Name: fabrication and characterization of superconducting resonators
Uploaded: 2016-05-21T14:00:00
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लेखकों नेशनल एयरोनॉटिक्स एंड स्पेस एडमिनिस्ट्रेशन (नासा) के गुलाब के फूल और APRA कार्यक्रमों से वित्तीय सहायता स्वीकार करते हैं। जीसी भी नासा में उनकी नियुक्ति के प्रशासन के लिए विश्वविद्यालयों स्पेस रिसर्च एसोसिएशन मानता है।

1. microstrip लाइन गुंजयमान यंत्र निर्माण 14 (चित्रा 3) <ol><li> एक सिलिकॉन पर इन्सुलेटर (एसओआई) मे, जो एक 0.45 माइक्रोन मोटी सिलिकॉन डिवाइस परत है साफ, हौसले से मिश्रित एच 2 अतः 4 के साथ: एच 2 ओ 2 (3: 1) 10 मिनट क?...

<ol>
	<li>Monfardini, A., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=The+N&#233;el+IRAM+KID+Arrays+(NIKA).">The N&#233;el IRAM KID Arrays (NIKA).</a> J. Low Temp. Phys. 167 (5-6), 834-839 (2012).</li><li>Schlaerth, J. A., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=The+Status+of+Music:+A+Multicolor+Sub/millimeter+MKID+Instrument.">The Status of Music: A Multicolor Sub/millimeter MKID Instrument.</a> J. Low Temp. Phys. 167 (3-4), 347-353 (2012).</li><li>Swenson, L. J., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=MAKO:+a+pathfinder+instrument+for+on-sky+demonstration+of+low-cost+350+micron+imaging+arrays.">MAKO: a pathfinder instrument for on-sky demonstration of low-cost 350 micron imaging arrays.</a> Proc. SPIE. 8452, 84520P (2012).</li><li>Mazin, B. A., Bumble, B., Meeker, S. R., O'Brien, K., McHugh, S., Langman, E. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=A+superconducting+focal+plane+array+for+ultraviolet,+optical,+and+near-infrared+astrophysics.">A superconducting focal plane array for ultraviolet, optical, and near-infrared astrophysics.</a> Opt. Express. 20 (2), 1503-1511 (2012).</li><li>Mazin, B. A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=.">.</a> Microwave Kinetic Inductance Detectors. , (2005).</li><li>McHugh, S., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=A+readout+for+large+arrays+of+Microwave+Kinetic+Inductance+Detectors.">A readout for large arrays of Microwave Kinetic Inductance Detectors.</a> Rev. Sci. Instrum. 83 (4), 044702 (2012).</li><li>Mazin, B. A., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=ARCONS:+A+2024+Pixel+Optical+through+Near-IR+Cryogenic+Imaging+Spectrophotometer.">ARCONS: A 2024 Pixel Optical through Near-IR Cryogenic Imaging Spectrophotometer.</a> Publ. Astron. Soc. Pac. 123 (933), 1348-1361 (2013).</li><li>Zmuidzinas, J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Superconducting+Microresonators:+Physics+and+Applications.">Superconducting Microresonators: Physics and Applications.</a> Annu. Rev. Condens. Matter Phys. 3, 169-214 (2012).</li><li>Vijay, R., Slichter, D. H., Siddiqi, I. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Observation+of+Quantum+Jumps+in+a+Superconducting.">Observation of Quantum Jumps in a Superconducting.</a> Artificial Atom. Phys. Rev. Lett. 106 (11), 110502 (2011).</li><li>Krupka, J., Derzakowski, K., Tobar, M., Hartnett, J., Geyer, R. G. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Complex+permittivity+of+some+ultralow+loss+dielectric+crystals+at+cryogenic+temperatures.">Complex permittivity of some ultralow loss dielectric crystals at cryogenic temperatures.</a> Meas. Sci. Technology. 10 (5), 387-392 (1999).</li><li>Cataldo, G., Wollack, E. J., Barrentine, E. M., Brown, A. D., Moseley, S. H., U-Yen, K. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Analysis+and+calibration+techniques+for+superconducting+resonators.">Analysis and calibration techniques for superconducting resonators.</a> Rev. Sci. Instrum. 86 (1), 013103 (2015).</li><li>Russell, D., Cleary, K., Reeves, R. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Cryogenic+probe+station+for+on-wafer+characterization+of+electrical+devices.">Cryogenic probe station for on-wafer characterization of electrical devices.