JoVE Logo
Faculty Resource Center

Sign In

Крио-электронной микроскопии Изготовление образцов с помощью электронного луча, сфокусированного

DOI :

10.3791/51463-v

10:54 min

July 26th, 2014

July 26th, 2014

26,004 Views

1Department of Engineering Sciences, Uppsala University, 2Gatan Inc., 3Department of Microbiology, Swedish University of Agricultural Sciences, 4Physics Department, University of Oslo

Крио электронные микроскопы, либо сканирования (СЭМ) или передачи (ПЭМ), которые широко используются для характеристики биологических образцов или других материалов с высоким содержанием воды 1. SEM / электронного луча, сфокусированного (FIB) используется для идентификации особенности интерес в пробах и извлечь тонкую, электронно-прозрачным ламель для перевода к крио-TEM.

Tags

89

-- Views

Related Videos

JoVE Logo

Privacy

Terms of Use

Policies

Research

Education

ABOUT JoVE

Copyright © 2024 MyJoVE Corporation. All rights reserved