एक उच्च तापमान प्लाज्मा निदान के रूप में उपयोग के लिए आवेदन एक्स-रे इमेजिंग क्रिस्टल स्पेक्ट्रोस्कोपी

DOI :

10.3791/54408-v

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August 25th, 2016

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Norman M. Cao¹, Andrés M. Mier Valdivia², John E. Rice³

¹Department of Nuclear Science and Engineering, Massachusetts Institute of Technology, ²Department of Physics, Massachusetts Institute of Technology, ³Plasma Science and Fusion Center, Massachusetts Institute of Technology

Chapters

एक्स-रे स्पेक्ट्रा उच्च तापमान plasmas पर जानकारी का खजाना प्रदान करते हैं। यह पांडुलिपि स्थानिक इमेजिंग एक्स-रे एक टोकामक प्लाज्मा में मध्यम परमाणु संख्या तत्वों का हाइड्रोजन और हीलियम की तरह आयनों देखने के लिए इस्तेमाल स्पेक्ट्रोमीटर एक उच्च तरंगदैर्ध्य संकल्प के संचालन को प्रस्तुत करता है।