JoVE Logo
Faculty Resource Center

Sign In

Cryo-אלקטרון מתכוון בהכנה מיקרוסקופית דגימה של אלומת יונים ממוקדת

DOI :

10.3791/51463-v

10:54 min

July 26th, 2014

July 26th, 2014

26,004 Views

1Department of Engineering Sciences, Uppsala University, 2Gatan Inc., 3Department of Microbiology, Swedish University of Agricultural Sciences, 4Physics Department, University of Oslo

Cryo אלקטרונים מיקרוסקופים, או סורק (SEM) או הילוכים (TEM), נמצא בשימוש נרחב לאפיון של דגימות ביולוגיות או חומרים אחרים עם תכולת מים גבוהה 1. SEM / אלומת יונים ממוקדת (FIB) משמשת לזיהוי תכונות של עניין בדגימות ולחלץ lamella להעברה לcryo-TEM דק, אלקטרונים שקופים.

Tags

89

-- Views

Related Videos

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. All rights reserved