החלת רנטגן הדמיה קריסטל ספקטרוסקופיה לשימוש כמו טמפרטורה גבוהה אבחון פלזמה

DOI :

10.3791/54408-v

•

August 25th, 2016

•

11,124 Views

Norman M. Cao¹, Andrés M. Mier Valdivia², John E. Rice³

¹Department of Nuclear Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, ²Department of Physics, Massachusetts Institute of Technology, ³Plasma Science and Fusion Center, Massachusetts Institute of Technology

Chapters

ספקטרום ה- X מספק שפע של מידע על פלזמות בטמפרטורה גבוהות. כתב יד זה מציג את הפעולה של החלטה גל גבוהה הדמיה מרחבית ספקטרומטר קרני רנטגן המשמש להצגה מימן והליום דמוי יונים של אלמנטים מספר אטומי בינוני פלזמה tokamak.