</a> Rev. Sci. Instrum. 83 (4), 044703 (2012).</li><li>Ranzani, L., Spietz, L., Popovic, Z., Aumentado, J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Two-port+microwave+calibration+at+millikelvin+temperatures.">Two-port microwave calibration at millikelvin temperatures.</a> Rev. Sci. Instrum. 84 (3), 034704 (2013).</li><li>Patel, A., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Fabrication+of+MKIDS+for+the+MicroSpec+Spectrometer.">Fabrication of MKIDS for the MicroSpec Spectrometer.</a> IEEE Trans. Appl. Supercond. 23 (3), 2400404 (2013).</li><li>Brown, A., Patel, A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=High-Precision+Thin+Film+Metal+Liftoff+Technique.">High-Precision Thin Film Metal Liftoff Technique.</a> , (2015).</li><li>Laermer, F., Schlip, A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Method+of+anisotropically+etching+silicon.">Method of anisotropically etching silicon.</a> , (1996).</li><li>Chen, D., Wang, Q., Shen, Z. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=A+broadband+microstrip-to-CPW+transition.">A broadband microstrip-to-CPW transition.</a> APMC 2005. Asian-Pac. Conf. Proc. 2 (4), (2005).</li><li>Fano, U. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Sullo+spettro+di+assorbimento+dei+gas+nobili+presso+il+limite+dello+spettro+d'arco.">Sullo spettro di assorbimento dei gas nobili presso il limite dello spettro d'arco.</a> Il Nuovo Cimento. 12 (3), 154-161 (1935).</li><li>Fano, U. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Effects+of+Configuration+Interaction+on+Intensities+and+Phase+Shifts.">Effects of Configuration Interaction on Intensities and Phase Shifts.</a> Phys. Rev. 124 (6), 1866-1878 (1961).</li><li>Marquezini, M. V., Kner, P., Bar-Ad, S., Tignon, J., Chemla, D. S. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Density+dependence+of+the+spectral+dielectric+function+across+a+Fano+resonance.">Density dependence of the spectral dielectric function across a Fano resonance.</a> Phys. Rev. B. 57 (7), 3745-3748 (1998).</li><li>Singh, R., Al-Naib, I., Cao, W., Rockstuhl, C., Koch, M., Zhang, W. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=The+Fano+Resonance+in+Symmetry+Broken+Terahertz+Metamaterials.">The Fano Resonance in Symmetry Broken Terahertz Metamaterials.</a> IEEE Trans. Terahertz Sci. Technol. 3 (6), 820-826 (2013).</li><li>Giannini, V., Francescano, Y., Amrania, H., Phillips, C. C., Maier, S. A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Fano+Resonances+in+Nanoscale+Plasmonic+Systems:+A+Parameter-Free+Modeling+Approach.">Fano Resonances in Nanoscale Plasmonic Systems: A Parameter-Free Modeling Approach.</a> Nano Lett. 11 (7), 2835-2840 (2011).</li><li>O'Connell, A. D., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Microwave+Dielectric+Loss+at+Single+Photon+Energies+and+Millikelvin+Temperatures.">Microwave Dielectric Loss at Single Photon Energies and Millikelvin Temperatures.</a> Appl. Phys. Lett. 92 (11), 112903 (2008).</li><li>Weber, S. J., Murch, K. W., Slichter, D. H., Vijay, R., Siddiqi, I. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Single+Crystal+Silicon+Capacitor+with+Low+Microwave+Loss+in+the+Single+Photon+Regime.">Single Crystal Silicon Capacitor with Low Microwave Loss in the Single Photon Regime.</a> Appl. Phys. Lett. 98 (17), 172510 (2011).</li><li>Cataldo, G., Hsieh, W. T., Huang, W. C., Moseley, S. H., Stevenson, T. R., Wollack, E. J. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Micro-Spec:+an+ultracompact,+high-sensitivity+spectrometer+for+far-infrared+and+submillimeter+astronomy.">Micro-Spec: an ultracompact, high-sensitivity spectrometer for far-infrared and submillimeter astronomy.</a> Appl. Opt. 53 (6), 1094-1102 (2014).</li></ol>

