बहु पैमाने तीन आयामी शास्त्रीय पैकेज जांच सिंक्रोट्रॉन विकिरण का प्रयोग Microtomography
April 13th, 2016
•Holly D. Carlton1, John W. Elmer1, Yan Li2, Mario Pacheco2, Deepak Goyal2, Dilworth Y. Parkinson3, Alastair A. MacDowell3
1Materials Engineering Division, Lawrence Livermore National Laboratory, 2Assembly Test and Technology Development Failure Analysis Labs, Intel Corporation, 3Advanced Light Source, Lawrence Berkeley National Laboratory
इस अध्ययन सिंक्रोटॉन विकिरण सूक्ष्म टोमोग्राफी, एक गैर विनाशकारी तीन आयामी इमेजिंग तकनीक के लिए, 16 x 16 मिमी की एक पार के अनुभागीय क्षेत्र के साथ एक संपूर्ण पैकेज शास्त्रीय जांच करने के लिए कार्यरत है। विकिरण के उच्च प्रवाह और चमक के कारण नमूना एक 8.7 माइक्रोन स्थानिक संकल्प के साथ सिर्फ 3 मिनट में imaged किया गया था।
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