource Center

Sign In

Cryo-elektron microscopie Specimen Voorbereiding door middel van een Focused Ion Beam

DOI :

10.3791/51463-v

10:54 min

July 26th, 2014

July 26th, 2014

26,004 Views

1Department of Engineering Sciences, Uppsala University, 2Gatan Inc., 3Department of Microbiology, Swedish University of Agricultural Sciences, 4Physics Department, University of Oslo

Cryo elektronenmicroscopen, ofwel Scanning (SEM) of Transmission (TEM), worden op grote schaal gebruikt voor de karakterisering van biologische monsters of andere materialen met een hoog watergehalte 1. Een SEM / focused ion beam (FIB) wordt gebruikt om kenmerken van belang in monsters identificeren en extract een dun, elektron-transparante lamellen overbrenging op een cryo-TEM.

Tags

Biotechniek

-- Views

Related Videos

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. All rights reserved