एकल फ्लिप निर्माण की प्रक्रिया एक पतली 0.45 माइक्रोन एकल क्रिस्टल सी सब्सट्रेट के दोनों किनारों पर अतिचालक resonators को साकार करने के लिए एक साधन प्रदान करता है। एक है क्योंकि यह जमा dielectrics 4.0-6.5 गीगा रेंज &lt;1 एक्स 10 ?...

एस्ट्रोफिजिकल इंस्ट्रूमेंटेशन के क्षेत्र में अग्रिम हाल ही में अवरक्त प्रकाश का पता लगाने के लिए अतिचालक माइक्रोवेव resonators पेश किया है 1 -। 4 एक अतिचालक गुंजयमान ऊर्जा ई की अवरक्त विकिरण का जवाब देंगे = एचवी&gt; 2Δ (Δ है जहाँ ज प्लैंक स्थिरांक, वी विकिरण आवृत्ति है और अतिचालक खाई ऊर्जा)। गुंजयमान यंत्र अच्छी तरह superconductor महत्वपूर्ण तापमान से नीचे के तापमान को ठंडा किया जाता है, इस घटना विकिरण गुंजयमान मात्रा में कूपर जोड़े टूट जाता है और quasiparticle excitations उत्पन्न करता है। quasiparticle excitations के घनत्व में वृद्धि superconductor के जटिल सतह प्रतिबाधा गतिज अधिष्ठापन बदलता है, और इस तरह। इस ऑप्टिकल प्रतिक्रिया कम आवृत्ति को अनुनाद आवृत्ति में एक पारी और गुंजयमान यंत्र की गुणवत्ता कारक में कमी के रूप में मनाया जाता है। एक माइक्रोवेव गायो के लिए विहित पढ़ने के लिए बाहर योजना मेंटिक अधिष्ठापन डिटेक्टर (MKID), गुंजयमान यंत्र एक माइक्रोवेव feedline के लिए युग्मित है और एक प्रतिध्वनि पर एक भी माइक्रोवेव आवृत्ति स्वर में इस feedline के माध्यम से जटिल संचरण नजर रखता है। इधर, ऑप्टिकल प्रतिक्रिया दोनों आयाम और ट्रांसमिशन 5 (चित्रा 1) के चरण में एक परिवर्तन के रूप में मनाया जाता है। आवृत्ति डोमेन बहुसंकेतन योजनाओं resonators के हजारों की सरणियों बाहर पढ़ने में सक्षम हैं। 6-7 सफलतापूर्वक डिजाइन और अतिचालक-गुंजयमान यंत्र आधारित इंस्ट्रूमेंटेशन को लागू करने के लिए, इन गुंजयमान संरचनाओं के गुणों को सही ढंग से और कुशलता होती जा करने की जरूरत है। उदाहरण के लिए, शोर संपत्तियों की सटीक माप, गुणवत्ता Q, प्रतिध्वनि आवृत्तियों (उनके तापमान निर्भरता सहित) और अतिचालक resonators की ऑप्टिकल प्रतिक्रिया गुण कारकों MKID उपकरण भौतिकी, 8 क्वांटम कंप्यूटिंग, 9 के संदर्भ और कम के निर्धारण में वांछित हैं तेmperature सामग्री गुण। 10 इन सभी मामलों में, सर्किट की जटिल संचरण बिखरने मापदंडों के माप वांछित है। यह काम करते हैं, गुंजयमान यंत्र की जटिल संचरण गुणांक के निर्धारण पर केंद्रित 21, जिसका आयाम और चरण एक वेक्टर नेटवर्क विश्लेषक (VNA) के साथ मापा जा सकता है। आदर्श रूप में, VNA संदर्भ विमान (या परीक्षण बंदरगाह) सीधे परीक्षण (DUT) के तहत डिवाइस से जुड़ा होगा, लेकिन एक क्रायोजेनिक