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DOI :
10.3791/55735-v
•
7:15 min
June 2nd, 2017
Chapters
0:05
Title
6:50
Conclusion
5:52
Results: In Situ Electromechanical Characterization of a Single-crystal Copper Specimen
0:45
Microfabrication of Silicon Frames
2:13
Laser Patterning of Metal Copper Specimens
3:38
Microdevice-based Electromechanical Testing Systems (MEMTS) Assembly
4:38
In Situ Transmission Electron Microscopy (TEM) Experiments
巨視的サンプルを使用すると電気的および熱的効果を電気的に補助された変形(EAD)に分離することは非常に困難である。ジュール加熱なしでの形成に及ぼす印加電流の影響およびこれらの試料上の転位の進化を評価するために、カスタム試験手順とともに金属サンプルのマイクロおよびナノ構造が開発されている。
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