सेटिंग सामान्य रूप से आर टी के बीच एक थर्मल तोड़ (~ 300 कश्मीर) का एहसास करने के लिए अतिरिक्त संचरण लाइन संरचनाओं के उपयोग की आवश्यकता है और ठंड चरण (इस काम में ~ 0.3 कश्मीर अंजीर ure 2 देखें)। ऐसे दिशात्मक कप्लर्स, circulators, isolators, एम्पलीफायरों, attenuators, और संबंधित परस्पर केबलों के रूप में अतिरिक्त माइक्रोवेव घटकों उचित रूप से तैयार करते हैं, उत्तेजित, ब्याज की युक्ति बाहर पढ़ सकते हैं और पूर्वाग्रह की जरूरत हो सकती है।चरण वेग और इन घटकों के आयाम भिन्न हो जब क्रायोजेनिक तापमान के कमरे से ठंडा है, और इसलिए वे इस उपकरण अंशांकन विमान में मनाया प्रतिक्रिया प्रभावित करते हैं। साधन और डिवाइस अंशांकन विमान प्रभाव जटिल लाभ और बीच ये बीच के घटकों को उचित मापा प्रतिक्रिया की व्याख्या के लिए जिम्मेदार होने की जरूरत है। 11 सिद्धांत रूप में, एक योजना की जरूरत है कि माप संदर्भ विमान, अंशांकन के दौरान कार्यरत एक, DUT पर करने के लिए समान सेट। इस लक्ष्य तक पहुंचने के लिए, एक कई शांत-चढ़ाव के ऊपर अंशांकन मानकों उपाय कर सकता है; हालांकि, इस VNA की स्थिरता और क्रायोजेनिक साधन के repeatability पर बाधाओं, जो प्राप्त करने के लिए मुश्किल हो जाता है बन गया है। इन चिंताओं को कम करने के लिए, एक ठंडा परीक्षण वातावरण में आवश्यक मानकों जगह है और उन दोनों के बीच स्विच कर सकता। यह उदाहरण के लिए इसी तरह के लिए है, क्या माइक्रोवेव जांच स्टेशनों में पाया जाता है, जहां नमूना और अंशांकन मानकों को एक सतत प्रवाह तरल हीलियम या एक बंद चक्र प्रशीतन प्रणाली द्वारा 4 कश्मीर को ठंडा कर रहे हैं। 12 इस विधि उप केल्विन तापमान पर प्रदर्शन किया गया था, लेकिन एक कम शक्ति, उच्च प्रदर्शन माइक्रोवेव स्विच की आवश्यकता है परीक्षण के हित के बैंड। 13 एक में सीटू अंशांकन प्रक्रिया इसलिए वांछित जो VNA संदर्भ विमान और डिवाइस अंशांकन विमान (छवि Ure 2) और जो ऊपर वर्णित विधि की सीमाओं पर काबू के बीच महत्वपूर्ण भूमिका निभाई संचरण प्रतिक्रिया के लिए खातों है। यह क्रायोजेनिक अंशांकन विधि, प्रस्तुत किया है और Cataldo एट अल। 11 में विस्तार से चर्चा की, एक एक आवृत्ति रेंज पर कई resonators को चिह्नित करने के लिए विस्तृत गुंजयमान लाइन चौड़ाई और ~ 1% की सटीकता के साथ अंतर-गुंजयमान रिक्ति की तुलना में अनुमति देता है। इस पत्र नमूना निर्माण और प्रस्तुत करने के विवरण पर ध्यान दिया जाएगाaration प्रक्रियाओं, प्रायोगिक परीक्षण सेट-अप और माप प्रक्रियाओं तलीय लाइन geometries के साथ अतिचालक माइक्रोवेव resonators को चिह्नित करने के लिए इस्तेमाल किया। 11

<table border="0" cellpadding="0" cellspacing="0" width="715">
	<tbody>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Microposit S-1811 Photoresist</td>
			<td style="width:111px;">Shipley</td>
			<td style="width:187px;"></td>
			<td style="width:201px;"></td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">BCB</td>
			<td style="width:111px;">Dow</td>
			<td style="width:187px;"></td>
			<td style="width:201px;">3022-35</td>
		</tr>
		<tr height="45">
			<td height="45" style="height:45px;width:216px;">SOI wafers</td>
			<td style="width:111px;">SOITec</td>
			<td style="width:187px;"></td>
			<td style="width:201px;">Fabricated with SmartCutTM process</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Mo</td>
			<td style="width:111px;">Kamis</td>
			<td style="width:187px;"></td>
			<td style="width:201px;">99.99%</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Nb</td>
			<td style="width:111px;">Kamis</td>
			<td style="width:187px;"></td>
			<td style="width:201px;">99.95% (excludes Ta)</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">E-6 metal etch w/AES</td>
			<td style="width:111px;">Fujifilm</td>
			<td style="width:187px;"></td>
			<td style="width:201px;">CPG Grade</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Acetone</td>
			<td style="width:111px;">JT Baker</td>
			<td style="width:187px;">9005-05</td>
			<td style="width:201px;">CMOS Grade</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">HF dip (1:10)</td>
			<td style="width:111px;">JT Baker</td>
			<td style="width:187px;">5397-03</td>
			<td style="width:201px;"></td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">PMMA</td>
			<td style="width:111px;">Microchem</td>
			<td style="width:187px;"></td>
			<td style="width:201px;">950 PMMA A2</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">GE 7031</td>
			<td style="width:111px;">General Electric</td>
			<td style="width:187px;"></td>
			<td style="width:201px;">Low-temperature adhesive</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Cryogenic Microwave Amplifier</td>
			<td style="width:111px;">MITEQ</td>
			<td>AF S3-02000400-08-CR-4</td>
			<td style="width:201px;">2-4 GHz, gain ~30dB</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">NbTi Semi-rigid SMA cables</td>
			<td style="width:111px;">Coax. Co.</td>
			<td style="width:187px;">SC-086/50-NbTi-NbTi</td>
			<td style="width:201px;"></td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:216px;">Circulator</td>
			<td>PamTech</td>
			<td>CTD1229K</td>
			<td style="width:201px;">return loss &#62; -20 dB from 2-4 GHz</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">RF attenuator</td>
			<td>Weinschel</td>
			<td>Model-4M</td>
			<td style="width:201px;">7 dB attenuation</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Flexible SMA cables</td>
			<td style="width:111px;">Teledyne-Storm</td>
			<td>R94-240</td>
			<td style="width:201px;">ACCU-TEST</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Vector Network Analyzer</td>
			<td style="width:111px;">Agilent</td>
			<td>N5242A PNA-X</td>
			<td style="width:201px;"></td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Liquid He-4 cryogen</td>
			<td>Praxair&#160;</td>
			<td style="width:187px;"></td>
			<td style="width:201px;"></td>
		</tr>
		<tr height="25">
			<td height="25" style="height:25px;width:216px;">Liquid N2 cryogen</td>
			<td style="width:111px;">Praxair&#160;</td>
			<td style="width:187px;"></td>
			<td style="width:201px;"></td>
		</tr>
	</tbody>
</table>

fabrication and characterization of superconducting resonators

अतिचालक माइक्रोवेव resonators क्वांटम कंप्यूटिंग अनुप्रयोगों और सामग्री लक्षण वर्णन बेहोश एस्ट्रोफिजिकल हस्ताक्षर का पता लगाने के लिए माइक्रोवेव गतिज अधिष्ठापन डिटेक्टरों (MKIDs) के रूप में उनके उपयोग के लिए सहित, साथ ही साथ के लिए आवेदनों की एक विस्तृत श्रृंखला के लिए ब्याज की हैं। इस पत्र में, प्रक्रियाओं निर्माण और पतली फिल्म अतिचालक माइक्रोवेव resonators के लक्षण वर्णन के लिए प्रस्तुत कर रहे हैं। निर्माण कार्यप्रणाली एक atomically चिकनी एकल क्रिस्टल सिलिकॉन अचालक के दोनों किनारों पर सुविधाओं के साथ संचरण लाइन resonators superconducting की प्राप्ति के लिए अनुमति देता है। यह काम एक क्रायोजेनिक माइक्रोवेव testbed में और अतिचालक संक्रमण तापमान नीचे शांत डाउन के लिए गुंजयमान यंत्र उपकरणों की स्थापना के लिए प्रक्रिया का वर्णन करता है। क्रायोजेनिक माइक्रोवेव testbed के सेट-अप जनसंपर्क की निकासी के लिए सक्षम करने, एक इन गुंजयमान यंत्र उपकरणों की जटिल माइक्रोवेव संचरण से सावधान माप करने की अनुमति देताsuperconducting लाइनों और अचालक सब्सट्रेट (जैसे, आंतरिक गुणवत्ता कारकों, हानि और गतिज अधिष्ठापन अंशों) है, जो डिवाइस डिजाइन और प्रदर्शन के लिए महत्वपूर्ण हैं operties।

एक आधे लहर मो 2 एन गुंजयमान यंत्र (चित्रा 5) एक 0.45 माइक्रोन एकल क्रिस्टल सिलिकॉन अचालक पर गढ़े की प्रतिक्रिया इस पद्धति के साथ मान्य किया गया था। इस उदाहरण में, एक नायब समतलीय waveguide के ?...

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Fabrication and Characterization of Superconducting Resonators

अतिचालक माइक्रोवेव resonators प्रकाश, क्वांटम कम्प्यूटिंग अनुप्रयोगों और सामग्री लक्षण का पता लगाने के लिए ब्याज की हैं। इस काम के निर्माण और अतिचालक माइक्रोवेव गुंजयमान बिखरने मापदंडों के लक्षण वर्णन के लिए एक विस्तृत प्रक्रिया प्रस्तुत करता है।

निर्माण और अतिचालक resonators की विशेषता

Superconducting microwave resonators are of interest for a wide range of applications, including for their use as microwave kinetic inductance detectors ...

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Fabrication and Characterization of Disordered Polymer Optical Fibers for Transverse Anderson Localization of Light

लाइट की अनुप्रस्थ एंडरसन स्थानीयकरण के लिए बेक़ायदा पॉलिमर ऑप्टिकल फाइबर के निर्माण और विशेषता

We develop and characterize a disordered polymer optical fiber that uses transverse Anderson localization as a novel waveguiding mechanism. The developed ...

Fabrication and Testing of Microfluidic Optomechanical Oscillators

निर्माण और microfluidic optomechanical oscillators के परीक्षण

Cavity optomechanics experiments that parametrically couple the phonon modes and photon modes have been investigated in various optical systems including ...

Patterning via Optical Saturable Transitions - Fabrication and Characterization

ऑप्टिकल saturable संक्रमण के माध्यम से patterning - निर्माण और विशेषता

This protocol describes the fabrication and characterization of nanostructures using a novel nanolithographic technique called Patterning via Optical ...

Ohmic Contact Fabrication Using a Focused-ion Beam Technique and Electrical Characterization for Layer Semiconductor Nanostructures

Ohmic संपर्क निर्माण एक केंद्रित आयन बीम तकनीक और बिजली के लक्षण वर्णन लेयर सेमीकंडक्टर Nanostructures के लिए उपयोग करना

Layer semiconductors with easily processed two-dimensional (2D) structures exhibit indirect-to-direct bandgap transitions and superior transistor ...

Printing Fabrication of Bulk Heterojunction Solar Cells and In Situ Morphology Characterization

Printing Fabrication of Bulk Heterojunction Solar Cells and In Situ Morphology Characterization

थोक Heterojunction सौर कोशिकाओं के निर्माण और मुद्रण<em&gt; बगल में</em&gt; आकृति विज्ञान विशेषता

Polymer-based materials hold promise as low-cost, flexible efficient photovoltaic devices. Most laboratory efforts to achieve high performance devices ...

Stimulated Stokes and Antistokes Raman Scattering in Microspherical Whispering Gallery Mode Resonators

प्रेरित स्टोक्स और Microspherical फुसफुसा गैलरी मोड resonators में Antistokes रमन प्रकीर्णन

Dielectric microspheres can confine light and sound for a length of time through high quality factor whispering gallery modes (WGM). Glass microspheres ...